ab

Атомын хүчний микроскопыг (AFM) хэрхэн сонгох вэ?

Микроскопын хөгжлийн товч түүх

• Эхний үе:Оптик микроскоп(17-р зуунд зохион бүтээсэн)

• Хоёр дахь үе: Электрон микроскоп (1932)

1933 онд Германы Руска, Нолл нар: анхны сканнерийн электрон микроскоп (SEM), өндөр вакуум шаарддаг бөгөөд атомыг ялгаж чаддаггүй;
Дамжуулах электрон микроскоп (TEM), нимгэн давхаргын дээжийн өндөр вакуум, задгай болон интерфейсийн судалгаа, өндөр үнэ;
Талбайн электрон микроскоп (FEM) болон хээрийн ионы микроскоп (FEM) нь r<100nm-ийн үзүүрт атомын бүтцийг илрүүлдэг бөгөөд дээж бэлтгэх нь төвөгтэй байдаг;

• Гурав дахь үе: Сканнерийн датчик микроскоп(SPM) (1982)

1982 IBM Цюрих лаборатори ба Бинниг Рорер нь гадаргуугийн шинжилгээний анхны шинэ төрлийн төхөөрөмж - Scanning Tunneling Microscope (STM);
1986 Бинниг, Куат, Гербер нар анхны атомын микроскопыг (AFM) зохион бүтээжээ.

Сканнерийн мэдрэгчтэй микроскоп (SPM) бусад микроскоптой харьцуулахад

Одоогийн байдлаар микроскопийн шинжилгээний үндсэн аргууд:

Эхний үе:Оптик микроскоп(Интерференц, төвлөрөл, дижитал голографийг оруулаад)
Хоёр дахь үе:Электрон микроскоп(ҮндсэндээSEMболонTEM)
Гурав дахь үе: Сканнерийн микроскоп (SPM)

Гурван үеийн микроскопуудын нарийвчлалын харьцуулалт

Сканнерийн микроскоп (SPM) гэж юу вэ

Scanning Probe Microscope (SPM) нь гурав дахь үеийн микроскоп бөгөөд нэрнээс нь харахад сканнер + датчик + микроскоп юм. SPM-ийн зарчим нь сорьцын тусламжтайгаар дээжийн гадаргууг растер шугамаар сканнердаж, дээжийн гадаргуугийн шинж чанарыг бүртгэж, датчик болон дээжийн харилцан үйлчлэлийг илрүүлэх замаар дүрсийг олж авах явдал юм.

Сканнерийн датчик микроскопын ангилал (SPM)

Сорьц ба дээжийн хоорондох илрүүлэх хүчний ялгаанаас хамааранСканнерийн мэдрэгчийн микроскоп (SPM)гэсэн хоёр төрөлд хувааж болно.Scanning Tunneling Microscopy (STM), илрүүлэхийн тулд гүйдлийг ашигладаг бөгөөдАтомын хүчний микроскоп (AFM)илрүүлэхийн тулд янз бүрийн хүчийг ашигладаг.

AFMӨөр өөр хүчний дагуу соронзон хүчний микроскоп, үрэлтийн хүчний микроскоп, хажуугийн хүчний микроскоп, химийн хүчний микроскоп, цахилгаан статик хүчний микроскоп болон бусад төрөлд хувааж болно.

хоорондын ялгааSTMболонAFMпрограмууд:

Scanning Tunneling Microscope (STM) нь голчлон дамжуулагчийг судлахад ашиглагддаг.
Атомын хүчний микроскоп (AFM) нь зөвхөн дамжуулагчийг судлахаас гадна дамжуулагч бус бодисыг судлахад ашиглаж болно.

Талбайн гүн, янз бүрийн микроскопоор дээж бэлтгэх

Сканнерийн микроскопын (SPM) давуу болон сул талууд

Микроскопын шинэ төрлийн багажийн хувьд SPM нь өмнөх микроскопын шинжилгээний хэрэгслүүдтэй харьцуулахад илт давуу талтай:

• SPM нь маш өндөр нарийвчлалтай, жишээ нь STM параллель ба дээжийн гадаргуугийн чиглэлтэй перпендикуляр нь 0.1нм ба 0.01нм хүрэх боломжтой.

• SPM нь дээжийн гадаргуугийн бүтцийг бодит цаг хугацаанд, өндөр нягтралтай 3D дүрслэлээр авдаг бөгөөд энэ нь зарим аналитик хэрэглүүрээс ялгаатай нь дээжийн гадаргуугийн бүтцийг шууд бус буюу тооцооллын аргаар тооцдог.

