Bahasa indonesia
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk
| mikroskop kekuatan atom portabel Kepala deteksi laser dan tahap pemindaian sampel terintegrasi, strukturnya sangat stabil, dan anti-interferensinya kuat Perangkat pemosisian probe presisi, penyesuaian penyelarasan titik laser sangat mudah Sampel penggerak sumbu tunggal secara otomatis mendekati probe secara vertikal, sehingga ujung jarum tegak lurus dengan pemindaian sampel Metode pengumpanan jarum cerdas dari deteksi otomatis keramik piezoelektrik bertekanan yang dikendalikan motor melindungi probe dan sampel Pemosisian optik otomatis, tidak perlu fokus, pengamatan waktu nyata dan pemosisian area pemindaian sampel probe Metode shockproof suspensi pegas, sederhana dan praktis, efek shockproof yang baik Kotak kedap suara berpelindung logam, sensor suhu dan kelembaban presisi tinggi bawaan, pemantauan lingkungan kerja secara real-time Editor pengguna koreksi nonlinier pemindai terintegrasi, karakterisasi nanometer, dan akurasi pengukuran lebih baik dari 98% |
| Spesifikasi | A62.4500 | A62.4501 | A62.4503 | A62.4505 |
| Mode kerja | Mode Penyadapan 【Opsional】 Mode Kontak Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik | Mode Kontak Mode Penyadapan 【Opsional】 Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik | Mode Kontak Mode Penyadapan 【Opsional】 Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik | Mode Kontak Mode Penyadapan 【Opsional】 Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik |
| Kurva Spektrum Saat Ini | Kurva RMS-Z 【Opsional】 Kurva Gaya FZ | Kurva RMS-Z Kurva Gaya FZ | Kurva RMS-Z Kurva Gaya FZ | Kurva RMS-Z Kurva Gaya FZ |
| Rentang Pemindaian XY | 20 × 20um | 20 × 20um | 50 × 50um | 50 × 50um |
| Resolusi Pemindaian XY | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm |
| Rentang Pemindaian Z | 2.5um | 2.5um | 5um | 5um |
| Resolusi Pemindaian Y | 0,05nm | 0,05nm | 0,05nm | 0,05nm |
| Kecepatan Pindai | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz |
| Memindai Sudut | 0~360 ° | 0~360 ° | 0~360 ° | 0~360 ° |
| Ukuran sampel | 90mm H≤20mm | 90mm H≤20mm | 90mm H≤20mm | 90mm H≤20mm |
| Gerakan Panggung XY | 15 × 15mm | 15 × 15mm | 25 × 25um | 25 × 25um |
| Desain Penyerap Guncangan | Suspensi Musim Semi | Suspensi Musim Semi Kotak Perisai Logam | Suspensi Musim Semi Kotak Perisai Logam | - |
| Sistem Optik | 4x Tujuan Resolusi 2.5um | 4x Tujuan Resolusi 2.5um | 10x Tujuan Resolusi 1um | Lensa mata 10x Paket Infinity LWD APO 5x10x20x50x Kamera Digital 5.0M Monitor LCD 10", Dengan Pengukuran Pencahayaan Kohler LED Pemfokusan Kasar & Halus Koaksial |
| Keluaran | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| Perangkat lunak | Menangkan XP/7/8/10 | Menangkan XP/7/8/10 | Menangkan XP/7/8/10 | Menangkan XP/7/8/10 |
| Resolusi | Situasi kerja | Suhu Kerja | Kerusakan pada Sampel | Kedalaman Inspeksi | |
| SPM | Tingkat Atom 0.1nm | Normal, Cair, Vakum | Kamar atau Suhu Rendah | Tidak ada | 1~2 Tingkat Atom |
| TEM | Titik 0,3 ~ 0,5nm Kisi 0.1~0.2nm | Vakum Tinggi | Suhu Kamar | Kecil | Biasanya<100nm |
| SEM | 6-10nm | Vakum Tinggi | Suhu Kamar | Kecil | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Tingkat Atom 0.1nm | Vakum Super Tinggi | 30~80K | kerusakan | Ketebalan Atom |
| Mikroskop | Mikroskop optik | Mikroskop elektron | Pemindaian Mikroskop Probe |
| Resolusi Maks (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Komentar | Minyak imersi 1500x | Pencitraan atom karbon berlian | Pencitraan atom karbon grafit orde tinggi |
 |  |  |
| Interaksi Probe-Sampel | Mengukur Sinyal | Informasi |
| Memaksa | Gaya elektrostatik | Membentuk |
| Arus Terowongan | Saat ini | Bentuk, Konduktivitas |
| Gaya magnetis | Fase | Struktur Magnetik |
| Gaya elektrostatik | Fase | distribusi muatan |
Huang Xin