A50.2001-A Deksel for operasjonsmikroskop, 120*250cm
A50.2001-B Deksel for operasjonsmikroskop, 132*391cm




Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Hvorfor oss (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Why Us)F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Beijing 100043, KinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Hvorfor oss (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Why Us)F-1501 Wanda Plaza, No.18 Shijingshan Road, Beijing 100043, KinaOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Bei
A50.2001-A Deksel for operasjonsmikroskop, 120*250cm
A50.2001-B Deksel for operasjonsmikroskop, 132*391cm




|
Pictures
|
||||
|---|---|---|---|---|
| Model No. | A50.2001-A | A50.2001-B | ||
|
Fokuseringsskala
|
0,000000 | 0,000000 | ||
|
Fokuseringsområde
|
0,000000 | 0,000000 | ||
|
Størrelse på arbeidstrinn
|
Ø:100x100mm, Ø100mm | Ø:100x100mm, Ø100mm | ||
|
Head Light Path
|
E20:P80 | E20:P80 | ||
|
Hode interpupillært
|
54~75 mm | 54~75 mm |
Disse informasjonskapslene muliggjør kjernefunksjonalitet som sikkerhet, verifisering av identitet og nettverksadministrasjon. Disse informasjonskapslene kan ikke deaktiveres.
Disse informasjonskapslene brukes til å spore annonseytelse, samtykke til sending av annonseringsrelaterte brukerdata til Google, og samtykke til at nettstedet viser personlig tilpasset annonsering for å tilby mer relevante tjenester.
Disse informasjonskapslene samler inn data for å huske valg brukere gjør for å forbedre og gi en mer personlig opplevelse.
Disse informasjonskapslene hjelper oss å forstå hvordan besøkende samhandler med nettstedet vårt, oppdager feil og gir en bedre samlet analyse.