• SPM нь гадаргуугийн согог, гадаргуугийн өөрчлөлт, гадаргуугийн адсорбатын морфологи, байршил, шингээгчээс үүдэлтэй гадаргуугийн өөрчлөлтийг шууд ажиглах боломжийг олгодог.

• SPM-ийн хэрэглээний орчин сул, зөвхөн вакуумд бус агаар мандал, нам температур, хэвийн температур, өндөр температур, тэр ч байтугай уусмалд ч ажиллах боломжтой.

• SPM нь дээж бэлтгэх тусгай арга техник шаарддаггүй бөгөөд илрүүлэх процесс нь үндсэндээ дээжинд хор хөнөөлгүй байдаг.

• Сканнерийн хонгилын спектроскопитой хамт гадаргуугийн янз бүрийн түвшний төлөв байдлын нягтрал, гадаргуугийн электронуудын зангилаа, гадаргуугийн потенциал саадуудын өөрчлөлт гэх мэт гадаргуугийн бүтцийн талаарх мэдээллийг авах боломжтой.

• Үүний зэрэгцээ SPM нь бас зарим сул талуудтай

• Скан хийх хурд. Түүний ажиллах зарчим нь дүрсийг сканнердах тодорхой чанар бүхий датчикийг хянах явдал тул скан хийх хурд нь хязгаарлагдмал бөгөөд илрүүлэх үр ашиг нь бусад микроскопийн аргуудаас бага байдаг.

• Скан хийх хүрээ. Пьезоэлектрик керамикийн суналтын хүрээгээр хязгаарлагддаг бөгөөд SPM-ийн хамгийн их сканнердах хүрээ нь хэдэн арван микроноос хэдэн зуун микроны хооронд байна.

• байрлал тогтоох нарийвчлал. Пьезоэлектрик керамик нь байршлын нарийвчлалыг хангах үүднээс бага хэмжээний хөдөлгөөнтэй, механик тохируулгын нарийвчлалыг үүнтэй холбох боломжгүй тул электрон микроскоп гэх мэт том хэмжээний тасралтгүй томруулж чадахгүй бөгөөд шинж чанарыг нь олж тогтоох, олоход хэцүү байдаг. бүтэц.

• Дээжийн гадаргуугийн тэгш бус байдал. Хоолойн пьезоэлектрик сканнерууд нь одоогоор өргөн хэрэглэгддэг бөгөөд тэдгээрийн босоо суналтын хүрээ нь хавтгай сканнерын хүрээний 1/10 байна. Шинжилгээнд хамрагдах дээжийн гадаргуугийн долгион нь сканнердах хоолойн тэлэлт, агшилтын хязгаараас хэтэрвэл энэ нь системийг доголдуулах эсвэл бүр датчикийг гэмтээх болно.

• Зүүний хурц байдал. Систем нь дээжийг сканнердахдаа датчикийн хөдөлгөөний траекторийг илрүүлэх замаар гадаргуугийн топографийг гаргадаг тул датчикийн геометрийн өргөн, муруйлтын радиус, анизотропи нь дүрсийг гажуудуулах болно.

Атомын хүчний микроскопын үндсэн зарчим (AFM)

Сул хүчинд маш мэдрэмтгий байдаг консолын нэг үзүүр нь бэхлэгдсэн, нөгөө үзүүр нь жижигхэн зүүний үзүүртэй байдаг. Зүүний үзүүр нь дээжийн гадаргуутай хөнгөн харьцдаг. Зүүний үзүүр дэх атомууд болон дээжийн гадаргуу дээрх атомуудын хооронд маш сул түлхэлтийн хүч байдаг тул сканнердах явцад үүнийг хянадаг. Хүч тогтмол байх үед үзүүртэй консол нь дээжийн үзүүр ба гадаргуугийн атомуудын хоорондох хүчний изоплантай тохирох дээжийн гадаргуутай перпендикуляр чиглэлд хэлбэлзэнэ. Оптик илрүүлэх арга эсвэл хонгилын гүйдлийг илрүүлэх аргыг ашиглан сканнерын цэг бүрт тохирох микроконтилверийн байрлалын өөрчлөлтийг хэмжиж, дээжийн гадаргуугийн топографийн мэдээллийг авах боломжтой.

