OPTO-EDU A62.4510 Probe Scanning Atomic Force Microscope

Probe Scanning Atomic Force Microscope

Ang disenyo ng ulo ng pag-scan ng gantry, base ng marmol, yugto ng vacuum adsorption, laki ng sample at timbang ay karaniwang walang limitasyon

Intelligent na paraan ng pagpapakain ng karayom na may awtomatikong pagtuklas ng mga piezoelectric ceramics na kontrolado ng motor upang maprotektahan ang mga probe at sample

Awtomatikong optical positioning, hindi na kailangang ayusin ang focus, real-time na pagmamasid at positioning probe sample scanning area

Nilagyan ng closed metal shield, pneumatic shock-absorbing table, malakas na anti-interference na kakayahan;

Ang pinagsamang scanner na nonlinear correction user editor, nanometer characterization at katumpakan ng pagsukat ay mas mahusay kaysa sa 98%

◆ Ang unang komersyal na atomic force microscope sa China na nagpapanatili sa sample na nakatigil at ang probe ay gumagalaw at nag-scan;

◆ Ang laki at timbang ng sample ay halos walang limitasyon, lalo na angkop para sa pagtuklas ng napakalaking sample;

◆ Ang sample stage ay lubos na napapalawak, na kung saan ay lubos na maginhawa para sa multi-instrumentong kumbinasyon upang mapagtanto ang in-situ detection;

◆ Electric control ng sample moving table at lifting table, na maaaring i-program na may multi-point na posisyon upang mapagtanto ang mabilis na awtomatikong pagtuklas;

◆ Gantry scanning head design, marble base, vacuum adsorption at magnetic adsorption stage;

◆ Awtomatikong kinokontrol ng motor ang intelligent na paraan ng pagpapakain ng karayom ng piezoelectric ceramic automatic detection upang protektahan ang probe at ang sample;

◆ High magnification auxiliary optical microscope positioning, real-time na pagmamasid at pagpoposisyon ng probe at sample scanning area;

◆ Integrated scanner nonlinear correction user editor, nanometer characterization at katumpakan ng pagsukat na mas mahusay kaysa sa 98%.

	A62.4510	A62.4511
Mode ng Trabaho	Contact Mode Pag-tap sa Mode 【Opsyonal】 Friction Mode Phase Mode Magnetic Mode Electrostatic Mode	Contact Mode Pag-tap sa Mode 【Opsyonal】 Friction Mode Phase Mode Magnetic Mode Electrostatic Mode
Kasalukuyang Spectrum Curve	RMS-ZKurba FZPuwersaKurba	RMS-ZKurba FZPuwersaKurba
XY Scan Mode	Probe Driven Scanning, Piezo Tube Scanner	Sample Driven Scanning, Closed Loop Piezoelectric Shift Scanning Stage
Saklaw ng XY Scan	70×70um	Saradong Loop 100×100um
XY Scan Resolution	0.2nm	Sarado na Loop 0.5nm
Z Scan Mode		Probe Driven Scanning
Z Scan Range	5um	5um
Z Scan Resolution	0.05nm	0.05nm
Bilis ng Pag-scan	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
Scan Angle	0~360°	0~360°
Sample na Timbang	≤15Kg	≤0.5Kg
Laki ng Stage	Dia.100mm 【Opsyonal】 Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm 【Opsyonal】 Dia.200mm Dia.300mm
Stage XY Paglipat	100x100mm, Resolution 1um 【Opsyonal】 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Resolution 1um 【Opsyonal】 200x200mm 300x300mm
Stage Z Paglipat	15mm, Resolution 10nm 【Opsyonal】 20mm 25mm	15mm, Resolution 10nm 【Opsyonal】 20mm 25mm
Shock-absorbing Design	Spring Suspension 【Opsyonal】 Aktibong Shock Absorber	Spring Suspension 【Opsyonal】 Aktibong Shock Absorber
Optical System	Layunin 5x 5.0M Digital Camera 【Opsyonal】 Layunin 10x Layunin 20x	Layunin 5x 5.0M Digital Camera 【Opsyonal】 Layunin 10x Layunin 20x
Output	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
Software	Manalo ng XP/7/8/10	Manalo ng XP/7/8/10
Pangunahing Katawan	Gantry Scan Head, Marble Base	Gantry Scan Head, Marble Base

	Resolusyon	Kondisyon sa Paggawa	Paggawa ng Temperasyon	Pinsala sa Sample	Lalim ng Inspeksyon
SPM	Antas ng Atom 0.1nm	Normal, Liquid, Vacuum	Kwarto o Mababang Temperasyon	wala	1~2 Atom na Antas
TEM	Point 0.3~0.5nm Lattice 0.1~0.2nm	Mataas na Vaccum	Temperasyon ng Kwarto	Maliit	Karaniwan<100nm
SEM	6-10nm	Mataas na Vaccum	Temperasyon ng Kwarto	Maliit	10mm @10x 1um @10000x
FIM	Antas ng Atom 0.1nm	Super High Vaccum	30~80K	Damage	Kapal ng Atom

Mikroskopyo	Optical Microscope	Electron microscope	Pag-scan ng Probe Microscope
Max Resolution (um)	0.18	0.00011	0.00008
Puna	Paglulubog ng langis 1500x	Imaging diamond carbon atoms	Imaging high-order graphitic carbon atoms
Puna

Probe-Sample na Interaksyon	Sukatin ang Signal	Impormasyon
Puwersa	Electrostatic Force	Hugis
Tunnel Current	Kasalukuyan	Hugis, Conductivity
Magnetic force	Phase	Magnetic na Istraktura
Electrostatic Force	Phase	pamamahagi ng bayad

Pictures

Model No.

A62.4510

Distansya ng Trabaho

格式:1.0,或1.0~2.0

Scale ng Pagtutok

0.000000

Saklaw ng Pagtutok

0.000000

Laki ng Yugto ng Paggawa

格式:100x100mm,或 Dia.100mm

Karaniwang Pag-andar

BF+DF+PH+DIC

Mga Advanced na Setting ng Cookie

Mahahalagang Cookies

Ang mga cookies na ito ay nagbibigay-daan sa pangunahing functionality tulad ng seguridad, pag-verify ng pagkakakilanlan at pamamahala ng network. Hindi maaaring i-disable ang cookies na ito.

Paganahin ang Marketing Cookies

Ginagamit ang cookies na ito upang subaybayan ang pagganap ng advertising, pagpayag sa pagpapadala ng data ng user na nauugnay sa advertising sa Google, at pagpayag para sa website na maghatid ng personalized na pag-advertise upang magbigay ng mga mas nauugnay na serbisyo.

Paganahin ang Functional Cookies

Nangongolekta ng data ang cookies na ito para matandaan ang mga pagpipiliang ginagawa ng mga user para mapabuti at magbigay ng mas personalized na karanasan.

Paganahin ang Analytics Cookies

Tinutulungan kami ng cookies na ito na maunawaan kung paano nakikipag-ugnayan ang mga bisita sa aming website, tumuklas ng mga error at magbigay ng mas mahusay na pangkalahatang analytics.

A62.4510

Probe Scanning Atomic Force Microscope

online na serbisyo

Ipadala ang Mensahe

What's New

Makipag-ugnay sa Amin

Service

Inquiry Basket

PAGKUMPARAHIN ANG MGA PRODUKTO

Mga Advanced na Setting ng Cookie

Mahahalagang Cookies

Paganahin ang Marketing Cookies

Paganahin ang Functional Cookies

Paganahin ang Analytics Cookies