OPTO-EDU A62.4510 Microscope à force atomique à balayage de sonde

Microscope à force atomique à balayage de sonde

La conception de la tête de balayage à portique, la base en marbre, l'étape d'adsorption sous vide, la taille et le poids de l'échantillon sont fondamentalement illimités

Méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille avec détection automatique des céramiques piézoélectriques commandées par moteur pour protéger les sondes et les échantillons

Positionnement optique automatique, pas besoin d'ajuster la mise au point, l'observation en temps réel et la zone de balayage de l'échantillon de la sonde de positionnement

Équipé d'un bouclier métallique fermé, d'une table pneumatique absorbant les chocs, d'une forte capacité anti-interférences;

Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98 %

◆ Le premier microscope à force atomique commercial en Chine qui maintient l'échantillon immobile et la sonde se déplace et scanne ;

◆ La taille et le poids de l'échantillon sont presque illimités, particulièrement adaptés à la détection de très grands échantillons ;

◆ L'étage d'échantillonnage est hautement extensible, ce qui est très pratique pour une combinaison multi-instruments afin de réaliser une détection in situ ;

◆ Contrôle électrique de la table mobile d'échantillons et de la table élévatrice, qui peut être programmée avec une position multipoint pour réaliser une détection automatique rapide ;

◆ Conception de tête de balayage à portique, base en marbre, étape d'adsorption sous vide et d'adsorption magnétique;

◆ Le moteur contrôle automatiquement la méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de la détection automatique en céramique piézoélectrique pour protéger la sonde et l'échantillon ;

◆ Positionnement du microscope optique auxiliaire à fort grossissement, observation et positionnement en temps réel de la sonde et de la zone de balayage de l'échantillon ;

◆ Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98 %.

	A62.4510	A62.4511
En mode travail	Mode de contact Mode tapotement 【Facultatif】 Mode de friction Mode phases Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode tapotement 【Facultatif】 Mode de friction Mode phases Mode magnétique Mode électrostatique
Courbe du spectre actuel	CourbeRMS-Z Courbede forceFZ	CourbeRMS-Z Courbede forceFZ
Mode de balayage XY	Balayage piloté par sonde, Scanner de tube piézo	Balayage piloté par échantillon, étage de balayage piézoélectrique en boucle fermée
Plage de balayage XY	70×70um	Boucle fermée 100×100um
Résolution de numérisation XY	0,2 nm	Boucle fermée 0,5 nm
Mode de balayage Z		Numérisation pilotée par sonde
Plage de balayage Z	5um	5um
Résolution de numérisation Z	0,05 nm	0,05 nm
Vitesse de numérisation	0,6 Hz ~ 30 Hz	0,6 Hz ~ 30 Hz
Angle de numérisation	0~360°	0~360°
Poids de l'échantillon	≤15Kg	≤0,5 kg
Taille de la scène	Dia.100mm 【Facultatif】 Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm 【Facultatif】 Dia.200mm Dia.300mm
Étape XY Déplacement	100x100mm, Résolution 1um 【Facultatif】 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Résolution 1um 【Facultatif】 200x200mm 300x300mm
Déménagement de l'étape Z	15 mm, résolution 10 nm 【Facultatif】 20mm 25mm	15 mm, résolution 10 nm 【Facultatif】 20mm 25mm
Conception absorbant les chocs	Suspension à ressort 【Facultatif】 Amortisseur actif	Suspension à ressort 【Facultatif】 Amortisseur actif
Système optique	Objectif 5x Appareil photo numérique 5.0M 【Facultatif】 Objectif 10x Objectif 20x	Objectif 5x Appareil photo numérique 5.0M 【Facultatif】 Objectif 10x Objectif 20x
Production	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
Logiciel	Win XP/7/8/10	Win XP/7/8/10
Corps principal	Tête de lecture à portique, base en marbre	Tête de lecture à portique, base en marbre

	Résolution	Condition de travail	Température de travail	Dommage à l'échantillon	Profondeur d'inspection
MPS	Niveau atomique 0,1 nm	Normal, Liquide, Vide	Chambre ou basse température	Aucun	1 ~ 2 niveau d'atome
TEM	Pointe 0,3 ~ 0,5 nm Réseau 0,1 ~ 0,2 nm	Vide poussé	Température ambiante	Petit	Habituellement<100nm
MEB	6-10nm	Vide poussé	Température ambiante	Petit	10mm @10x 1um @10000x
FIM	Niveau atomique 0,1 nm	Super haut vide	30~80K	Dommage	Épaisseur d'atome

Microscope	Microscope optique	Microscope électronique	Microscope à sonde à balayage
Résolution maximale (um)	0,18	0,00011	0,00008
Remarque	Immersion dans l'huile 1500x	Imagerie des atomes de carbone du diamant	Imagerie d'atomes de carbone graphitiques d'ordre élevé
Remarque

Interaction sonde-échantillon	Mesurer le signal	Informations
Force	Force électrostatique	Forme
Courant tunnel	Courant	Forme, conductivité
Force magnétique	Phase	Structure magnétique
Force électrostatique	Phase	répartition des charges

Pictures

Microscope à force atomique à balayage de sonde

Model No.

A62.4510

Distance de travail

Niveau : 1.0, 或1.0 ~ 2.0

Échelle de mise au point

0,000000

Plage de mise au point

0,000000

Taille de l'étape de travail

Diamètre : 100 x 100 mm, diamètre 100 mm

Fonction standard

BF+DF+PH+DIC

Paramètres avancés des cookies

Cookies essentiels

Ces cookies activent des fonctionnalités de base telles que la sécurité, la vérification de l'identité et la gestion du réseau. Ces cookies ne peuvent pas être désactivés.

Activer les cookies marketing

Ces cookies sont utilisés pour suivre les performances publicitaires, consentir à l'envoi de données utilisateur liées à la publicité à Google et consentir à ce que le site Web diffuse des publicités personnalisées afin de fournir des services plus pertinents.

Activer les cookies fonctionnels

Ces cookies collectent des données pour mémoriser les choix que les utilisateurs font pour améliorer et offrir une expérience plus personnalisée.

Activer les cookies d'analyse

Ces cookies nous aident à comprendre comment les visiteurs interagissent avec notre site Web, à découvrir les erreurs et à fournir une meilleure analyse globale.

A62.4510

Microscope à force atomique à balayage de sonde

un service en ligne

envoyer un message

What's New

Contactez-nous

Service

Panier de demande

COMPARER LES PRODUITS

Paramètres avancés des cookies

Cookies essentiels

Activer les cookies marketing

Activer les cookies fonctionnels

Activer les cookies d'analyse