Атомын хүчний микроскопын (AFM) бүтэц, ажлын диаграмм

Атомын хүчний микроскопын AFM систем нь хүч илрүүлэх хэсэг, байрлал илрүүлэх хэсэг, санал хүсэлтийн цахим систем, пьезоэлектрик сканнерын систем гэсэн дөрвөн хэсэгт хуваагддаг.

1. Хүчээр илрүүлэх Cantilever

Атомын хүчний микроскоп (AFM) системд илрүүлэх хүч нь атомуудын хоорондох ван дер Ваалсын хүч юм. Тиймээс энэ системд атомуудын хоорондох хүчний өөрчлөлтийг илрүүлэхийн тулд жижигхэн консол (Cantilever) ашигладаг. Бяцхан консол нь урт, өргөн, уян хатан модуль, үзүүрийн хэлбэр гэх мэт тодорхой үзүүлэлтүүдтэй байдаг бөгөөд эдгээр үзүүлэлтүүдийг сонгохдоо дээжийн шинж чанар, янз бүрийн үйлдлийн горимд тулгуурлан өөр өөр төрлийн датчикийг сонгодог.

2. Байршил мэдрэмтгий фото илрүүлэгч

Зүүний үзүүр нь дээжтэй харьцах үед консол нь савлуурах тул лазер нь консолын үзүүрийг туяарах үед туссан гэрлийн байрлал нь консолын савлуураас болж өөрчлөгдөнө. , энэ нь офсет үүсэхэд хүргэдэг. Бүхэл бүтэн системд лазер цэгийн байрлал илрүүлэгч нь офсетийг бүртгэж, хянагч дохио боловсруулахад зориулж цахилгаан дохио болгон хувиргахад ашиглагддаг.

3. Санал хүсэлтийн цахим систем: Санал хүсэлтийн гогцоо

AFM санал хүсэлтийн хяналтыг компьютерийн систем болон электрон хэлхээгээр гүйцэтгэдэг. AFM-ийн ажиллагаа нь өндөр хурдтай, хүчирхэг компьютерийн хяналтан дор явагддаг. Удирдлагын систем нь хоёр үндсэн үүрэгтэй: (1) Пьезоэлектрик хувиргагчийн XY чиглэлийн сканнерыг хянах жолоодлогын хүчдэлийг хангах; (2) Тогтмол хүчний горимд микроскопын илрүүлэх гогцооны оролтын аналог дохионы тогтмол утгыг хадгална. Компьютер нь A/D хувиргах замаар давталтын хүчдэлийг (өөрөөр хэлбэл тогтоосон утга ба бодит хэмжсэн утгын зөрүү) уншиж, харьцуулдаг. Өөр өөр хүчдэлийн утгын дагуу хяналтын систем нь A/D хувиргагч руу уншсан хазайлтыг засахын тулд Z чиглэлд пьезоэлектрик мэдрэгчийн тэлэлт, агшилтыг тохируулахын тулд харгалзах хүчдэлийг тасралтгүй гаргаж, харьцуулах хүрдний гаралтын хүчдэлийг хадгалдаг. тогтмол.
Электрон хэлхээний систем нь компьютер болон сканнердах системийг холбох үүргийг гүйцэтгэдэг. Цахим хэлхээ нь пьезоэлектрик керамик хоолойн хүчдэлийг хангаж, байрлал мэдрэмтгий төхөөрөмжөөс дохиог хүлээн авч, зүүний үзүүр ба дээжийн хоорондох зайг хянах санал хүсэлтийн системийг бүрдүүлдэг.

4. Пьезоэлектрик сканнер

Дээжийн AFM сканнерийн нарийн хяналтыг сканнер хийдэг. Сканнерт пьезоэлектрик хувиргагч суурилуулсан бөгөөд пьезоэлектрик төхөөрөмж нь дээж эсвэл датчикийн байрлалыг X, Y, Z гэсэн гурван чиглэлд нарийн хянадаг.
Одоогийн байдлаар сканнерын матрицын материал нь голчлон хар тугалганы цирконатын титанат [Pb(Ti,Zr)O3] -аар хийсэн пьезоэлектрик керамик материал юм. Пьезоэлектрик керамик нь пьезоэлектрик нөлөөтэй, өөрөөр хэлбэл хүчдэл хэрэглэх үед агшилтын шинж чанартай байдаг ба агшилтын зэрэг нь хэрэглэсэн хүчдэлтэй пропорциональ байна. Пьезоэлектрик керамик нь 1мВ-ээс 1000В хүртэлх хүчдэлийн дохиог нанометрийн аравны нэгээс хэдэн микрометр хүртэлх шилжилт хөдөлгөөн болгон хувиргаж чаддаг.

