svenska
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
Nederlands
Norsk språk
| ◆ Det första kommersiella atomkraftsmikroskopet i Kina som håller provet stationärt och sonden rör sig och skannar; ◆ Provstorleken och vikten är nästan obegränsad, särskilt lämplig för detektering av mycket stora prover; ◆ Provsteget är mycket expanderbart, vilket är mycket bekvämt för kombination av flera instrument för att realisera in-situ-detektion; ◆ Elektrisk styrning av provrörsbord och lyftbord, som kan programmeras med flerpunktsläge för att realisera snabb automatisk detektering; ◆ Gantry-skanningshuvuddesign, marmorbas, vakuumadsorption och magnetisk adsorptionssteg; ◆ Motorn styr automatiskt den intelligenta nålmatningsmetoden för den piezoelektriska keramiska automatiska detekteringen för att skydda sonden och provet; ◆ Positionering av optiskt hjälpmikroskop med hög förstoring, realtidsobservation och positionering av sond och provavsökningsområde; ◆ Integrerad skanner olinjär korrigering användarredigerare, nanometer karaktärisering och mätnoggrannhet bättre än 98%. |
| A62.4510 | A62.4511 | |
| Arbetsläge | Kontaktläge Tryckläge 【Frivillig】 Friktionsläge Fasläge Magnetiskt läge Elektrostatiskt läge | Kontaktläge Tryckläge 【Frivillig】 Friktionsläge Fasläge Magnetiskt läge Elektrostatiskt läge |
| Aktuell spektrumkurva | RMS-ZKurva F ZTvingaKurva | RMS-ZKurva F ZTvingaKurva |
| XY Scan Mode | Sonddriven skanning, Piezo Tube Scanner | Provdriven skanning, piezoelektrisk skiftavsökning med sluten slinga |
| XY Scan Range | 70×70um | Closed loop 100×100um |
| XY skanningsupplösning | 0,2 nm | Closed loop 0,5nm |
| Z Scan Mode | Sonddriven skanning | |
| Z Scan Range | 5um | 5um |
| Z Skanningsupplösning | 0,05 nm | 0,05 nm |
| Skanningshastighet | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz |
| Skanna vinkel | 0~360° | 0~360° |
| Provvikt | ≤15 kg | ≤0,5 kg |
| Scenstorlek | Dia.100mm 【Frivillig】 Dia.200mm Dia.300mm | Dia.100mm 【Frivillig】 Dia.200mm Dia.300mm |
| Steg XY Flytta | 100x100mm, upplösning 1um 【Frivillig】 200x200mm 300x300mm | 100x100mm, upplösning 1um 【Frivillig】 200x200mm 300x300mm |
| Steg Z flyttar | 15 mm, upplösning 10 nm 【Frivillig】 20 mm 25 mm | 15 mm, upplösning 10 nm 【Frivillig】 20 mm 25 mm |
| Stötdämpande design | Fjäderupphängning 【Frivillig】 Aktiv stötdämpare | Fjäderupphängning 【Frivillig】 Aktiv stötdämpare |
| Optiskt system | Mål 5x 5.0M digitalkamera 【Frivillig】 Mål 10x Mål 20x | Mål 5x 5.0M digitalkamera 【Frivillig】 Mål 10x Mål 20x |
| Produktion | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| programvara | Vinn XP/7/8/10 | Vinn XP/7/8/10 |
| Huvudkropp | Gantry Scan Head, Marble Base | Gantry Scan Head, Marble Base |
| Upplösning | Fungerande skick | Arbetstemperering | Skador på provet | Inspektionsdjup | |
| SPM | Atomnivå 0,1nm | Normal, flytande, vakuum | Rum eller låg temperatur | Ingen | 1~2 Atomnivå |
| TEM | Punkt 0,3~0,5nm Gitter 0,1~0,2nm | Högt vakuum | Rumstemperatur | Små | Vanligtvis<100nm |
| SEM | 6-10 nm | Högt vakuum | Rumstemperatur | Små | 10 mm @10x 1um @10 000x |
| FIM | Atomnivå 0,1nm | Superhögt vakuum | 30~80K | Damge | Atomtjocklek |
| Mikroskop | Optiskt mikroskop | Elektron mikroskop | Scanning Probe Mikroskop |
| Maxupplösning (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Anmärkning | Oljedoppning 1500x | Avbildning av diamantkolatomer | Avbildning av högordnings grafitiska kolatomer |
 |  |  |
| Probe-Sample Interaktion | Mät signal | Information |
| Tvinga | Elektrostatisk kraft | Form |
| Tunnelström | Nuvarande | Form, ledningsförmåga |
| Magnetisk kraft | Fas | Magnetisk struktur |
| Elektrostatisk kraft | Fas | avgiftsfördelning |
Huang Xin