¡La clave del mundo micro!

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A63 SEM Escaneo de electrones

SEM,El microscopio electrónico de barrido se aplica principalmente al análisis de la apariencia de la superficie de la muestra. Está equipado con espectro de energía que se utiliza para el análisis de composición y equipado con un pequeño aparato de pulverización iónica para ayudar con el tratamiento de la superficie de la muestra.

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Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno de sobremesa, SE+BSE+EDS, 100.000X
A63.7016
Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno de sobremesa, SE+BSE+EDS, 100.000X
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Máquina de litografía por haz de electrones EBL
Máquina de litografía por haz de electrones EBL
A63.7010
Máquina de litografía por haz de electrones EBL
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High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope, 12KV, 600000x
A63.7235
High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope, 12KV, 600000x
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Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SE+BSE, 150000x
A63.7001
Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SE+BSE, 150000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
A63.7002
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
A63.7003
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
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Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
A63.7004
Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
A63.7005
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
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Scanning Transmission Electron Microscope (STEM), 50KV, 800000x
A63.7230
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM), 50KV, 800000x
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Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
A63.7190-12
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
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Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
A63.7190-68
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
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Field Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 1500000x
A63.7220
Field Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 1500000x
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Thermal Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 800000x
A63.7225
Thermal Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 800000x
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2000000x
A63.7140
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2000000x
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2000000x
A63.7160
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2000000x
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Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope, SE+CCD, 1x~2000000x
A63.7088
Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope, SE+CCD, 1x~2000000x
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Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SE, 20x~60000x
A63.7006
Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SE, 20x~60000x
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Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SE, 20x~150000x
A63.7015
Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SE, 20x~150000x
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 1000000x
A63.7040
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 1000000x
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Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SED+BSDE+CCD, 8x~300000x
A63.7069
Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, SED+BSDE+CCD, 8x~300000x
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Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, bajo vacío, SED+BSDE+CCD, 8x~300000x
Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, bajo vacío, SED+BSDE+CCD, 8x~300000x
A63.7069-LV
Microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno, bajo vacío, SED+BSDE+CCD, 8x~300000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
A63.7069-L
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
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Microscopio electrónico de barrido con pistola de emisión de campo Schottky, SED+CCD, 8x~800000x, etapa intermedia automática de 5 ejes
A63.7080
Microscopio electrónico de barrido con pistola de emisión de campo Schottky, SED+CCD, 8x~800000x, etapa intermedia automática de 5 ejes
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Microscopio electrónico de barrido con pistola de emisión de campo Schottky, SED+CCD, 8x~800000x, escenario grande automático de 5 ejes
A63.7080-L
Microscopio electrónico de barrido con pistola de emisión de campo Schottky, SED+CCD, 8x~800000x, escenario grande automático de 5 ejes
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Schottky Field Emission Gun Microscopio electrónico de barrido Pro FEG SEM, 6x~1000000x
A63.7081
Schottky Field Emission Gun Microscopio electrónico de barrido Pro FEG SEM, 6x~1000000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
A63.7020
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
A63.7032
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
A63.7032-A
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2500000x
A63.7050
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2500000x
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