Melayu
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk
| Mikroskop Terowong Pengimbasan ◆ Reka bentuk miniatur dan boleh tanggal, sangat mudah dibawa dan pengajaran dalam bilik darjah ◆ Kepala pengesanan dan peringkat pengimbasan sampel disepadukan, strukturnya sangat stabil, dan anti-gangguan kuat ◆ Sampel pemacu paksi tunggal secara automatik menghampiri probe secara menegak, supaya hujung jarum berserenjang dengan imbasan sampel ◆ Kaedah penyusuan jarum pintar pengesanan automatik seramik piezoelektrik bertekanan motor yang dikawal melindungi probe dan sampel ◆ Sistem pemerhatian CCD sisi, pemerhatian masa nyata keadaan pemasukan jarum siasatan dan kedudukan kawasan pengimbasan sampel siasatan ◆ Kaedah kalis kejutan suspensi spring, mudah dan praktikal, kesan kalis kejutan yang baik ◆ Editor pengguna pembetulan tak linear pengimbas bersepadu, pencirian nanometer dan ketepatan ukuran lebih baik daripada 98% |
| A61.4510 | |
| Mod Kerja | Mod Ketinggian Malar Mod Semasa Malar |
| Keluk Spektrum Semasa | Lengkung IV Curve-Jarak Curve |
| Julat Imbasan XY | 5×5um |
| Resolusi Imbasan XY | 0.05nm |
| Julat Imbasan Z | 1um |
| Resolusi Imbasan Y | 0.01nm |
| Kelajuan Imbasan | 0.1Hz~62Hz |
| Sudut Imbasan | 0~360° |
| Saiz sampel | Φ≤68mm H≤20mm |
| Pergerakan Peringkat XY | 15×15mm |
| Reka Bentuk Menyerap Kejutan | Penggantungan Spring |
| Sistem Optik | 1~500x Zum Berterusan |
| Pengeluaran | USB2.0/3.0 |
| Perisian | Menang XP/7/8/10 |
Huang Xin