Deutsch
English
Pусский
Français
Español
Portugues
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk
| ◆ Das erste kommerzielle Rasterkraftmikroskop in China, das die Probe stationär hält und die Sonde bewegt und scannt; ◆ Probengröße und -gewicht sind nahezu unbegrenzt, besonders geeignet für den Nachweis sehr großer Proben; ◆ Der Probentisch ist stark erweiterbar, was für die Kombination mehrerer Instrumente sehr praktisch ist, um eine In-situ-Detektion zu realisieren; ◆ Elektrische Steuerung des Probenbewegungstisches und des Hubtisches, die mit Mehrpunktposition programmiert werden können, um eine schnelle automatische Erkennung zu realisieren; ◆ Gantry-Scankopfdesign, Marmorsockel, Vakuumadsorption und magnetische Adsorptionsstufe; ◆ Der Motor steuert automatisch die intelligente Nadelvorschubmethode der automatischen piezoelektrischen Keramikerkennung, um die Sonde und die Probe zu schützen; ◆ Positionierung des optischen Hilfsmikroskops mit hoher Vergrößerung, Echtzeitbeobachtung und Positionierung des Sonden- und Probenabtastbereichs; ◆ Integrierter Scanner-Editor für nichtlineare Korrekturen, Charakterisierung im Nanometerbereich und Messgenauigkeit besser als 98 %. |
| A62.4510 | A62.4511 | |
| Arbeitsmodus | Kontaktmodus Klopfmodus 【Optional】 Reibungsmodus Phasenmodus Magnetischer Modus Elektrostatischer Modus | Kontaktmodus Klopfmodus 【Optional】 Reibungsmodus Phasenmodus Magnetischer Modus Elektrostatischer Modus |
| Aktuelle Spektrumskurve | RMS-ZKurve FZMachtKurve | RMS-ZKurve FZMachtKurve |
| XY-Scanmodus | Sondengesteuertes Scannen, Piezo-Röhrenscanner | Probengesteuertes Scannen, piezoelektrischer Shift-Scanning-Tisch mit geschlossenem Regelkreis |
| XY-Scanbereich | 70 × 70 um | Geschlossener Regelkreis 100×100um |
| XY-Scanauflösung | 0,2 nm | Geschlossener Regelkreis 0,5 nm |
| Z Scan-Modus | Sondengesteuertes Scannen | |
| Z-Scanbereich | 5um | 5um |
| Z-Scan-Auflösung | 0,05 nm | 0,05 nm |
| Scangeschwindigkeit | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz |
| Scan-Winkel | 0~360° | 0~360° |
| Probengewicht | ≤15Kg | ≤0,5 kg |
| Bühnengröße | Durchmesser 100 mm 【Optional】 Durchmesser 200 mm Durchmesser 300 mm | Durchmesser 100 mm 【Optional】 Durchmesser 200 mm Durchmesser 300 mm |
| Bühne XY bewegt sich | 100x100mm, Auflösung 1um 【Optional】 200 x 200 mm 300 x 300 mm | 100x100mm, Auflösung 1um 【Optional】 200 x 200 mm 300 x 300 mm |
| Stufe Z bewegt sich | 15mm, Auflösung 10nm 【Optional】 20mm 25mm | 15mm, Auflösung 10nm 【Optional】 20mm 25mm |
| Stoßdämpfendes Design | Federaufhängung 【Optional】 Aktiver Stoßdämpfer | Federaufhängung 【Optional】 Aktiver Stoßdämpfer |
| Optisches System | Ziel 5x 5.0M Digitalkamera 【Optional】 Ziel 10x Objektiv 20x | Ziel 5x 5.0M Digitalkamera 【Optional】 Ziel 10x Objektiv 20x |
| Ausgabe | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| Software | Gewinne XP/7/8/10 | Gewinne XP/7/8/10 |
| Hauptkörper | Gantry-Scankopf, Marmorsockel | Gantry-Scankopf, Marmorsockel |
| Auflösung | Arbeitsbedingung | Arbeitstemperatur | Beschädigung der Probe | Inspektionstiefe | |
| SPM | Atomebene 0,1 nm | Normal, Flüssigkeit, Vakuum | Raum- oder Niedrigtemperatur | Keiner | 1~2 Atomebene |
| TEM | Punkt 0,3 ~ 0,5 nm Gitter 0,1 ~ 0,2 nm | Hochvakuum | Raumtemperatur | Klein | Normalerweise<100nm |
| SEM | 6-10nm | Hochvakuum | Raumtemperatur | Klein | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Atomebene 0,1 nm | Super-Hochvakuum | 30~80K | Schaden | Atomdicke |
| Mikroskop | Optisches Mikroskop | Elektronenmikroskop | Rastersondenmikroskop |
| Max. Auflösung (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Anmerkung | Ölimmersion 1500x | Imaging von Diamant-Kohlenstoffatomen | Abbildung graphitischer Kohlenstoffatome höherer Ordnung |
 |  |  |
| Sonden-Proben-Wechselwirkung | Signal messen | Information |
| Macht | Elektrostatische Kraft | Form |
| Tunnelstrom | Aktuell | Form, Leitfähigkeit |
| Magnetkraft | Phase | Magnetische Struktur |
| Elektrostatische Kraft | Phase | Ladungsverteilung |
Huang Xin