











| A63.7001 Tungsten Filament Scanning Elektronmikroskop, SE+BSE, 150000x | |
| Løsning | 6nm@30KV(SE) |
| Forstørrelse | 150000x |
| Elektronpistol | Forcentreret Tungsten Filament Cartridge |
| Spænding | Accelerationsspænding 1~15KV, Kontinuerlig Justerbar, Juster Trin 1KV |
| Detektor | Standard:SE, BSE, CCD |
| Valgfri: EDS | |
| Vakuum system | Fuldautomatisk kontrol højvakuumsystem, støvsugningstid <2 minutter |
| Prøvetrin | StandardXY Auto Stage, Rejseområde 30x30 mm, |
| Valgfri5 Akser Stage | |
| Max prøve | Ф50xH35 mm |
| Arbejdsafstand | 5-35 mm |
| Kondensator | Indbygget kondensator Behøves ikke Manuel justering af blænde (LaB6 valgfri) |
| Billedsystem | SE, BSE, BSE+SE(Mix) Scanningstilstand: 1. Videotilstand: 512x512 pixel, ingen behov for lille vinduesscanning 2. Hurtig tilstand: Scanningstid <3s, 512x512 pixel, 3. Langsom tilstand: Scanningstid <40s, 2048x2048 pixel, Billedfilformat: BMP, TIFF, JPG, PNG |
| Navigation | Optisk CCD-navigation (ikke elektrisk billednavigation) |
| Auto funktion | Autofokus med én tast, automatisk lysstyrke og kontrastjustering |
| Computer software | PC Work Station Win 10-system, med professionel billedanalysesoftware til fuld kontrol over hele SEM-mikroskopdriften, computerspecifikation ikke mindre end Inter I5 3,2 GHz, 4G-hukommelse, 24"IPS LCD-skærm, 500G harddisk, mus, tastatur |
| Arbejdstilstand | 220V/50Hz 1KW, ikke nødvendigt stødabsorberende bord |
| Dimension | Mikroskop Krop 283*553*505mm Mekanisk pumpe 340*160*140mm |
| Valgfrit tilbehør | |
| A50.7002 | EDS Energy Dispersive X-Ray Spectrometer |
| A50.7011 | Ion Sputtering Coater |
dansk
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk



Huang Xin