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A63 SEM 走査電子

SEM,走査型電子顕微鏡は、主に試料表面の外観分析に適用されます。組成分析に用いるエネルギースペクトルを搭載し、試料の表面処理を補助する小型イオンスパッタ装置を搭載しています。

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ベンチトップタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡、SE+BSE+EDS、100,000X
A63.7016
ベンチトップタングステンフィラメント走査型電子顕微鏡、SE+BSE+EDS、100,000X
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EBL 電子ビーム描画装置
EBL 電子ビーム描画装置
A63.7010
EBL 電子ビーム描画装置
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High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope, 12KV, 600000x
A63.7235
High-Throughput Field Emission Scanning Electron Microscope, 12KV, 600000x
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タングステン フィラメント走査型電子顕微鏡、SE+BSE、150000 倍
A63.7001
タングステン フィラメント走査型電子顕微鏡、SE+BSE、150000 倍
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
A63.7002
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 200000x, 6nm@18KV(SE)
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
A63.7003
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x
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Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
A63.7004
Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 360000x, 3nm@20KV
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
A63.7005
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, SE+BSE, 100000x, 2.5nm@20KV
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Scanning Transmission Electron Microscope (STEM), 50KV, 800000x
A63.7230
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM), 50KV, 800000x
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Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
A63.7190-12
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
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Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
A63.7190-68
Critical Dimension Scanning Electron Microscope, 300000x
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Field Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 1500000x
A63.7220
Field Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 1500000x
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Thermal Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 800000x
A63.7225
Thermal Emission Transmission Electron Microscope, 200KV, 800000x
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2000000x
A63.7140
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2000000x
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2000000x
A63.7160
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2000000x
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Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope, SE+CCD, 1x~2000000x
A63.7088
Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope, SE+CCD, 1x~2000000x
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タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 SE 20倍～60000倍
A63.7006
タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 SE 20倍～60000倍
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タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 SE 20倍～150000倍
A63.7015
タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡 SE 20倍～150000倍
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 1000000x
A63.7040
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 1000000x
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タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡、SED+BSDE+CCD、8x~300000x
A63.7069
タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡、SED+BSDE+CCD、8x~300000x
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タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡、低真空、SED+BSDE+CCD、8x~300000x
A63.7069-LV
タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡、低真空、SED+BSDE+CCD、8x~300000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
A63.7069-L
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+CCD, 8x~300000x
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ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡 SED+CCD 8倍～80万倍 5軸自動中段
A63.7080
ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡 SED+CCD 8倍～80万倍 5軸自動中段
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ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡 SED+CCD 8倍～80万倍 5軸自動大型ステージ
A63.7080-L
ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡 SED+CCD 8倍～80万倍 5軸自動大型ステージ
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ショットキー電界放出銃走査型電子顕微鏡 Pro FEG SEM、6x~1000000x
A63.7081
ショットキー電界放出銃走査型電子顕微鏡 Pro FEG SEM、6x~1000000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
A63.7020
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
A63.7032
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
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Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
A63.7032-A
Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE, 300000x
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Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2500000x
A63.7050
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope, 2500000x
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