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Ambito metallurgico di misurazione multifunzionale, APO
Ambito metallurgico di misurazione multifunzionale, APO

Ambito metallurgico di misurazione multifunzionale, APO

quantità:

A13.1108 Microscopio multifunzionale per misurazione metallurgica
Testa
Testa trinoculare senza compensazione, angelo inclinato e regolabile a 0-45°, distanza interpupillare 50-75 mm
Oculare
WF10X/25mm
Oculare a reticolo WF10X/20 mm, mirino con scala: 0,1 mm
Piano Infinity a lunga distanza di lavoroApo-acromaticoObiettivo metallurgico
LWD Plan Apo 5X/0,15 WD: 44 mm
LWD Plan Apo 10X/0,28 WD: 34 mm
LWD Plan Apo 20X/0,4 WD: 30 mm
LWD Plan Apo 50X/0,55 WD:17mm
Nasello
Revolver quadruplo girevole con centro regolabile
Illuminazione del profiloSorgente luminosa: lampadina alogena 12V50W
Sistema ottico: Sistema di illuminazione telecentrico con apertura regolabile
Funzione: l'intensità della luce e la luminosità sono regolabili
Illuminazione di superficieSorgente luminosa: lampadina alogena 12V50W
Sistema ottico:Illuminazione Kohler con diaframma a diaframma di apertura e diaframma di campo
Funzione: l'intensità della luce e la luminosità sono regolabili
Dispositivo polarizzatoreAnalizza ruotabile a 360 gradi, sia Polarizzatore che Analizza possono essere spostati fuori dal percorso della luce
Dispositivo di visualizzazioneNumero dell'asse: 2 o 3 assi
Risoluzione: 0,001 mm/0,005 mm/0,0005 mm
Funzione: azzeramento, commutazione diretta, uscita data, segnale TTL
Alimentazione: CA 85V-230V
Strumento di controllo
Micrometro da 0,01 mm
PalcoscenicoGamma mobile XY: 100 mm x 100 mm
Gamma di movimento dell'asse Z: 150 mm
Messa a fuoco: regolazione manuale
Misura: Codice lineare Codifica: 3 assi: X/Y/Z, 2 assi:X/Y
Precisione: Base 20+1°C
Funzione mobile: gli assi X e Y possono essere disconnessi rapidamente
Dimensioni del palco XY: 286 mm x 286
Dimensioni effettive del patè di vetro: 180 mm x 180 mm
Accessorio opzionale
Adattatore CCD0,5x, 0,57x,0,75x
ObbiettivoObiettivo a lunga distanza di lavoro 2x,100x
Lampadina alogenaAlogena 12v/100w
Software di misura bidimensionale
Strumento di piallatura

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