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| ◆ O cabeçote de detecção a laser e o estágio de escaneamento de amostra são integrados, a estrutura é muito estável e o antiparasitário é forte ◆ Dispositivo de posicionamento de sonda de precisão, ajuste de alinhamento de ponto de laser é muito fácil ◆ A amostra da unidade de eixo único se aproxima automaticamente da sonda verticalmente, de modo que a ponta da agulha fique perpendicular à varredura da amostra ◆ O método de alimentação de agulha inteligente de detecção automática de cerâmica piezoelétrica pressurizada controlada por motor protege a sonda e a amostra ◆ Posicionamento óptico automático, sem necessidade de foco, observação em tempo real e posicionamento da área de digitalização da amostra da sonda ◆ Método à prova de choque de suspensão de mola, simples e prático, bom efeito à prova de choque ◆ Caixa à prova de som blindada em metal, sensor de temperatura e umidade embutido de alta precisão, monitoramento em tempo real do ambiente de trabalho ◆ Editor de usuário de correção não linear de scanner integrado, caracterização nanométrica e precisão de medição superior a 98% |
| Especificação | A62.4500 | A62.4501 | A62.4503 | A62.4505 |
| Modo de trabalho | Modo de toque 【Opcional】 Modo de contato Modo de fricção Modo de Fase Modo Magnético Modo Eletrostático | Modo de contato Modo de toque 【Opcional】 Modo de fricção Modo de Fase Modo Magnético Modo Eletrostático | Modo de contato Modo de toque 【Opcional】 Modo de fricção Modo de Fase Modo Magnético Modo Eletrostático | Modo de contato Modo de toque 【Opcional】 Modo de fricção Modo de Fase Modo Magnético Modo Eletrostático |
| Curva de espectro atual | Curva RMS-Z 【Opcional】 Curva de Força FZ | Curva RMS-Z Curva de Força FZ | Curva RMS-Z Curva de Força FZ | Curva RMS-Z Curva de Força FZ |
| Faixa de varredura XY | 20×20um | 20×20um | 50×50um | 50×50um |
| Resolução de digitalização XY | 0,2nm | 0,2nm | 0,2nm | 0,2nm |
| Alcance de Varredura Z | 2,5um | 2,5um | 5um | 5um |
| Y resolução de digitalização | 0,05nm | 0,05nm | 0,05nm | 0,05nm |
| Velocidade de digitalização | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz |
| Ângulo de digitalização | 0~360° | 0~360° | 0~360° | 0~360° |
| Tamanho da amostra | Φ≤90mm A≤20mm | Φ≤90mm A≤20mm | Φ≤90mm A≤20mm | Φ≤90mm A≤20mm |
| Palco XY em Movimento | 15×15mm | 15×15mm | 25×25um | 25×25um |
| Design de Absorção de Choque | Suspensão Mola | Suspensão Mola Caixa de blindagem de metal | Suspensão Mola Caixa de blindagem de metal | - |
| Sistema óptico | Objetivo 4x Resolução 2,5um | Objetivo 4x Resolução 2,5um | Objetivo 10x Resolução 1um | Ocular 10x Plano Infinity LWD APO 5x10x20x50x Câmera Digital 5.0M Monitor LCD de 10", com medição Iluminação LED Kohler Focagem grossa e fina coaxial |
| Resultado | USB 2.0/3.0 | USB 2.0/3.0 | USB 2.0/3.0 | USB 2.0/3.0 |
| Programas | Ganhe XP/7/8/10 | Ganhe XP/7/8/10 | Ganhe XP/7/8/10 | Ganhe XP/7/8/10 |
| Resolução | Condição de trabalho | Temperação de Trabalho | Danos à Amostra | Profundidade de Inspeção | |
| SPM | Nível atômico 0,1 nm | Normal, Líquido, Vácuo | Ambiente ou Baixa Temperatura | Nenhum | 1~2 nível de átomo |
| TEM | Ponto 0,3~0,5 nm Rede 0,1~0,2nm | alto vácuo | Temperatura ambiente | Pequena | Geralmente<100nm |
| SEM | 6-10nm | alto vácuo | Temperatura ambiente | Pequena | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Nível atômico 0,1 nm | Vácuo super alto | 30~80K | dano | Espessura do átomo |
| Microscópio | Microscópio óptico | Microscópio eletrônico | Microscópio de Sonda de Varredura |
| Resolução máxima (um) | 0,18 | 0,00011 | 0,00008 |
| Observação | Imersão em óleo 1500x | Imagem de átomos de carbono de diamante | Imagem de átomos de carbono grafíticos de alta ordem |
 |  |  |
| Interação sonda-amostra | Medir sinal | Em formação |
| Força | Forca eletrostatica | Forma |
| Corrente do Túnel | Atual | Forma, Condutividade |
| Força magnética | Estágio | Estrutura Magnética |
| Forca eletrostatica | Estágio | distribuição de carga |
Huang Xin