OPTO-EDU A62.4510 Probe Scanning Atomic Force Microscope

Mikroskop Daya Atom Pengimbasan Probe

Reka bentuk kepala pengimbasan gantri, asas marmar, peringkat penjerapan vakum, saiz sampel dan berat pada asasnya tidak terhad

Kaedah penyusuan jarum pintar dengan pengesanan automatik seramik piezoelektrik dikawal motor untuk melindungi probe dan sampel

Kedudukan optik automatik, tidak perlu melaraskan fokus, pemerhatian masa nyata dan kawasan pengimbasan sampel kuar kedudukan

Dilengkapi dengan perisai logam tertutup, meja penyerap kejutan pneumatik, keupayaan anti-gangguan yang kuat;

Editor pengguna pembetulan bukan linear pengimbas bersepadu, pencirian nanometer dan ketepatan pengukuran adalah lebih baik daripada 98%

◆ Mikroskop daya atom komersial pertama di China yang memastikan sampel tidak bergerak dan probe bergerak serta mengimbas;

◆ Saiz dan berat sampel hampir tidak terhad, terutamanya sesuai untuk pengesanan sampel yang sangat besar;

◆ Peringkat sampel sangat boleh dikembangkan, yang sangat mudah untuk gabungan pelbagai instrumen untuk merealisasikan pengesanan in-situ;

◆ Kawalan elektrik bagi meja bergerak sampel dan meja angkat, yang boleh diprogramkan dengan kedudukan berbilang titik untuk merealisasikan pengesanan automatik yang pantas;

◆ Reka bentuk kepala pengimbasan gantri, asas marmar, penjerapan vakum dan peringkat penjerapan magnet;

◆ Motor secara automatik mengawal kaedah penyusuan jarum pintar pengesanan automatik seramik piezoelektrik untuk melindungi probe dan sampel;

◆ Kedudukan mikroskop optik tambahan pembesaran tinggi, pemerhatian masa nyata dan kedudukan kawasan probe dan sampel imbasan;

◆ Editor pengguna pembetulan tak linear pengimbas bersepadu, pencirian nanometer dan ketepatan pengukuran lebih baik daripada 98%.

	A62.4510	A62.4511
Mod Kerja	Mod Kenalan Mod Mengetik 【Pilihan】 Mod Geseran Mod Fasa Mod Magnetik Mod Elektrostatik	Mod Kenalan Mod Mengetik 【Pilihan】 Mod Geseran Mod Fasa Mod Magnetik Mod Elektrostatik
Keluk Spektrum Semasa	RMS-ZLengkung FZPaksaLengkung	RMS-ZLengkung FZPaksaLengkung
Mod Imbasan XY	Pengimbasan Didorong Siasatan, Pengimbas Tiub Piezo	Pengimbasan Didorong Sampel, Peringkat Pengimbasan Anjakan Piezoelektrik Gelung Tertutup
Julat Imbasan XY	70×70um	Gelung Tertutup 100×100um
Resolusi Imbasan XY	0.2nm	Gelung Tertutup 0.5nm
Mod Imbasan Z		Pengimbasan Didorong Siasatan
Julat Imbasan Z	5um	5um
Resolusi Imbasan Z	0.05nm	0.05nm
Kelajuan Imbasan	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
Sudut Imbasan	0~360°	0~360°
Berat Sampel	≤15Kg	≤0.5Kg
Saiz Pentas	Dia.100mm 【Pilihan】 Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm 【Pilihan】 Dia.200mm Dia.300mm
Peringkat XY Bergerak	100x100mm, Resolusi 1um 【Pilihan】 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Resolusi 1um 【Pilihan】 200x200mm 300x300mm
Peringkat Z Bergerak	15mm, Resolusi 10nm 【Pilihan】 20mm 25mm	15mm, Resolusi 10nm 【Pilihan】 20mm 25mm
Reka Bentuk Menyerap Kejutan	Penggantungan Spring 【Pilihan】 Penyerap Hentakan Aktif	Penggantungan Spring 【Pilihan】 Penyerap Hentakan Aktif
Sistem Optik	Objektif 5x Kamera Digital 5.0M 【Pilihan】 Objektif 10x Objektif 20x	Objektif 5x Kamera Digital 5.0M 【Pilihan】 Objektif 10x Objektif 20x
Pengeluaran	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
Perisian	Menang XP/7/8/10	Menang XP/7/8/10
Badan Utama	Kepala Imbasan Gantry, Pangkalan Marmar	Kepala Imbasan Gantry, Pangkalan Marmar

	Resolusi	Keadaan bekerja	Temperamen Bekerja	Kerosakan pada Sampel	Kedalaman Pemeriksaan
SPM	Aras Atom 0.1nm	Normal, Cecair, Vakum	Bilik atau Suhu Rendah	tiada	1~2 Tahap Atom
TEM	Titik 0.3~0.5nm Kekisi 0.1~0.2nm	Vakum Tinggi	Suhu Bilik	Kecil	Biasanya<100nm
SEM	6-10nm	Vakum Tinggi	Suhu Bilik	Kecil	10mm @10x 1um @10000x
FIM	Aras Atom 0.1nm	Vakum Super Tinggi	30~80K	Kerosakan	Ketebalan Atom

Mikroskop	Mikroskop Optik	Mikroskop Elektron	Mengimbas Mikroskop Probe
Resolusi Maks (um)	0.18	0.00011	0.00008
Teguran	Rendaman minyak 1500x	Pengimejan atom karbon berlian	Pengimejan atom karbon grafit tertib tinggi
Teguran

Interaksi Sampel Probe	Ukur Isyarat	Maklumat
Paksa	Daya Elektrostatik	bentuk
Arus Terowong	semasa	Bentuk, Kekonduksian
Daya Magnet	fasa	Struktur Magnet
Daya Elektrostatik	fasa	pengagihan caj

Pictures

Model No.

A62.4510

Jarak Kerja

格式:1.0,或1.0~2.0

Skala Pemfokusan

0.000000

Julat Fokus

0.000000

Saiz Peringkat Kerja

格式:100x100mm,或 Dia.100mm

Fungsi Standard

BF+DF+PH+DIC

Tetapan Kuki Lanjutan

Kuki Penting

Kuki ini membolehkan fungsi teras seperti keselamatan, pengesahan identiti dan pengurusan rangkaian. Kuki ini tidak boleh dilumpuhkan.

Dayakan Kuki Pemasaran

Kuki ini digunakan untuk menjejak prestasi pengiklanan, membenarkan penghantaran data pengguna berkaitan pengiklanan kepada Google dan membenarkan tapak web menyiarkan pengiklanan diperibadikan untuk menyediakan perkhidmatan yang lebih berkaitan.

Dayakan Kuki Fungsian

Kuki ini mengumpul data untuk mengingati pilihan yang dibuat pengguna untuk menambah baik dan memberikan pengalaman yang lebih diperibadikan.

Dayakan Kuki Analitis

Kuki ini membantu kami memahami cara pelawat berinteraksi dengan tapak web kami, menemui ralat dan menyediakan analisis keseluruhan yang lebih baik.

A62.4510

Mikroskop Daya Atom Pengimbasan Probe

perkhidmatan dalam talian

Hantar Mesej

What's New

Hubungi Kami

Service

BANDINGKAN PRODUK

Tetapan Kuki Lanjutan

Kuki Penting

Dayakan Kuki Pemasaran

Dayakan Kuki Fungsian

Dayakan Kuki Analitis