svenska
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
Nederlands
Norsk språk
| Scanning-tunnelmikroskopet ◆ Miniatyriserad och löstagbar design, mycket lätt att bära och klassrumsundervisning ◆ Detektionshuvudet och provskanningssteget är integrerade, strukturen är mycket stabil och anti-interferensen är stark ◆ Det enaxliga drivprovet närmar sig automatiskt sonden vertikalt så att nålspetsen är vinkelrät mot provskanningen ◆ Den intelligenta nålmatningsmetoden för motorstyrd trycksatt piezoelektrisk keramisk automatisk detektering skyddar sonden och provet ◆ Sido-CCD-observationssystem, observation i realtid av tillståndet för insättning av sondenålen och placeringen av sondens provavsökningsområde ◆ Fjäderupphängning stötsäker metod, enkel och praktisk, bra stötsäker effekt ◆ Integrerad skanner olinjär korrigering användarredigerare, nanometerkarakterisering och mätnoggrannhet bättre än 98% |
| A61.4510 | |
| Arbetsläge | Konstant höjdläge Konstant strömläge |
| Aktuell spektrumkurva | IV-kurva Curve-Distance Curve |
| XY Scan Range | 5×5um |
| XY skanningsupplösning | 0,05 nm |
| Z Scan Range | 1um |
| Y Skanningsupplösning | 0,01 nm |
| Skanningshastighet | 0,1Hz~62Hz |
| Skanna vinkel | 0~360° |
| Provstorlek | Φ≤68mm H≤20 mm |
| XY Stage Moving | 15×15 mm |
| Stötdämpande design | Fjäderupphängning |
| Optiskt system | 1~500x kontinuerlig zoom |
| Produktion | USB2.0/3.0 |
| programvara | Vinn XP/7/8/10 |
Huang Xin