svenska
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
Nederlands
Norsk språk
| bärbart atomkraftmikroskop ◆ Laserdetekteringshuvudet och provskanningssteget är integrerade, strukturen är mycket stabil och anti-interferensen är stark ◆ Precisionssondpositioneringsanordning, laserpunktsjustering är mycket enkel ◆ Det enaxliga drivprovet närmar sig automatiskt sonden vertikalt så att nålspetsen är vinkelrät mot provskanningen ◆ Den intelligenta nålmatningsmetoden för motorstyrd trycksatt piezoelektrisk keramisk automatisk detektering skyddar sonden och provet ◆ Automatisk optisk positionering, inget behov av att fokusera, observation i realtid och positionering av sondens provavsökningsområde ◆ Fjäderupphängning stötsäker metod, enkel och praktisk, bra stötsäker effekt ◆ Metallskärmad ljudisolerad låda, inbyggd högprecisionstemperatur- och fuktighetssensor, realtidsövervakning av arbetsmiljön ◆ Integrerad skanner olinjär korrigering användarredigerare, nanometerkarakterisering och mätnoggrannhet bättre än 98% |
| Specifikation | A62.4500 | A62.4501 | A62.4503 | A62.4505 |
| Arbetsläge | Tryckläge 【Frivillig】 Kontaktläge Friktionsläge Fasläge Magnetiskt läge Elektrostatiskt läge | Kontaktläge Tryckläge 【Frivillig】 Friktionsläge Fasläge Magnetiskt läge Elektrostatiskt läge | Kontaktläge Tryckläge 【Frivillig】 Friktionsläge Fasläge Magnetiskt läge Elektrostatiskt läge | Kontaktläge Tryckläge 【Frivillig】 Friktionsläge Fasläge Magnetiskt läge Elektrostatiskt läge |
| Aktuell spektrumkurva | RMS-Z kurva 【Frivillig】 FZ kraftkurva | RMS-Z kurva FZ kraftkurva | RMS-Z kurva FZ kraftkurva | RMS-Z kurva FZ kraftkurva |
| XY Scan Range | 20×20um | 20×20um | 50×50um | 50×50um |
| XY skanningsupplösning | 0,2 nm | 0,2 nm | 0,2 nm | 0,2 nm |
| Z Scan Range | 2,5 um | 2,5 um | 5um | 5um |
| Y Skanningsupplösning | 0,05 nm | 0,05 nm | 0,05 nm | 0,05 nm |
| Skanningshastighet | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz | 0,6Hz~30Hz |
| Skanna vinkel | 0~360° | 0~360° | 0~360° | 0~360° |
| Provstorlek | Φ≤90mm H≤20 mm | Φ≤90mm H≤20 mm | Φ≤90mm H≤20 mm | Φ≤90mm H≤20 mm |
| XY Stage Moving | 15×15 mm | 15×15 mm | 25×25um | 25×25um |
| Stötdämpande design | Fjäderupphängning | Fjäderupphängning Metallskyddslåda | Fjäderupphängning Metallskyddslåda | - |
| Optiskt system | 4x mål Upplösning 2,5um | 4x mål Upplösning 2,5um | 10x mål Upplösning 1um | Okular 10x Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x 5.0M digitalkamera 10"LCD-skärm, med mätning LED Kohler-belysning Koaxial Grov & Finfokusering |
| Produktion | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 | USB2.0/3.0 |
| programvara | Vinn XP/7/8/10 | Vinn XP/7/8/10 | Vinn XP/7/8/10 | Vinn XP/7/8/10 |
| Upplösning | Fungerande skick | Arbetstemperering | Skador på provet | Inspektionsdjup | |
| SPM | Atomnivå 0,1nm | Normal, flytande, vakuum | Rum eller låg temperatur | Ingen | 1~2 Atomnivå |
| TEM | Punkt 0,3~0,5nm Gitter 0,1~0,2nm | Högt vakuum | Rumstemperatur | Små | Vanligtvis<100nm |
| SEM | 6-10 nm | Högt vakuum | Rumstemperatur | Små | 10 mm @10x 1um @10 000x |
| FIM | Atomnivå 0,1nm | Superhögt vakuum | 30~80K | Damge | Atomtjocklek |
| Mikroskop | Optiskt mikroskop | Elektron mikroskop | Scanning Probe Mikroskop |
| Maxupplösning (um) | 0.18 | 0.00011 | 0.00008 |
| Anmärkning | Oljedoppning 1500x | Avbildning av diamantkolatomer | Avbildning av högordnings grafitiska kolatomer |
 |  |  |
| Probe-Sample Interaktion | Mät signal | Information |
| Tvinga | Elektrostatisk kraft | Form |
| Tunnelström | Nuvarande | Form, ledningsförmåga |
| Magnetisk kraft | Fas | Magnetisk struktur |
| Elektrostatisk kraft | Fas | avgiftsfördelning |
Huang Xin