Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Bakit Tayo (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Bakit Tayo)F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Beijing 100043, ChinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Bakit Tayo (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Bakit Tayo)F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Beijing 100043, ChinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu

Antas ng Pananaliksik Atomic Force Microscope
Antas ng Pananaliksik Atomic Force Microscope

Antas ng Pananaliksik Atomic Force Microscope

Dami:
◆ Ang laser detection head at ang sample scanning stage ay pinagsama, ang istraktura ay napakatatag, at ang anti-interference ay malakas.

◆ Precision probe positioning device, napakadali ng pagsasaayos ng pagkakahanay ng laser spot

◆ Ang sample ng single-axis drive ay awtomatikong lumalapit sa probe nang patayo, upang ang dulo ng karayom ​​ay patayo sa sample scan

◆ Ang matalinong paraan ng pagpapakain ng karayom ​​ng motor-controlled pressurized piezoelectric ceramic automatic detection pinoprotektahan ang probe at ang sample

◆ Ang mga high-precision at wide-ranging piezoelectric ceramic scanner ay maaaring malayang mapili

◆ Ang high-magnification objective lens ay awtomatikong optical positioning, hindi na kailangang mag-focus, real-time na pagmamasid at pagpoposisyon ng probe sample scanning area

◆ Spring suspension shockproof method, simple at praktikal, magandang shockproof effect

◆ Metal shielded soundproof box, built-in na high-precision na temperatura at humidity sensor, real-time na pagsubaybay sa working environment

◆ Integrated scanner nonlinear correction user editor, nanometer characterization at katumpakan ng pagsukat na mas mahusay kaysa sa 98%
PagtutukoyA62.4500A62.4501A62.4503A62.4505
Mode ng TrabahoPag-tap sa Mode

【Opsyonal】
Contact Mode
Friction Mode
Phase Mode
Magnetic Mode
Electrostatic Mode
Contact Mode
Pag-tap sa Mode

【Opsyonal】
Friction Mode
Phase Mode
Magnetic Mode
Electrostatic Mode
Contact Mode
Pag-tap sa Mode

【Opsyonal】
Friction Mode
Phase Mode
Magnetic Mode
Electrostatic Mode
Contact Mode
Pag-tap sa Mode

【Opsyonal】
Friction Mode
Phase Mode
Magnetic Mode
Electrostatic Mode
Kasalukuyang Spectrum CurveRMS-Z Curve

【Opsyonal】
FZ Force Curve
RMS-Z Curve
FZ Force Curve
RMS-Z Curve
FZ Force Curve
RMS-Z Curve
FZ Force Curve
Saklaw ng XY Scan20×20um20×20um50×50um50×50um
XY Scan Resolution0.2nm0.2nm0.2nm0.2nm
Z Scan Range2.5um2.5um5um5um
Y Scan Resolution0.05nm0.05nm0.05nm0.05nm
Bilis ng Pag-scan0.6Hz~30Hz0.6Hz~30Hz0.6Hz~30Hz0.6Hz~30Hz
Scan Angle0~360°0~360°0~360°0~360°
Sukat ng SampleΦ≤90mm
H≤20mm
Φ≤90mm
H≤20mm
Φ≤90mm
H≤20mm
Φ≤90mm
H≤20mm
XY Stage Moving15×15mm15×15mm25×25um25×25um
Shock-absorbing DesignSpring SuspensionSpring Suspension
Metal Shielding Box
Spring Suspension
Metal Shielding Box
-
Optical System4x Layunin
Resolusyon 2.5um
4x Layunin
Resolusyon 2.5um
10x Layunin
Resolusyon 1um
Eyepiece 10x
Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x
5.0M Digital Camera
10"LCD Monitor, May Pagsukat
Pag-iilaw ng LED Kohler
Coaxial Coarse & Fine Focusing
OutputUSB2.0/3.0USB2.0/3.0USB2.0/3.0USB2.0/3.0
SoftwareManalo ng XP/7/8/10Manalo ng XP/7/8/10Manalo ng XP/7/8/10Manalo ng XP/7/8/10
 ResolusyonKondisyon sa PaggawaPaggawa ng TemperasyonPinsala sa SampleLalim ng Inspeksyon
SPMAntas ng Atom 0.1nmNormal, Liquid, VacuumKwarto o Mababang Temperasyonwala1~2 Atom na Antas
TEMPoint 0.3~0.5nm
Lattice 0.1~0.2nm
Mataas na VaccumTemperasyon ng KwartoMaliitKaraniwan<100nm
SEM6-10nmMataas na VaccumTemperasyon ng KwartoMaliit10mm @10x
1um @10000x
FIMAntas ng Atom 0.1nmSuper High Vaccum30~80KDamageKapal ng Atom
MikroskopyoOptical MicroscopeElectron microscopePag-scan ng Probe Microscope
Max Resolution (um)0.180.000110.00008
PunaPaglulubog ng langis 1500xImaging diamond carbon atomsImaging high-order graphitic carbon atoms
Probe-Sample na InteraksyonSukatin ang SignalImpormasyon
PuwersaElectrostatic ForceHugis
Tunnel CurrentKasalukuyanHugis, Conductivity
Magnetic forcePhaseMagnetic na Istraktura
Electrostatic ForcePhasepamamahagi ng bayad

Pictures
Model No. A62.4503
Distansya ng Trabaho
格式:1.0,或1.0~2.0
Scale ng Pagtutok
0.000000
Saklaw ng Pagtutok
0.000000
Laki ng Yugto ng Paggawa
格式:100x100mm,或 Dia.100mm

online na serbisyo

online na serbisyo
Nandito kami online para suportahan!

Ipadala ang Mensahe

*
*
*
*
*
7
close
7

Service

Scan the QR code Close
qr code

Inquiry Basket

Walang laman ang data

PAGKUMPARAHIN ANG MGA PRODUKTO

Walang laman ang data

Mga Advanced na Setting ng Cookie

Mahahalagang Cookies

Ang mga cookies na ito ay nagbibigay-daan sa pangunahing functionality tulad ng seguridad, pag-verify ng pagkakakilanlan at pamamahala ng network. Hindi maaaring i-disable ang cookies na ito.

Paganahin ang Marketing Cookies

Ginagamit ang cookies na ito upang subaybayan ang pagganap ng advertising, pagpayag sa pagpapadala ng data ng user na nauugnay sa advertising sa Google, at pagpayag para sa website na maghatid ng personalized na pag-advertise upang magbigay ng mga mas nauugnay na serbisyo.

Paganahin ang Functional Cookies

Nangongolekta ng data ang cookies na ito para matandaan ang mga pagpipiliang ginagawa ng mga user para mapabuti at magbigay ng mas personalized na karanasan.

Paganahin ang Analytics Cookies

Tinutulungan kami ng cookies na ito na maunawaan kung paano nakikipag-ugnayan ang mga bisita sa aming website, tumuklas ng mga error at magbigay ng mas mahusay na pangkalahatang analytics.

Hindi maaaring i-disable ang mahahalagang cookies.