ключ к микромиру!

Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.100043Почему мы?F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Пекин 100043, КитайОпто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.100043Почему мы?F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Пекин 100043, КитайОпто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто-Эду (Пекин) Ко., Лтд.Опто

Оптический + атомно-силовой микроскоп, все в одном
Оптический + атомно-силовой микроскоп, все в одном

Оптический + атомно-силовой микроскоп, все в одном

количество:
◆ Головка лазерного детектирования и столик сканирования образца интегрированы, структура очень стабильна, а защита от помех сильна.

◆ Устройство точного позиционирования зонда, регулировка выравнивания лазерного пятна очень проста

◆ Образец с одноосным приводом автоматически приближается к датчику вертикально, так что кончик иглы перпендикулярен сканируемому образцу.

◆ Интеллектуальный метод подачи иглы для автоматического обнаружения пьезоэлектрической керамики под давлением с электроприводом защищает датчик и образец.

◆ Автоматическое оптическое позиционирование, отсутствие необходимости фокусировки, наблюдение в режиме реального времени и позиционирование области сканирования образца зонда

◆ Противоударный метод пружинной подвески, простой и практичный, хороший противоударный эффект

◆ Металлический экранированный звуконепроницаемый бокс, встроенный высокоточный датчик температуры и влажности, мониторинг рабочей среды в режиме реального времени

◆ Встроенный пользовательский редактор нелинейной коррекции сканера, нанометровая характеристика и точность измерения выше 98%

Технические характеристикиА62.4500А62.4501А62.4503А62.4505
Режим работыРежим постукивания

【По желанию】
Контактный режим
Режим трения
Фазовый режим
Магнитный режим
Электростатический режим
Контактный режим
Режим постукивания

【По желанию】
Режим трения
Фазовый режим
Магнитный режим
Электростатический режим
Контактный режим
Режим постукивания

【По желанию】
Режим трения
Фазовый режим
Магнитный режим
Электростатический режим
Контактный режим
Режим постукивания

【По желанию】
Режим трения
Фазовый режим
Магнитный режим
Электростатический режим
Кривая текущего спектраКривая RMS-Z

【По желанию】
Кривая силы FZ
Кривая RMS-Z
Кривая силы FZ
Кривая RMS-Z
Кривая силы FZ
Кривая RMS-Z
Кривая силы FZ
XY диапазон сканирования20×20ум20×20ум50×50 мкм50×50 мкм
XY разрешение сканирования0,2 нм0,2 нм0,2 нм0,2 нм
Z-диапазон сканирования2,5 мкм2,5 мкм5 мкм5 мкм
Y Разрешение сканирования0,05 нм0,05 нм0,05 нм0,05 нм
Скорость сканирования0,6 Гц ~ 30 Гц0,6 Гц ~ 30 Гц0,6 Гц ~ 30 Гц0,6 Гц ~ 30 Гц
Угол сканирования0~360°0~360°0~360°0~360°
Размер образцаΦ≤90мм
В≤20мм
Φ≤90мм
В≤20мм
Φ≤90мм
В≤20мм
Φ≤90мм
В≤20мм
Перемещение сцены по осям XY15×15 мм15×15 мм25×25 мкм25×25 мкм
Амортизирующий дизайнПружинная подвескаПружинная подвеска
Металлическая защитная коробка
Пружинная подвеска
Металлическая защитная коробка
-
Оптическая система4x цель
Разрешение 2,5 мкм
4x цель
Разрешение 2,5 мкм
10-кратное увеличение цели
Разрешение 1 мкм
Окуляр 10x
Бесконечный план LWD APO 5x10x20x50x
5,0-мегапиксельная цифровая камера
10-дюймовый ЖК-монитор с измерением
Светодиодное освещение Колера
Коаксиальная грубая и точная фокусировка
ВыходUSB2.0/3.0USB2.0/3.0USB2.0/3.0USB2.0/3.0
Программного обеспеченияВыиграть ХР/7/8/10Выиграть ХР/7/8/10Выиграть ХР/7/8/10Выиграть ХР/7/8/10
 РазрешениеРабочее состояниеРабочая температураПовреждение образцаГлубина осмотра
СЗМУровень атома 0,1 нмНормальный, Жидкость, ВакуумКомната или низкая температураНикто1~2 атомный уровень
ТЕМТочка 0,3 ~ 0,5 нм
Решетка 0,1~0,2 нм
Высокий вакуумКомнатная температураМаленькийОбычно<100нм
СЭМ6-10нмВысокий вакуумКомнатная температураМаленький10 мм при 10x
1 мкм @10000x
ФИМУровень атома 0,1 нмСверхвысокий вакуум30~80КУщербТолщина атома
микроскопОптический микроскопЭлектронный микроскопСканирующий зондовый микроскоп
Максимальное разрешение (мкм)0,180,000110,00008
ПримечаниеПогружение в масло 1500xОтображение атомов углерода алмазаВизуализация графитовых атомов углерода высокого порядка
Взаимодействие зонд-образецСигнал измеренияИнформация
СилаЭлектростатическая силаФорма
Туннельный токТекущийФорма, проводимость
Магнитная силаФазаМагнитная структура
Электростатическая силаФазараспределение заряда


Pictures
Model No. A62.4505
Рабочее расстояние
Версия: 1.0, версия 1.0~2.0
Шкала фокусировки
0.000000
Диапазон фокусировки
0.000000
Размер рабочей сцены
Диаметр: 100x100 мм, диаметр 100 мм.
Стандартная функция
БФ+ДФ+Ф+ДИК

Интернет Сервис

Интернет Сервис
Мы здесь онлайн, чтобы поддержать!

отправить сообщение

*
*
*
*
*
7
close
7

Service

Scan the QR code Close
qr code

Корзина запросов

Данные пустые

Сравнение товаров

Данные пустые

Расширенные настройки файлов cookie

Основные файлы cookie

Эти файлы cookie обеспечивают основные функции, такие как безопасность, проверка личности и управление сетью. Эти файлы cookie невозможно отключить.

Включить маркетинговые файлы cookie

Эти файлы cookie используются для отслеживания эффективности рекламы, согласия на отправку пользовательских данных, связанных с рекламой, в Google, а также согласия на предоставление веб-сайтом персонализированной рекламы для предоставления более релевантных услуг.

Включить функциональные файлы cookie

Эти файлы cookie собирают данные, чтобы запомнить выбор пользователей, чтобы улучшить их и предоставить более персонализированный опыт.

Включить файлы cookie аналитики

Эти файлы cookie помогают нам понять, как посетители взаимодействуют с нашим веб-сайтом, обнаруживать ошибки и предоставлять более качественную общую аналитику.

Основные файлы cookie невозможно отключить.