Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Varför oss (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Why Us)F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Beijing 100043, KinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Varför oss (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Why Us)F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Beijing 100043, KinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Bei

Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x

A63.7190-68

Gilla att samla

Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x

Specification:
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x A63.7190-68 Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x A63.7190-12
Mängd：
Pictures
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
Model No. A63.7190-68 A63.7190-12
Systemstöd
 Win10 Win10
Typ av arbetssteg
 Motoriserad scen Motoriserad scen
Funktioner
 Motoriserad scen Motoriserad scen
Nytt produktår
 2021 2021

Bänkskiva volframfilament avsökningselektronmikroskop, SE+BSE+EDS, 100 000X
A63.7016
Bänkskiva volframfilament avsökningselektronmikroskop, SE+BSE+EDS, 100 000X
Lägg till för att jämföra
EBL Elektronstrålelitografimaskin
A63.7010
EBL Elektronstrålelitografimaskin
Lägg till för att jämföra
High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope, 12KV, 600000x
A63.7235
High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope, 12KV, 600000x
Lägg till för att jämföra
Tungsten Filament Scanning Elektronmikroskop, SE+BSE, 150000x
A63.7001
Tungsten Filament Scanning Elektronmikroskop, SE+BSE, 150000x
Lägg till för att jämföra
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
A63.7002
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
Lägg till för att jämföra
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
A63.7003
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
Lägg till för att jämföra
Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
A63.7004
Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
Lägg till för att jämföra
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
A63.7005
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
Lägg till för att jämföra

onlinetjänst

onlinetjänst
Vi är här online för att stödja!

Skicka meddelande

*
*
*
*
*

What's New

Kontakta oss

Opto Edu Blogg Video Ladda ner Maxcope Kontakta oss Jämföra
Follow us:   
(48402)
7
close
7

Service

Huang Xin Huang Xin
Scan the QR code Close
qr code

Data är tom
Skicka Rensa alla

JäMFöR PRODUKTER

Data är tom
Jämför produkter Rensa alla
Vi använder cookies på vår webbplats för att se hur du interagerar med den. Genom att acceptera godkänner du vår användning av sådana cookies. integritetspolicy

Avancerade kakinställningar

Viktiga kakor

Dessa cookies möjliggör kärnfunktioner såsom säkerhet, verifiering av identitet och nätverkshantering. Dessa cookies kan inte inaktiveras.

Aktivera marknadsföringscookies

Dessa cookies används för att spåra reklamprestanda, samtycka till sändning av reklamrelaterade användardata till Google och samtycke till att webbplatsen visar personlig reklam för att tillhandahålla mer relevanta tjänster.

Aktivera funktionella cookies

Dessa cookies samlar in data för att komma ihåg val användare gör för att förbättra och ge en mer personlig upplevelse.

Aktivera Analytics-cookies

Dessa cookies hjälper oss att förstå hur besökare interagerar med vår webbplats, upptäcker fel och ger en bättre övergripande analys.

Viktiga cookies kan inte inaktiveras.