Melayu
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk
| mikroskop daya atom mudah alih ◆ Kepala pengesanan laser dan peringkat pengimbasan sampel disepadukan, strukturnya sangat stabil, dan anti-gangguan kuat ◆ Peranti kedudukan probe ketepatan, pelarasan penjajaran titik laser adalah sangat mudah ◆ Sampel pemacu paksi tunggal secara automatik menghampiri probe secara menegak, supaya hujung jarum berserenjang dengan imbasan sampel ◆ Kaedah penyusuan jarum pintar pengesanan automatik seramik piezoelektrik bertekanan motor yang dikawal melindungi probe dan sampel ◆ Kedudukan optik automatik, tidak perlu fokus, pemerhatian masa nyata dan kedudukan kawasan pengimbasan sampel probe ◆ Kaedah kalis kejutan suspensi spring, mudah dan praktikal, kesan kalis kejutan yang baik ◆ Kotak kalis bunyi terlindung logam, sensor suhu dan kelembapan berketepatan tinggi terbina dalam, pemantauan masa nyata persekitaran kerja ◆ Editor pengguna pembetulan tak linear pengimbas bersepadu, pencirian nanometer dan ketepatan ukuran lebih baik daripada 98% |
| Spesifikasi | A62.4500 | A62.4501 | A62.4503 | A62.4505 |
| Mod Kerja | Mod Mengetik 【Pilihan】 Mod Kenalan Mod Geseran Mod Fasa Mod Magnetik Mod Elektrostatik | Mod Kenalan Mod Mengetik 【Pilihan】 Mod Geseran Mod Fasa Mod Magnetik Mod Elektrostatik | Mod Kenalan Mod Mengetik 【Pilihan】 Mod Geseran Mod Fasa Mod Magnetik Mod Elektrostatik | Mod Kenalan Mod Mengetik 【Pilihan】 Mod Geseran Mod Fasa Mod Magnetik Mod Elektrostatik |
| Keluk Spektrum Semasa | Keluk RMS-Z 【Pilihan】 Lengkung Daya FZ | Keluk RMS-Z Lengkung Daya FZ | Keluk RMS-Z Lengkung Daya FZ | Keluk RMS-Z Lengkung Daya FZ |
| Julat Imbasan XY | 20×20um | 20×20um | 50×50um | 50×50um |
| Resolusi Imbasan XY | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm |
| Julat Imbasan Z | 2.5um | 2.5um | 5um | 5um |
| Resolusi Imbasan Y | 0.05nm | 0.05nm | 0.05nm | 0.05nm |
| Kelajuan Imbasan | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz | 0.6Hz~30Hz |
| Sudut Imbasan | 0~360° | 0~360° | 0~360° | 0~360° |
| Saiz sampel | Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm | Φ≤90mm H≤20mm |
| Pergerakan Peringkat XY | 15×15mm | 15×15mm | 25×25um | 25×25um |
| Reka Bentuk Menyerap Kejutan | Penggantungan Spring | Penggantungan Spring Kotak Perisai Logam | Penggantungan Spring Kotak Perisai Logam | - |
| Sistem Optik | 4x Objektif Resolusi 2.5um | 4x Objektif Resolusi 2.5um | 10x Objektif Resolusi 1um | Kanta mata 10x Pelan Infiniti LWD APO 5x10x20x50x Kamera Digital 5.0M Monitor LCD 10", Dengan Pengukuran Pencahayaan Kohler LED Pemfokusan Kasar & Halus Sepaksi |
| Pengeluaran | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| Perisian | Menang XP/7/8/10 | Menang XP/7/8/10 | Menang XP/7/8/10 | Menang XP/7/8/10 |
| Resolusi | Keadaan bekerja | Temperamen Bekerja | Kerosakan pada Sampel | Kedalaman Pemeriksaan | |
| SPM | Aras Atom 0.1nm | Normal, Cecair, Vakum | Bilik atau Suhu Rendah | tiada | 1~2 Tahap Atom |
| TEM | Titik 0.3~0.5nm Kekisi 0.1~0.2nm | Vakum Tinggi | Suhu Bilik | Kecil | Biasanya<100nm |
| SEM | 6-10nm | Vakum Tinggi | Suhu Bilik | Kecil | 10mm @10x 1um @10000x |
| FIM | Aras Atom 0.1nm | Vakum Super Tinggi | 30~80K | Kerosakan | Ketebalan Atom |
| Mikroskop | Mikroskop Optik | Mikroskop Elektron | Mengimbas Mikroskop Probe |
| Resolusi Maks (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Teguran | Rendaman minyak 1500x | Pengimejan atom karbon berlian | Pengimejan atom karbon grafit tertib tinggi |
 |  |  |
| Interaksi Sampel Probe | Ukur Isyarat | Maklumat |
| Paksa | Daya Elektrostatik | bentuk |
| Arus Terowong | semasa | Bentuk, Kekonduksian |
| Daya Magnet | fasa | Struktur Magnet |
| Daya Elektrostatik | fasa | pengagihan caj |
Huang Xin