Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Hvorfor oss (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Why Us)F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Beijing 100043, KinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Hvorfor oss (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Why Us)F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Beijing 100043, KinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Bei

Optisk + Atomic Force-mikroskop, alt-i-ett
Optisk + Atomic Force-mikroskop, alt-i-ett

A62.4505

Liker å samle

Optisk + Atomic Force-mikroskop, alt-i-ett

Antall:
◆ Laserdeteksjonshodet og prøveskanningstrinnet er integrert, strukturen er veldig stabil, og anti-interferensen er sterk

◆ Presisjonssondeposisjoneringsenhet, laserpunktjustering er veldig enkel

◆ Enakset drivprøve nærmer seg automatisk sonden vertikalt, slik at nålespissen er vinkelrett på prøveskanningen

◆ Den intelligente nålematingsmetoden med motorstyrt trykksatt piezoelektrisk keramisk automatisk deteksjon beskytter sonden og prøven

◆ Automatisk optisk posisjonering, ingen behov for fokus, sanntidsobservasjon og posisjonering av sondeprøveskanningsområdet

◆ Fjæroppheng støtsikker metode, enkel og praktisk, god støtsikker effekt

◆ Metallskjermet lydisolert boks, innebygd høypresisjons temperatur- og fuktighetssensor, sanntidsovervåking av arbeidsmiljøet

◆ Integrert skanner, ikke-lineær korreksjon brukerredigerer, nanometerkarakterisering og målenøyaktighet bedre enn 98 %

SpesifikasjonA62.4500A62.4501A62.4503A62.4505
ArbeidsmodusTrykkemodus

【Valgfri】
Kontaktmodus
Friksjonsmodus
Fasemodus
Magnetisk modus
Elektrostatisk modus
Kontaktmodus
Trykkemodus

【Valgfri】
Friksjonsmodus
Fasemodus
Magnetisk modus
Elektrostatisk modus
Kontaktmodus
Trykkemodus

【Valgfri】
Friksjonsmodus
Fasemodus
Magnetisk modus
Elektrostatisk modus
Kontaktmodus
Trykkemodus

【Valgfri】
Friksjonsmodus
Fasemodus
Magnetisk modus
Elektrostatisk modus
Gjeldende spektrumkurveRMS-Z kurve

【Valgfri】
FZ kraftkurve
RMS-Z kurve
FZ kraftkurve
RMS-Z kurve
FZ kraftkurve
RMS-Z kurve
FZ kraftkurve
XY skanningsområde20×20um20×20um50×50um50×50um
XY Skanneoppløsning0,2 nm0,2 nm0,2 nm0,2 nm
Z Skanneområde2,5 um2,5 um5 um5 um
Y Skanneoppløsning0,05 nm0,05 nm0,05 nm0,05 nm
Skannehastighet0,6 Hz ~ 30 Hz0,6 Hz ~ 30 Hz0,6 Hz ~ 30 Hz0,6 Hz ~ 30 Hz
Skannevinkel0~360°0~360°0~360°0~360°
PrøvestørrelseΦ≤90 mm
H≤20 mm
Φ≤90 mm
H≤20 mm
Φ≤90 mm
H≤20 mm
Φ≤90 mm
H≤20 mm
XY Stage Moving15×15 mm15×15 mm25×25um25×25um
Støtdempende designFjæropphengFjæroppheng
Metallskjermingsboks
Fjæroppheng
Metallskjermingsboks
-
Optisk system4x mål
Oppløsning 2,5um
4x mål
Oppløsning 2,5um
10x mål
Oppløsning 1um
Okular 10x
Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x
5,0M digitalkamera
10"LCD-skjerm, med måling
LED Kohler belysning
Koaksial grov- og finfokusering
ProduksjonUSB2.0/3.0USB2.0/3.0USB2.0/3.0USB2.0/3.0
ProgramvareVinn XP/7/8/10Vinn XP/7/8/10Vinn XP/7/8/10Vinn XP/7/8/10
 VedtakArbeidsforholdArbeidstempereringSkade på prøveInspeksjonsdybde
SPMAtomnivå 0,1nmNormal, flytende, vakuumRom eller lav tempereringIngen1~2 atomnivå
TEMPunkt 0,3~0,5nm
Gitter 0,1~0,2nm
Høyt vakuumRomtempereringLitenVanligvis<100nm
SEM6-10nmHøyt vakuumRomtempereringLiten10 mm @10x
1um @10000x
FIMAtomnivå 0,1nmSuper høy vakuum30~80KSkadeAtomtykkelse
MikroskopOptisk mikroskopElektronmikroskopSkanneprobemikroskop
Maks oppløsning (um)0.180.000110.00008
BemerkeOljenedsenking 1500xAvbildning av diamantkarbonatomerAvbildning av høyordens grafittiske karbonatomer
Probe-Sample-interaksjonMål signalInformasjon
MaktElektrostatisk kraftForm
TunnelstrømStrømForm, ledningsevne
Magnetisk kraftFaseMagnetisk struktur
Elektrostatisk kraftFaseladningsfordeling


Pictures
Model No. A62.4505
Arbeidsavstand
格式:1.0,或1.0~2.0
Fokuseringsskala
0,000000
Fokuseringsområde
0,000000
Størrelse på arbeidstrinn
Ø:100x100mm, Ø100mm
Standard funksjon
BF+DF+PH+DIC

online tjeneste

online tjeneste
Vi er her online for å støtte!

Send melding

*
*
*
*
*
7
close
7

Service

Scan the QR code Close
qr code

Data er tom

SAMMENLIGN PRODUKTER

Data er tom

Avanserte informasjonskapselinnstillinger

Viktige informasjonskapsler

Disse informasjonskapslene muliggjør kjernefunksjonalitet som sikkerhet, verifisering av identitet og nettverksadministrasjon. Disse informasjonskapslene kan ikke deaktiveres.

Aktiver markedsføringsinformasjonskapsler

Disse informasjonskapslene brukes til å spore annonseytelse, samtykke til sending av annonseringsrelaterte brukerdata til Google, og samtykke til at nettstedet viser personlig tilpasset annonsering for å tilby mer relevante tjenester.

Aktiver funksjonelle informasjonskapsler

Disse informasjonskapslene samler inn data for å huske valg brukere gjør for å forbedre og gi en mer personlig opplevelse.

Aktiver Analytics-informasjonskapsler

Disse informasjonskapslene hjelper oss å forstå hvordan besøkende samhandler med nettstedet vårt, oppdager feil og gir en bedre samlet analyse.

Viktige informasjonskapsler kan ikke deaktiveres.