OPTO-EDU A62.4510 Microscopio a scansione con sonda a forza atomica

Microscopio a scansione con sonda a forza atomica

Il design della testa di scansione a portale, la base in marmo, la fase di assorbimento del vuoto, la dimensione e il peso del campione sono praticamente illimitati

Metodo di alimentazione intelligente dell'ago con rilevamento automatico di ceramiche piezoelettriche controllate da motore per proteggere sonde e campioni

Posizionamento ottico automatico, nessuna necessità di regolare la messa a fuoco, l'osservazione in tempo reale e l'area di scansione del campione della sonda di posizionamento

Dotato di scudo metallico chiuso, tavolo ammortizzante pneumatico, forte capacità anti-interferenza;

L'editor utente di correzione non lineare dello scanner integrato, la caratterizzazione nanometrica e l'accuratezza della misurazione sono migliori del 98%

◆ Il primo microscopio commerciale a forza atomica in Cina che mantiene fermo il campione e la sonda si muove e scansiona;

◆ La dimensione e il peso del campione sono pressoché illimitati, particolarmente adatti per la rilevazione di campioni molto grandi;

◆ Lo stadio di campionamento è altamente espandibile, il che è molto conveniente per la combinazione multistrumento per realizzare il rilevamento in situ;

◆ Controllo elettrico della tavola mobile del campione e della tavola di sollevamento, che può essere programmata con posizione multipunto per realizzare un rilevamento automatico veloce;

◆ Design della testa di scansione a portale, base in marmo, fase di adsorbimento sottovuoto e fase di adsorbimento magnetico;

◆ Il motore controlla automaticamente il metodo di alimentazione intelligente dell'ago del rilevamento automatico della ceramica piezoelettrica per proteggere la sonda e il campione;

◆ Posizionamento del microscopio ottico ausiliario ad alto ingrandimento, osservazione in tempo reale e posizionamento della sonda e dell'area di scansione del campione;

◆ Editor utente integrato per la correzione non lineare dello scanner, caratterizzazione nanometrica e precisione di misura superiore al 98%.

	A62.4510	A62.4511
Modalità Lavoro	Modalità di contatto Modalità tocco 【Opzionale】 Modalità di attrito Modalità Fase Modalità magnetica Modalità elettrostatica	Modalità di contatto Modalità tocco 【Opzionale】 Modalità di attrito Modalità Fase Modalità magnetica Modalità elettrostatica
Curva dello spettro corrente	RMS-ZCurva FZForzaCurva	RMS-ZCurva FZForzaCurva
Modalità di scansione XY	Scansione guidata da sonda, Scanner per tubi piezoelettrici	Scansione guidata dal campione, fase di scansione a spostamento piezoelettrico a circuito chiuso
Intervallo di scansione XY	70×70um	Circuito chiuso 100×100 um
Risoluzione scansione XY	0,2 nm	Anello chiuso 0,5 nm
Modalità scansione Z		Scansione guidata dalla sonda
Intervallo di scansione Z	5um	5um
Risoluzione scansione Z	0,05 nm	0,05 nm
Velocità di scansione	0,6 Hz ~ 30 Hz	0,6 Hz ~ 30 Hz
Angolo di scansione	0~360°	0~360°
Campione di peso	≤15 kg	≤0,5 kg
Dimensioni del palcoscenico	Diam.100mm 【Opzionale】 Diam.200mm Diam.300mm	Diam.100mm 【Opzionale】 Diam.200mm Diam.300mm
Fase XY in movimento	100x100mm, Risoluzione 1um 【Opzionale】 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Risoluzione 1um 【Opzionale】 200x200mm 300x300mm
Fase Z in movimento	15 mm, risoluzione 10 nm 【Opzionale】 20 mm 25 mm	15 mm, risoluzione 10 nm 【Opzionale】 20 mm 25 mm
Design ammortizzante	Sospensione a molla 【Opzionale】 Ammortizzatore attivo	Sospensione a molla 【Opzionale】 Ammortizzatore attivo
Sistema ottico	Obiettivo 5x Fotocamera digitale da 5,0 M 【Opzionale】 Obiettivo 10x Obiettivo 20x	Obiettivo 5x Fotocamera digitale da 5,0 M 【Opzionale】 Obiettivo 10x Obiettivo 20x
Produzione	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0
Software	Vinci XP/7/8/10	Vinci XP/7/8/10
Corpo principale	Testa di scansione a portale, base in marmo	Testa di scansione a portale, base in marmo

	Risoluzione	Condizioni di lavoro	Temperamento di lavoro	Danno al Campione	Profondità di ispezione
SPM	Livello dell'atomo 0,1 nm	Normale, Liquido, Sottovuoto	Ambiente o Bassa Temperatura	Nessuno	1~2 Livello di atomo
TEM	Punto 0,3~0,5 nm Reticolo 0,1~0,2 nm	Alto vuoto	Temperatura della stanza	Piccolo	Di solito <100 nm
SEM	6-10 nm	Alto vuoto	Temperatura della stanza	Piccolo	10 mm @ 10x 1um @10000x
FIM	Livello dell'atomo 0,1 nm	Super alto vuoto	30~80K	Danno	Spessore dell'atomo

Microscopio	microscopio ottico	Microscopio elettronico	Microscopio con sonda a scansione
Risoluzione massima (um)	0.18	0.00011	0.00008
Nota	Immersione in olio 1500x	Imaging degli atomi di carbonio del diamante	Imaging di atomi di carbonio grafitico di ordine elevato
Nota

Interazione sonda-campione	Misurare il segnale	Informazione
Forza	Forza elettrostatica	Forma
Corrente del tunnel	Attuale	Forma, conducibilità
Forza magnetica	Fase	Struttura magnetica
Forza elettrostatica	Fase	distribuzione della carica

Pictures

Microscopio a scansione con sonda a forza atomica

Model No.

A62.4510

Distanza di lavoro

Versione: 1.0, Versione 1.0~2.0

Scala di messa a fuoco

0.000000

Gamma di messa a fuoco

0.000000

Dimensione della fase di lavoro

Dimensioni: 100x100 mm, diametro 100 mm

Funzione standard

BF+DF+PH+DIC

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