OPTO-EDU A62.4510 Probe Scanning Atomic Force Microscope

Probe Scanning Atomic Force Microscope

Gantry skannehodedesign, marmorbase, vakuumadsorpsjonsstadium, prøvestørrelse og vekt er i utgangspunktet ubegrenset

Intelligent nålematingsmetode med automatisk deteksjon av motorstyrt piezoelektrisk keramikk for å beskytte sonder og prøver

Automatisk optisk posisjonering, ikke nødvendig å justere fokus, sanntidsobservasjon og posisjonering av sondeprøveskanningsområde

Utstyrt med lukket metallskjold, pneumatisk støtdempende bord, sterk anti-interferensevne;

Integrert skanner ikke-lineær korreksjon brukerredigerer, nanometer karakterisering og målenøyaktighet er bedre enn 98%

◆ Det første kommersielle atomkraftmikroskopet i Kina som holder prøven stasjonær og sonden beveger seg og skanner;

◆ Prøvestørrelsen og vekten er nesten ubegrenset, spesielt egnet for påvisning av svært store prøver;

◆ Prøvetrinnet er svært utvidbart, noe som er veldig praktisk for multi-instrument kombinasjon for å realisere in-situ deteksjon;

◆ Elektrisk kontroll av prøvebevegelsesbord og løftebord, som kan programmeres med flerpunktsposisjon for å realisere rask automatisk deteksjon;

◆ Gantry skannehodedesign, marmorbase, vakuumadsorpsjon og magnetisk adsorpsjonstrinn;

◆ Motoren kontrollerer automatisk den intelligente nålematingsmetoden til den piezoelektriske keramiske automatiske deteksjonen for å beskytte sonden og prøven;

◆ Høy forstørrelse hjelpeoptisk mikroskopposisjonering, sanntidsobservasjon og posisjonering av sonde og prøveskanningsområde;

◆ Integrert skanner ikke-lineær korreksjon brukerredigerer, nanometer karakterisering og målenøyaktighet bedre enn 98%.

	A62.4510	A62.4511
Arbeidsmodus	Kontaktmodus Trykkemodus 【Valgfri】 Friksjonsmodus Fasemodus Magnetisk modus Elektrostatisk modus	Kontaktmodus Trykkemodus 【Valgfri】 Friksjonsmodus Fasemodus Magnetisk modus Elektrostatisk modus
Gjeldende spektrumkurve	RMS-ZKurve FZMaktKurve	RMS-ZKurve FZMaktKurve
XY Skannemodus	Sondedrevet skanning, Piezo Tube Scanner	Prøvedrevet skanning, piezoelektrisk skiftskanning med lukket sløyfe
XY skanningsområde	70×70um	Lukket sløyfe 100×100um
XY Skanneoppløsning	0,2 nm	Lukket sløyfe 0,5nm
Z Skannemodus		Probedrevet skanning
Z Skanneområde	5 um	5 um
Z Skanneoppløsning	0,05 nm	0,05 nm
Skannehastighet	0,6 Hz ~ 30 Hz	0,6 Hz ~ 30 Hz
Skannevinkel	0~360°	0~360°
Prøvevekt	≤15 kg	≤0,5 kg
Scenestørrelse	Dia.100mm 【Valgfri】 Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm 【Valgfri】 Dia.200mm Dia.300mm
Stage XY Flytting	100x100mm, oppløsning 1um 【Valgfri】 200x200mm 300x300mm	100x100mm, oppløsning 1um 【Valgfri】 200x200mm 300x300mm
Stage Z flytting	15 mm, oppløsning 10 nm 【Valgfri】 20 mm 25 mm	15 mm, oppløsning 10 nm 【Valgfri】 20 mm 25 mm
Støtdempende design	Fjæroppheng 【Valgfri】 Aktiv støtdemper	Fjæroppheng 【Valgfri】 Aktiv støtdemper
Optisk system	Mål 5x 5,0M digitalkamera 【Valgfri】 Mål 10x Mål 20x	Mål 5x 5,0M digitalkamera 【Valgfri】 Mål 10x Mål 20x
Produksjon	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
Programvare	Vinn XP/7/8/10	Vinn XP/7/8/10
Hoveddelen	Gantry skannerhode, marmorbase	Gantry skannerhode, marmorbase

	Vedtak	Arbeidsforhold	Arbeidstemperering	Skade på prøve	Inspeksjonsdybde
SPM	Atomnivå 0,1nm	Normal, flytende, vakuum	Rom eller lav temperering	Ingen	1~2 atomnivå
TEM	Punkt 0,3~0,5nm Gitter 0,1~0,2nm	Høyt vakuum	Romtemperering	Liten	Vanligvis<100nm
SEM	6-10nm	Høyt vakuum	Romtemperering	Liten	10 mm @10x 1um @10000x
FIM	Atomnivå 0,1nm	Super høy vakuum	30~80K	Skade	Atomtykkelse

Mikroskop	Optisk mikroskop	Elektronmikroskop	Skanneprobemikroskop
Maks oppløsning (um)	0.18	0.00011	0.00008
Bemerke	Oljenedsenking 1500x	Avbildning av diamantkarbonatomer	Avbildning av høyordens grafittiske karbonatomer
Bemerke

Probe-Sample-interaksjon	Mål signal	Informasjon
Makt	Elektrostatisk kraft	Form
Tunnelstrøm	Strøm	Form, ledningsevne
Magnetisk kraft	Fase	Magnetisk struktur
Elektrostatisk kraft	Fase	ladningsfordeling

Pictures

Model No.

A62.4510

Arbeidsavstand

格式:1.0,或1.0~2.0

Fokuseringsskala

0,000000

Fokuseringsområde

0,000000

Størrelse på arbeidstrinn

Ø:100x100mm, Ø100mm

Standard funksjon

BF+DF+PH+DIC

Avanserte informasjonskapselinnstillinger

Viktige informasjonskapsler

Disse informasjonskapslene muliggjør kjernefunksjonalitet som sikkerhet, verifisering av identitet og nettverksadministrasjon. Disse informasjonskapslene kan ikke deaktiveres.

Aktiver markedsføringsinformasjonskapsler

Disse informasjonskapslene brukes til å spore annonseytelse, samtykke til sending av annonseringsrelaterte brukerdata til Google, og samtykke til at nettstedet viser personlig tilpasset annonsering for å tilby mer relevante tjenester.

Aktiver funksjonelle informasjonskapsler

Disse informasjonskapslene samler inn data for å huske valg brukere gjør for å forbedre og gi en mer personlig opplevelse.

Aktiver Analytics-informasjonskapsler

Disse informasjonskapslene hjelper oss å forstå hvordan besøkende samhandler med nettstedet vårt, oppdager feil og gir en bedre samlet analyse.

A62.4510

Probe Scanning Atomic Force Microscope

online tjeneste

Send melding

What's New

Kontakt oss

Service

SAMMENLIGN PRODUKTER

Avanserte informasjonskapselinnstillinger

Viktige informasjonskapsler

Aktiver markedsføringsinformasjonskapsler

Aktiver funksjonelle informasjonskapsler

Aktiver Analytics-informasjonskapsler