Norsk språk
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
| ◆ Laserdeteksjonshodet og prøveskanningstrinnet er integrert, strukturen er veldig stabil, og anti-interferensen er sterk ◆ Presisjonssondeposisjoneringsenhet, laserpunktjustering er veldig enkel ◆ Enakset drivprøve nærmer seg automatisk sonden vertikalt, slik at nålespissen er vinkelrett på prøveskanningen ◆ Den intelligente nålematingsmetoden med motorstyrt trykksatt piezoelektrisk keramisk automatisk deteksjon beskytter sonden og prøven ◆ Høypresisjon og bred piezoelektriske keramiske skannere kan velges fritt ◆ Objektivlinse med høy forstørrelse automatisk optisk posisjonering, ingen behov for fokus, sanntidsobservasjon og posisjonering av sondeprøveskanningsområdet ◆ Fjæroppheng støtsikker metode, enkel og praktisk, god støtsikker effekt ◆ Metallskjermet lydisolert boks, innebygd høypresisjons temperatur- og fuktighetssensor, sanntidsovervåking av arbeidsmiljøet ◆ Integrert skanner, ikke-lineær korreksjon brukerredigerer, nanometerkarakterisering og målenøyaktighet bedre enn 98 % |
| Spesifikasjon | A62.4500 | A62.4501 | A62.4503 | A62.4505 |
| Arbeidsmodus | Trykkemodus 【Valgfri】 Kontaktmodus Friksjonsmodus Fasemodus Magnetisk modus Elektrostatisk modus | Kontaktmodus Trykkemodus 【Valgfri】 Friksjonsmodus Fasemodus Magnetisk modus Elektrostatisk modus | Kontaktmodus Trykkemodus 【Valgfri】 Friksjonsmodus Fasemodus Magnetisk modus Elektrostatisk modus | Kontaktmodus Trykkemodus 【Valgfri】 Friksjonsmodus Fasemodus Magnetisk modus Elektrostatisk modus |
| Gjeldende spektrumkurve | RMS-Z kurve 【Valgfri】 FZ kraftkurve | RMS-Z kurve FZ kraftkurve | RMS-Z kurve FZ kraftkurve | RMS-Z kurve FZ kraftkurve |
| XY skanningsområde | 20×20um | 20×20um | 50×50um | 50×50um |
| XY Skanneoppløsning | 0,2 nm | 0,2 nm | 0,2 nm | 0,2 nm |
| Z Skanneområde | 2,5 um | 2,5 um | 5 um | 5 um |
| Y Skanneoppløsning | 0,05 nm | 0,05 nm | 0,05 nm | 0,05 nm |
| Skannehastighet | 0,6 Hz ~ 30 Hz | 0,6 Hz ~ 30 Hz | 0,6 Hz ~ 30 Hz | 0,6 Hz ~ 30 Hz |
| Skannevinkel | 0~360° | 0~360° | 0~360° | 0~360° |
| Prøvestørrelse | Φ≤90 mm H≤20 mm | Φ≤90 mm H≤20 mm | Φ≤90 mm H≤20 mm | Φ≤90 mm H≤20 mm |
| XY Stage Moving | 15×15 mm | 15×15 mm | 25×25um | 25×25um |
| Støtdempende design | Fjæroppheng | Fjæroppheng Metallskjermingsboks | Fjæroppheng Metallskjermingsboks | - |
| Optisk system | 4x mål Oppløsning 2,5um | 4x mål Oppløsning 2,5um | 10x mål Oppløsning 1um | Okular 10x Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x 5,0M digitalkamera 10"LCD-skjerm, med måling LED Kohler belysning Koaksial grov- og finfokusering |
| Produksjon | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| Programvare | Vinn XP/7/8/10 | Vinn XP/7/8/10 | Vinn XP/7/8/10 | Vinn XP/7/8/10 |
| Vedtak | Arbeidsforhold | Arbeidstemperering | Skade på prøve | Inspeksjonsdybde | |
| SPM | Atomnivå 0,1nm | Normal, flytende, vakuum | Rom eller lav temperering | Ingen | 1~2 atomnivå |
| TEM | Punkt 0,3~0,5nm Gitter 0,1~0,2nm | Høyt vakuum | Romtemperering | Liten | Vanligvis<100nm |
| SEM | 6-10nm | Høyt vakuum | Romtemperering | Liten | 10 mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Atomnivå 0,1nm | Super høy vakuum | 30~80K | Skade | Atomtykkelse |
| Mikroskop | Optisk mikroskop | Elektronmikroskop | Skanneprobemikroskop |
| Maks oppløsning (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Bemerke | Oljenedsenking 1500x | Avbildning av diamantkarbonatomer | Avbildning av høyordens grafittiske karbonatomer |
 |  |  |
| Probe-Sample-interaksjon | Mål signal | Informasjon |
| Makt | Elektrostatisk kraft | Form |
| Tunnelstrøm | Strøm | Form, ledningsevne |
| Magnetisk kraft | Fase | Magnetisk struktur |
| Elektrostatisk kraft | Fase | ladningsfordeling |
Huang Xin