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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
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A63.7032-A

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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x

Specification:
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x A63.7032-A Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x A63.7032
수량：
Pictures
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
Model No. A63.7032-A A63.7032
시스템 지원
 Win10 Win10
작업 단계 유형
 전동 스테이지 전동 스테이지
특징
 전동 스테이지 전동 스테이지
신제품 연도
 2021년 2021년

탁상형 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경, SE+BSE+EDS,100,000X
A63.7016
탁상형 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경, SE+BSE+EDS,100,000X
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EBL 전자빔 리소그래피 기계
A63.7010
EBL 전자빔 리소그래피 기계
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A63.7235
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A63.7001
텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경, SE+BSE, 150000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
A63.7002
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
비교에 추가
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
A63.7003
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
비교에 추가
Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
A63.7004
Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
A63.7005
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
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