Bahasa indonesia
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk
| Mikroskop kekuatan atom komersial pertama di Cina yang membuat sampel tetap diam dan probe bergerak dan memindai; Ukuran dan berat sampel hampir tidak terbatas, terutama cocok untuk mendeteksi sampel yang sangat besar; Tahap sampel sangat dapat diperluas, yang sangat nyaman untuk kombinasi multi-instrumen untuk mewujudkan deteksi in-situ; Kontrol listrik dari sampel meja bergerak dan meja angkat, yang dapat diprogram dengan posisi multi-titik untuk mewujudkan deteksi otomatis yang cepat; Desain kepala pemindaian Gantry, dasar marmer, adsorpsi vakum dan tahap adsorpsi magnetik; Motor secara otomatis mengontrol metode pengumpanan jarum cerdas dari deteksi otomatis keramik piezoelektrik untuk melindungi probe dan sampel; Pemosisian mikroskop optik bantu pembesaran tinggi, pengamatan waktu nyata dan pemosisian area pemindaian probe dan sampel; Editor pengguna koreksi nonlinier pemindai terintegrasi, karakterisasi nanometer, dan akurasi pengukuran lebih baik dari 98%. |
| A62.4510 | A62.4511 | |
| Mode kerja | Mode Kontak Mode Penyadapan 【Opsional】 Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik | Mode Kontak Mode Penyadapan 【Opsional】 Mode Gesekan Mode Fase Mode Magnetik Mode Elektrostatik |
| Kurva Spektrum Saat Ini | RMS-ZMelengkung FZMemaksaMelengkung | RMS-ZMelengkung FZMemaksaMelengkung |
| Mode Pemindaian XY | Pemindaian Didorong Probe, Pemindai Tabung Piezo | Pemindaian Berbasis Sampel, Tahap Pemindaian Pergeseran Piezoelektrik Loop Tertutup |
| Rentang Pemindaian XY | 70 × 70um | Loop Tertutup 100 × 100um |
| Resolusi Pemindaian XY | 0.2nm | Loop Tertutup 0.5nm |
| Mode Pemindaian Z | Pemindaian Didorong Probe | |
| Rentang Pemindaian Z | 5um | 5um |
| Resolusi Pemindaian Z | 0,05nm | 0,05nm |
| Kecepatan Pindai | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz |
| Memindai Sudut | 0~360 ° | 0~360 ° |
| Berat sampel | 15Kg | 0,5Kg |
| Ukuran Panggung | Diameter 100mm 【Opsional】 Diameter 200mm Diameter 300mm | Diameter 100mm 【Opsional】 Diameter 200mm Diameter 300mm |
| Tahap XY Bergerak | 100x100mm, Resolusi 1um 【Opsional】 200x200mm 300x300mm | 100x100mm, Resolusi 1um 【Opsional】 200x200mm 300x300mm |
| Tahap Z Bergerak | 15mm, Resolusi 10nm 【Opsional】 20mm 25mm | 15mm, Resolusi 10nm 【Opsional】 20mm 25mm |
| Desain Penyerap Guncangan | Suspensi Musim Semi 【Opsional】 Peredam Kejut Aktif | Suspensi Musim Semi 【Opsional】 Peredam Kejut Aktif |
| Sistem Optik | Tujuan 5x Kamera Digital 5.0M 【Opsional】 Tujuan 10x Tujuan 20x | Tujuan 5x Kamera Digital 5.0M 【Opsional】 Tujuan 10x Tujuan 20x |
| Keluaran | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| Perangkat lunak | Menangkan XP/7/8/10 | Menangkan XP/7/8/10 |
| Tubuh utama | Kepala Pemindaian Gantry, Pangkalan Marmer | Kepala Pemindaian Gantry, Pangkalan Marmer |
| Resolusi | Situasi kerja | Suhu Kerja | Kerusakan pada Sampel | Kedalaman Inspeksi | |
| SPM | Tingkat Atom 0.1nm | Normal, Cair, Vakum | Kamar atau Suhu Rendah | Tidak ada | 1~2 Tingkat Atom |
| TEM | Titik 0,3 ~ 0,5nm Kisi 0.1~0.2nm | Vakum Tinggi | Suhu Kamar | Kecil | Biasanya<100nm |
| SEM | 6-10nm | Vakum Tinggi | Suhu Kamar | Kecil | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Tingkat Atom 0.1nm | Vakum Super Tinggi | 30~80K | kerusakan | Ketebalan Atom |
| Mikroskop | Mikroskop optik | Mikroskop elektron | Pemindaian Mikroskop Probe |
| Resolusi Maks (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Komentar | Minyak imersi 1500x | Pencitraan atom karbon berlian | Pencitraan atom karbon grafit orde tinggi |
 |  |  |
| Interaksi Probe-Sampel | Mengukur Sinyal | Informasi |
| Memaksa | Gaya elektrostatik | Membentuk |
| Arus Terowongan | Saat ini | Bentuk, Konduktivitas |
| Gaya magnetis | Fase | Struktur Magnetik |
| Gaya elektrostatik | Fase | distribusi muatan |
Huang Xin