Pусский
English
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk
| ◆ Первый коммерческий атомно-силовой микроскоп в Китае, в котором образец удерживается неподвижно, а зонд перемещается и сканирует; ◆ Размер и вес образца практически не ограничены, что особенно подходит для обнаружения очень больших образцов; ◆ Предметный столик для образцов имеет широкие возможности расширения, что очень удобно для комбинации нескольких инструментов для обнаружения на месте; ◆ Электрическое управление подвижным столом для образцов и подъемным столом, которые можно запрограммировать на многоточечное положение для быстрого автоматического обнаружения; ◆ Портальная сканирующая головка, мраморное основание, стадия вакуумной адсорбции и магнитной адсорбции; ◆ Двигатель автоматически управляет интеллектуальным методом подачи иглы автоматического обнаружения пьезоэлектрической керамики для защиты зонда и образца; ◆ Позиционирование вспомогательного оптического микроскопа с большим увеличением, наблюдение в реальном времени и позиционирование области сканирования зонда и образца; ◆ Встроенный пользовательский редактор нелинейной коррекции сканера, нанометровая характеристика и точность измерения выше 98%. |
| А62.4510 | А62.4511 | |
| Режим работы | Контактный режим Режим постукивания 【Необязательно】 Режим трения Фазовый режим Магнитный режим Электростатический режим | Контактный режим Режим постукивания 【Необязательно】 Режим трения Фазовый режим Магнитный режим Электростатический режим |
| Кривая текущего спектра | КриваяRMS-Z КриваясилыFZ | КриваяRMS-Z КриваясилыFZ |
| Режим сканирования XY | Зондовое сканирование, Сканер пьезотрубок | Сканирование, управляемое образцом, этап сканирования с пьезоэлектрическим сдвигом с обратной связью |
| XY диапазон сканирования | 70×70 мкм | Замкнутый контур 100×100 мкм |
| XY разрешение сканирования | 0,2 нм | Замкнутый контур 0,5 нм |
| Z-режим сканирования | Зондовое сканирование | |
| Z-диапазон сканирования | 5 мкм | 5 мкм |
| Разрешение сканирования Z | 0,05 нм | 0,05 нм |
| Скорость сканирования | 0,6 Гц ~ 30 Гц | 0,6 Гц ~ 30 Гц |
| Угол сканирования | 0~360° | 0~360° |
| Вес образца | ≤15 кг | ≤0,5 кг |
| Размер сцены | Диаметр 100 мм 【Необязательно】 Диаметр 200 мм Диаметр 300 мм | Диаметр 100 мм 【Необязательно】 Диаметр 200 мм Диаметр 300 мм |
| Этап XY Перемещение | 100x100 мм, разрешение 1 мкм 【Необязательно】 200x200мм 300x300мм | 100x100 мм, разрешение 1 мкм 【Необязательно】 200x200мм 300x300мм |
| Этап Z Переезд | 15 мм, разрешение 10 нм 【Необязательно】 20мм 25 мм | 15 мм, разрешение 10 нм 【Необязательно】 20мм 25 мм |
| Амортизирующий дизайн | Пружинная подвеска 【Необязательно】 Активный амортизатор | Пружинная подвеска 【Необязательно】 Активный амортизатор |
| Оптическая система | Цель 5x 5,0-мегапиксельная цифровая камера 【Необязательно】 Цель 10x Цель 20x | Цель 5x 5,0-мегапиксельная цифровая камера 【Необязательно】 Цель 10x Цель 20x |
| Выход | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| Программного обеспечения | Выиграть ХР/7/8/10 | Выиграть ХР/7/8/10 |
| Основной корпус | Портальная сканирующая головка, мраморное основание | Портальная сканирующая головка, мраморное основание |
| Разрешение | Рабочее состояние | Рабочая температура | Повреждение образца | Глубина осмотра | |
| СЗМ | Уровень атома 0,1 нм | Нормальный, Жидкость, Вакуум | Комната или низкая температура | Никто | 1~2 атомный уровень |
| ТЕМ | Точка 0,3 ~ 0,5 нм Решетка 0,1~0,2 нм | Высокий вакуум | Комнатная температура | Маленький | Обычно<100нм |
| СЭМ | 6-10нм | Высокий вакуум | Комнатная температура | Маленький | 10 мм при 10x 1 мкм @10000x |
| ФИМ | Уровень атома 0,1 нм | Сверхвысокий вакуум | 30~80К | Ущерб | Толщина атома |
| микроскоп | Оптический микроскоп | Электронный микроскоп | Сканирующий зондовый микроскоп |
| Максимальное разрешение (мкм) | 0,18 | 0,00011 | 0,00008 |
| Примечание | Погружение в масло 1500x | Отображение атомов углерода алмаза | Визуализация графитовых атомов углерода высокого порядка |
 |  |  |
| Взаимодействие зонд-образец | Сигнал измерения | Информация |
| Сила | Электростатическая сила | Форма |
| Туннельный ток | Текущий | Форма, проводимость |
| Магнитная сила | Фаза | Магнитная структура |
| Электростатическая сила | Фаза | распределение заряда |
Huang Xin