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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x

A63.7069-L

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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x

Specification:
텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경, SED+BSDE+CCD, 8x~300000x A63.7069 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경, 저진공, SED+BSDE+CCD, 8x~300000x A63.7069-LV Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x A63.7069-L
수량：
Pictures
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경, SED+BSDE+CCD, 8x~300000x
Model No. A63.7069-L A63.7069
기타 사양
 —— 1 터보 분자 펌프 + 1 기계 펌프
시스템 지원
 Win11
Win10		 Win11
Win10
빛을 전송
 —— 텅스텐 필라멘트 카트리지, 전압 0~30KV
작업 단계
 —— 5축 스테이지, 4자동 +1 수동 제어
작업 단계 크기
 —— Ф175xH35mm
작업 단계 유형
 전동 스테이지 전동 스테이지
객관적인
 —— 감지기 SE, BSE, CCD
표준 배율
 —— 8x-300000x
특징
 전동 스테이지 전동 스테이지

탁상형 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경, SE+BSE+EDS,100,000X
A63.7016
탁상형 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경, SE+BSE+EDS,100,000X
비교에 추가
EBL 전자빔 리소그래피 기계
A63.7010
EBL 전자빔 리소그래피 기계
비교에 추가
High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope, 12KV, 600000x
A63.7235
High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope, 12KV, 600000x
비교에 추가
텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경, SE+BSE, 150000x
A63.7001
텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경, SE+BSE, 150000x
비교에 추가
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
A63.7002
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
비교에 추가
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
A63.7003
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
비교에 추가
Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
A63.7004
Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
비교에 추가
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
A63.7005
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
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