dansk
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk
| ◆ Laserdetektionshovedet og prøvescanningstrinnet er integreret, strukturen er meget stabil, og anti-interferensen er stærk ◆ Præcisionssondepositioneringsenhed, laserpunktjustering er meget let ◆ Den enkeltaksede drevprøve nærmer sig automatisk sonden lodret, så nålespidsen er vinkelret på prøvescanningen ◆ Den intelligente nålefremføringsmetode med motorstyret piezoelektrisk keramisk automatisk detektion under tryk beskytter sonden og prøven ◆ Automatisk optisk positionering, ingen grund til at fokusere, realtidsobservation og positionering af sondeprøvescanningsområdet ◆ Fjederophæng stødsikker metode, enkel og praktisk, god stødsikker effekt ◆ Metalafskærmet lydtæt boks, indbygget højpræcisionstemperatur- og fugtighedssensor, realtidsovervågning af arbejdsmiljøet ◆ Integreret scanner ikke-lineær korrektion brugereditor, nanometer karakterisering og målenøjagtighed bedre end 98% |
| Specifikation | A62.4500 | A62.4501 | A62.4503 | A62.4505 |
| Arbejdstilstand | Tappetilstand 【Valgfri】 Kontakttilstand Friktionstilstand Fasetilstand Magnetisk tilstand Elektrostatisk tilstand | Kontakttilstand Tappetilstand 【Valgfri】 Friktionstilstand Fasetilstand Magnetisk tilstand Elektrostatisk tilstand | Kontakttilstand Tappetilstand 【Valgfri】 Friktionstilstand Fasetilstand Magnetisk tilstand Elektrostatisk tilstand | Kontakttilstand Tappetilstand 【Valgfri】 Friktionstilstand Fasetilstand Magnetisk tilstand Elektrostatisk tilstand |
| Nuværende spektrumkurve | RMS-Z kurve 【Valgfri】 FZ kraftkurve | RMS-Z kurve FZ kraftkurve | RMS-Z kurve FZ kraftkurve | RMS-Z kurve FZ kraftkurve |
| XY scanningsområde | 20×20um | 20×20um | 50×50um | 50×50um |
| XY-scanningsopløsning | 0,2 nm | 0,2 nm | 0,2 nm | 0,2 nm |
| Z scanningsområde | 2,5 um | 2,5 um | 5 um | 5 um |
| Y Scanningsopløsning | 0,05 nm | 0,05 nm | 0,05 nm | 0,05 nm |
| Scanningshastighed | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz |
| Scanningsvinkel | 0~360° | 0~360° | 0~360° | 0~360° |
| Prøvestørrelse | Φ≤90 mm H≤20 mm | Φ≤90 mm H≤20 mm | Φ≤90 mm H≤20 mm | Φ≤90 mm H≤20 mm |
| XY Stage Moving | 15×15 mm | 15×15 mm | 25×25um | 25×25um |
| Stødabsorberende design | Fjeder ophæng | Fjeder ophæng Metal afskærmningsboks | Fjeder ophæng Metal afskærmningsboks | - |
| Optisk system | 4x mål Opløsning 2,5um | 4x mål Opløsning 2,5um | 10x mål Opløsning 1um | Okular 10x Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x 5,0M digitalkamera 10"LCD-skærm, med måling LED Kohler belysning Koaksial grov- og finfokusering |
| Produktion | USB 2.0/3.0 | USB 2.0/3.0 | USB 2.0/3.0 | USB 2.0/3.0 |
| Software | Vind XP/7/8/10 | Vind XP/7/8/10 | Vind XP/7/8/10 | Vind XP/7/8/10 |
| Løsning | Arbejdsvilkår | Arbejdstemperering | Skade på prøve | Inspektionsdybde | |
| SPM | Atomniveau 0,1nm | Normal, flydende, vakuum | Rum eller lav temperering | Ingen | 1~2 Atomniveau |
| TEM | Punkt 0,3~0,5nm Gitter 0,1~0,2nm | Højt vakuum | Rum temperering | Lille | Normalt<100nm |
| SEM | 6-10 nm | Højt vakuum | Rum temperering | Lille | 10 mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Atomniveau 0,1nm | Super høj vakuum | 30~80K | Skade | Atomtykkelse |
| Mikroskop | Optisk mikroskop | Elektronmikroskop | Scanning probe mikroskop |
| Maks. opløsning (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Bemærkning | Olie nedsænkning 1500x | Billeddannelse af diamantkulstofatomer | Billeddannelse af højordens grafitiske carbonatomer |
 |  |  |
| Probe-Sample Interaktion | Mål signal | Information |
| Kraft | Elektrostatisk kraft | Form |
| Tunnelstrøm | Nuværende | Form, ledningsevne |
| Magnetisk kraft | Fase | Magnetisk struktur |
| Elektrostatisk kraft | Fase | afgiftsfordeling |
Huang Xin