Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Waarom wijF-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Peking 100043, ChinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Waarom wijF-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Peking 100043, ChinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Lt

Onderwijsniveau Atomic Force Microscoop
Onderwijsniveau Atomic Force Microscoop

Onderwijsniveau Atomic Force Microscoop

  • Onderwijsniveau Afzonderlijk ontwerp van controller en hoofdgedeelte, met tikmodus, 4x objectief, geminiaturiseerd afneembaar ontwerp
  • De laserdetectiekop en de monsterscanfase zijn geïntegreerd, de structuur is zeer stabiel en de anti-interferentie is sterk
  • De intelligente naaldaanvoermethode van motorgestuurde piëzo-elektrische keramische automatische detectie onder druk beschermt de sonde en het monster
  • Automatische optische positionering, geen noodzaak om te focussen, realtime observatie en positionering van het scangebied van de sondemonster
  • Schokbestendige methode met veerophanging, eenvoudig en praktisch, goed schokbestendig effect;
kwantiteit:
draagbare atoomkrachtmicroscoop

◆ De laserdetectiekop en de monsterscanfase zijn geïntegreerd, de structuur is zeer stabiel en de anti-interferentie is sterk


◆ Precisie-probepositioneringsapparaat, aanpassing van de laserpuntuitlijning is heel eenvoudig

◆ Het enkelassige aandrijfmonster nadert automatisch de sonde verticaal, zodat de naaldpunt loodrecht op de monsteraftasting staat

◆ De intelligente naaldaanvoermethode van motorgestuurde piëzo-elektrische keramische automatische detectie onder druk beschermt de sonde en het monster

◆ Automatische optische positionering, geen noodzaak om te focussen, realtime observatie en positionering van het scangebied van de sondemonster

◆ Schokbestendige methode met veerophanging, eenvoudig en praktisch, goed schokbestendig effect

◆ Met metaal afgeschermde geluiddichte doos, ingebouwde zeer nauwkeurige temperatuur- en vochtigheidssensor, realtime bewaking van de werkomgeving

◆ Geïntegreerde scanner niet-lineaire correctie gebruikerseditor, nanometerkarakterisering en meetnauwkeurigheid beter dan 98%

SpecificatieA62.4500A62.4501A62.4503A62.4505
Werk modusTikmodus

【Optioneel】
Contactmodus
Wrijvingsmodus
Fasemodus:
Magnetische modus
Elektrostatische modus:
Contactmodus
Tikmodus

【Optioneel】
Wrijvingsmodus
Fasemodus:
Magnetische modus
Elektrostatische modus:
Contactmodus
Tikmodus

【Optioneel】
Wrijvingsmodus
Fasemodus:
Magnetische modus
Elektrostatische modus:
Contactmodus
Tikmodus

【Optioneel】
Wrijvingsmodus
Fasemodus:
Magnetische modus
Elektrostatische modus:
Huidige spectrumcurveRMS-Z-curve

【Optioneel】
FZ-krachtcurve
RMS-Z-curve
FZ-krachtcurve
RMS-Z-curve
FZ-krachtcurve
RMS-Z-curve
FZ-krachtcurve
XY-scanbereik20×20um20×20um50×50um50×50um
XY-scanresolutie0.2nm0.2nm0.2nm0.2nm
Z-scanbereik2.5um2.5um5um5um
Y-scanresolutie0,05nm0,05nm0,05nm0,05nm
Scansnelheid0,6Hz~30Hz0,6Hz~30Hz0,6Hz~30Hz0,6Hz~30Hz
Scanhoek0~360°0~360°0~360°0~360°
SteekproefgrootteΦ≤90mm
H≤20mm
Φ≤90mm
H≤20mm
Φ≤90mm
H≤20mm
Φ≤90mm
H≤20mm
XY-podium verplaatsen15×15 mm15×15 mm25×25um25×25um
Schokabsorberend ontwerpVeerophangingVeerophanging
Metalen afschermingsdoos
Veerophanging
Metalen afschermingsdoos
-
Optisch systeem4x doelstelling
Resolutie 2.5um
4x doelstelling
Resolutie 2.5um
10x doelstelling
Resolutie 1um
Oculair 10x
Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x
5.0M digitale camera
10"LCD-monitor, met meetfunctie
LED Kohler-verlichting
Coaxiale grove en fijne scherpstelling
Uitgang:USB2.0/3.0USB2.0/3.0USB2.0/3.0USB2.0/3.0
SoftwareWin XP/7/8/10Win XP/7/8/10Win XP/7/8/10Win XP/7/8/10
 OplossingWerk omstandighedenWerktempoSchade aan monsterInspectiediepte:
SPMAtoomniveau 0.1nmNormaal, Vloeibaar, VacuümKamer of lage temperatuurGeen1~2 atoomniveau
TEMPunt 0.3~0.5nm
Rooster 0.1~0.2nm
Hoog vacuümKamer temperatuurKleinGewoonlijk<100nm
SEM6-10nmHoog vacuümKamer temperatuurKlein10mm @10x
1um @10000x
FIMAtoomniveau 0.1nmSuperhoog vacuüm30~80KSchadeAtoom Dikte:
MicroscoopOptische microscoopElektronen microscoopScanning Probe Microscoop
Maximale resolutie (um)0.180.000110.00008
OpmerkingOlie-immersie 1500xBeeldvorming van diamant-koolstofatomenBeeldvorming van hoge-orde grafiet-koolstofatomen
Interactie sonde-monsterSignaal meten:Informatie
KrachtElektrostatische krachtVorm geven aan
TunnelstroomHuidigVorm, geleidbaarheid
Magnetische krachtFaseMagnetische structuur
Elektrostatische krachtFaseladingsverdeling

Pictures
Model No. A62.4500
Werkafstand
格式: 1.0, 或1.0~2.0
Schaal scherpstellen
0,00000
Scherpstelbereik
0,00000
Werkende fasegrootte
格式: 100x100mm, Dia.100mm
Standaard functie
BF+DF+PH+DIC

online dienst

online dienst
Wij zijn hier online om te steunen!

verzend bericht

*
*
*
*
*
7
close
7

Service

Scan the QR code Close
qr code

Gegevens zijn leeg

VERGELIJK PRODUCTEN

Gegevens zijn leeg

Geavanceerde cookie-instellingen

Essentiële koekjes

Deze cookies maken kernfunctionaliteit mogelijk zoals beveiliging, identiteitsverificatie en netwerkbeheer. Deze cookies kunnen niet worden uitgeschakeld.

Marketingcookies inschakelen

Deze cookies worden gebruikt om de advertentieprestaties bij te houden, toestemming te geven voor het verzenden van advertentiegerelateerde gebruikersgegevens naar Google en toestemming te geven dat de website gepersonaliseerde advertenties aanbiedt om relevantere services te bieden.

Schakel functionele cookies in

Deze cookies verzamelen gegevens om de keuzes die gebruikers maken te onthouden om zo een persoonlijkere ervaring te verbeteren en te bieden.

Schakel Analytics-cookies in

Deze cookies helpen ons te begrijpen hoe bezoekers omgaan met onze website, fouten te ontdekken en betere algemene analyses te bieden.

Essentiële cookies kunnen niet worden uitgeschakeld.