

| Beste atoomkrachtmicroscoop ◆ De laserdetectiekop en de monsterscanfase zijn geïntegreerd, de structuur is zeer stabiel en de anti-interferentie is sterk ◆ Precisie-probepositioneringsapparaat, aanpassing van de laserpuntuitlijning is heel eenvoudig ◆ Het enkelassige aandrijfmonster nadert automatisch de sonde verticaal, zodat de naaldpunt loodrecht op de monsteraftasting staat ◆ De intelligente naaldaanvoermethode van motorgestuurde piëzo-elektrische keramische automatische detectie onder druk beschermt de sonde en het monster ◆ Automatische optische positionering, geen noodzaak om te focussen, realtime observatie en positionering van het scangebied van de sondemonster ◆ Schokbestendige methode met veerophanging, eenvoudig en praktisch, goed schokbestendig effect ◆ Met metaal afgeschermde geluiddichte doos, ingebouwde zeer nauwkeurige temperatuur- en vochtigheidssensor, realtime bewaking van de werkomgeving ◆ Geïntegreerde scanner niet-lineaire correctie gebruikerseditor, nanometerkarakterisering en meetnauwkeurigheid beter dan 98% |




| Specificatie | A62.4500 | A62.4501 | A62.4503 | A62.4505 |
| Werk modus | Tikmodus 【Optioneel】 Contactmodus Wrijvingsmodus Fasemodus: Magnetische modus Elektrostatische modus: | Contactmodus Tikmodus 【Optioneel】 Wrijvingsmodus Fasemodus: Magnetische modus Elektrostatische modus: | Contactmodus Tikmodus 【Optioneel】 Wrijvingsmodus Fasemodus: Magnetische modus Elektrostatische modus: | Contactmodus Tikmodus 【Optioneel】 Wrijvingsmodus Fasemodus: Magnetische modus Elektrostatische modus: |
| Huidige spectrumcurve | RMS-Z-curve 【Optioneel】 FZ-krachtcurve | RMS-Z-curve FZ-krachtcurve | RMS-Z-curve FZ-krachtcurve | RMS-Z-curve FZ-krachtcurve |
| XY-scanbereik | 20×20um | 20×20um | 50×50um | 50×50um |
| XY-scanresolutie | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm |
| Z-scanbereik | 2.5um | 2.5um | 5um | 5um |
| Y-scanresolutie | 0,05nm | 0,05nm | 0,05nm | 0,05nm |
| Scansnelheid | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz |
| Scanhoek | 0~360° | 0~360° | 0~360° | 0~360° |
| Steekproefgrootte | Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm |
| XY-podium verplaatsen | 15×15 mm | 15×15 mm | 25×25um | 25×25um |
| Schokabsorberend ontwerp | Veerophanging | Veerophanging Metalen afschermingsdoos | Veerophanging Metalen afschermingsdoos | - |
| Optisch systeem | 4x doelstelling Resolutie 2.5um | 4x doelstelling Resolutie 2.5um | 10x doelstelling Resolutie 1um | Oculair 10x Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x 5.0M digitale camera 10"LCD-monitor, met meetfunctie LED Kohler-verlichting Coaxiale grove en fijne scherpstelling |
| Uitgang: | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| Software | Win XP/7/8/10 | Win XP/7/8/10 | Win XP/7/8/10 | Win XP/7/8/10 |
| Oplossing | Werk omstandigheden | Werktempo | Schade aan monster | Inspectiediepte: | |
| SPM | Atoomniveau 0.1nm | Normaal, Vloeibaar, Vacuüm | Kamer of lage temperatuur | Geen | 1~2 atoomniveau |
| TEM | Punt 0.3~0.5nm Rooster 0.1~0.2nm | Hoog vacuüm | Kamer temperatuur | Klein | Gewoonlijk<100nm |
| SEM | 6-10nm | Hoog vacuüm | Kamer temperatuur | Klein | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Atoomniveau 0.1nm | Superhoog vacuüm | 30~80K | Schade | Atoom Dikte: |
| Microscoop | Optische microscoop | Elektronen microscoop | Scanning Probe Microscoop |
| Maximale resolutie (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Opmerking | Olie-immersie 1500x | Beeldvorming van diamant-koolstofatomen | Beeldvorming van hoge-orde grafiet-koolstofatomen |
![]() | ![]() | ![]() |
| Interactie sonde-monster | Signaal meten: | Informatie |
| Kracht | Elektrostatische kracht | Vorm geven aan |
| Tunnelstroom | Huidig | Vorm, geleidbaarheid |
| Magnetische kracht | Fase | Magnetische structuur |
| Elektrostatische kracht | Fase | ladingsverdeling |

Nederlands
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Norsk språk



Huang Xin