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| ◆ O primeiro microscópio de força atômica comercial na China que mantém a amostra estacionária e a sonda se move e faz a varredura; ◆ O tamanho e o peso da amostra são quase ilimitados, especialmente adequados para a detecção de amostras muito grandes; ◆ O estágio de amostra é altamente expansível, o que é muito conveniente para a combinação de vários instrumentos para realizar a detecção in-situ; ◆ Controle elétrico da mesa móvel de amostras e da mesa elevatória, que pode ser programada com posição multiponto para realizar detecção automática rápida; ◆ Design da cabeça de varredura do pórtico, base de mármore, estágio de adsorção a vácuo e adsorção magnética; ◆ O motor controla automaticamente o método inteligente de alimentação da agulha da detecção automática de cerâmica piezoelétrica para proteger a sonda e a amostra; ◆ Posicionamento do microscópio óptico auxiliar de alta ampliação, observação em tempo real e posicionamento da sonda e área de varredura da amostra; ◆ Editor de usuário de correção não linear de scanner integrado, caracterização nanométrica e precisão de medição superior a 98%. |
| A62.4510 | A62.4511 | |
| Modo de trabalho | Modo de contato Modo de toque 【Opcional】 Modo de fricção Modo de Fase Modo Magnético Modo Eletrostático | Modo de contato Modo de toque 【Opcional】 Modo de fricção Modo de Fase Modo Magnético Modo Eletrostático |
| Curva de espectro atual | CurvaRMS-Z Curvade ForçaFZ | CurvaRMS-Z Curvade ForçaFZ |
| Modo de digitalização XY | Varredura acionada por sonda, Scanner de Tubo Piezo | Escaneamento acionado por amostra, estágio de escaneamento de deslocamento piezoelétrico de circuito fechado |
| Faixa de varredura XY | 70×70um | Circuito Fechado 100×100um |
| Resolução de digitalização XY | 0,2nm | Circuito Fechado 0,5 nm |
| Modo de digitalização Z | Varredura acionada por sonda | |
| Alcance de Varredura Z | 5um | 5um |
| Resolução de digitalização Z | 0,05nm | 0,05nm |
| Velocidade de digitalização | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz |
| Ângulo de digitalização | 0~360° | 0~360° |
| Peso da Amostra | ≤15Kg | ≤0,5kg |
| Tamanho do Palco | Dia.100mm 【Opcional】 Dia.200mm Dia.300mm | Dia.100mm 【Opcional】 Dia.200mm Dia.300mm |
| Estágio XY em Movimento | 100x100mm, resolução 1um 【Opcional】 200x200mm 300x300mm | 100x100mm, resolução 1um 【Opcional】 200x200mm 300x300mm |
| Estágio Z em Movimento | 15mm, resolução 10nm 【Opcional】 20mm 25mm | 15mm, resolução 10nm 【Opcional】 20mm 25mm |
| Design de Absorção de Choque | Suspensão Mola 【Opcional】 Amortecedor Ativo | Suspensão Mola 【Opcional】 Amortecedor Ativo |
| Sistema óptico | Objetivo 5x Câmera Digital 5.0M 【Opcional】 Objetivo 10x Objetivo 20x | Objetivo 5x Câmera Digital 5.0M 【Opcional】 Objetivo 10x Objetivo 20x |
| Resultado | USB 2.0/3.0 | USB 2.0/3.0 |
| Programas | Ganhe XP/7/8/10 | Ganhe XP/7/8/10 |
| Corpo Principal | Cabeça de digitalização Gantry, base de mármore | Cabeça de digitalização Gantry, base de mármore |
| Resolução | Condição de trabalho | Temperação de Trabalho | Danos à Amostra | Profundidade de Inspeção | |
| SPM | Nível atômico 0,1 nm | Normal, Líquido, Vácuo | Ambiente ou Baixa Temperatura | Nenhum | 1~2 nível de átomo |
| TEM | Ponto 0,3~0,5 nm Rede 0,1~0,2nm | alto vácuo | Temperatura ambiente | Pequena | Geralmente<100nm |
| SEM | 6-10nm | alto vácuo | Temperatura ambiente | Pequena | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Nível atômico 0,1 nm | Vácuo super alto | 30~80K | dano | Espessura do átomo |
| Microscópio | Microscópio óptico | Microscópio eletrônico | Microscópio de Sonda de Varredura |
| Resolução máxima (um) | 0,18 | 0,00011 | 0,00008 |
| Observação | Imersão em óleo 1500x | Imagem de átomos de carbono de diamante | Imagem de átomos de carbono grafíticos de alta ordem |
 |  |  |
| Interação sonda-amostra | Medir sinal | Em formação |
| Força | Forca eletrostatica | Forma |
| Corrente do Túnel | Atual | Forma, Condutividade |
| Força magnética | Estágio | Estrutura Magnética |
| Forca eletrostatica | Estágio | distribuição de carga |
Huang Xin