Атомын хүчний микроскопын хүч ба ажлын горим (AFM)

AFM-ийн үзүүр ба дээжийн хооронд хэд хэдэн харилцан үйлчлэлийн хүч байдаг бөгөөд эдгээрийг дараах хүснэгтэд жагсаав. Өөр өөр хүчний дагуу AFM-ийг янз бүрийн ажлын горимд сунгаж болно: фазын горим, соронзон горим, цахилгаан статик хүчний горим, өргөтгөсөн эсэргүүцэл, хажуугийн хүч, хүчний модуляц гэх мэт.

AFM-ийн ажлын горимыг датчик ба дээжийн хоорондох хүчний хэлбэрээр ангилдаг. Үйлдлийн гурван үндсэн горим байдаг: Холбоо барих горим, холбоо барихгүй горим, товших горим.

Холбоо барих горим

Холбоо барих горим нь AFM-ийн хамгийн шууд дүрслэлийн горим юм. Сканнердах дүрслэлийг бүхэлд нь хийх явцад датчикийн үзүүр нь дээжийн гадаргуутай үргэлж нягт холбоотой байх ба тэдгээрийн хоорондын харилцан үйлчлэлийн хүч нь түлхэх хүч бөгөөд хүчний хэмжээ нь 10-10-аас 10-6Н хооронд хэлбэлздэг. Сканнердах явцад консолын үзүүрт үзүүлэх хүч нь сорьцын гадаргуугийн бүтцийг гэмтээх чадвартай байдаг. Холбоо барих горим нь зөөлөн гадаргуутай дээжийг туршихад тохиромжгүй.

Давуу тал:Хурдан скан хийх хурд нь "атомын нягтралтай" зургийг авах цорын ганц горим юм.
Сул тал:Хажуугийн хүч нь зургийн чанарт нөлөөлдөг. Агаарт сорьцын гадаргуу дээр шингэсэн шингэний давхаргын хялгасан судасны үйл ажиллагааны улмаас зүүний үзүүр ба дээжийн хоорондох наалдац маш их байдаг. Хажуугийн хүч ба наалдамхай хүчний хосолсон хүч нь зургийн орон зайн нарийвчлалыг бууруулахад хүргэдэг. Мөн дээжийг үзүүрээр нь маажих нь зөөлөн дээжийг (биологийн дээж, полимер гэх мэт) гэмтээж болно.

Холбоо барихгүй горим

Дээжийн гадаргууг контактгүй горимд шалгах үед консол нь дээжийн гадаргуугаас 5-10 нм-ийн зайд хэлбэлздэг. Энэ үед дээж ба зүүний үзүүр хоорондын харилцан үйлчлэлийг ван дер Ваалсын хүчээр удирддаг, ихэвчлэн 10 - 12 Н, дээж устахгүй, зүүний үзүүр нь бохирдохгүй, ялангуяа гадаргууг судлахад тохиромжтой. зөөлөн эд зүйлсээс. Энэ горимын сул тал нь өрөөний температурт энэ горимд хүрэхэд маш хэцүү байдаг. Дээжний гадаргуу дээр усны нимгэн давхарга зайлшгүй хуримтлагддаг тул дээж ба үзүүрийн хооронд жижиг хялгасан судасны гүүр үүсгэж, үзүүр ба гадаргууг хооронд нь татаж, үзүүрийн гадаргууд үзүүлэх даралтыг нэмэгдүүлнэ.

Давуу тал:Дээжний гадаргуу дээр ямар ч хүч үйлчилдэггүй.
Сул тал:Ихэвчлэн уснаас маш их айдаг дээжинд хэрэглэдэг. Зүүний үзүүр нь дээжээс тусгаарлагдсан тул хажуугийн нарийвчлал бага байна; Шингээх давхаргад хүрэхээс сэргийлж, зүүний үзүүрийг наалдуулахын тулд сканнердах хурд нь Tapping Mode ба Contact Mode AFM-ээс бага байх ба дээжийн гадаргуу дээрх шингээх шингэний давхарга хэт нимгэн байх ёстой. зузаан, зүүний үзүүр нь шингэний давхаргад шингэж, санал хүсэлтийн тогтворгүй байдлыг үүсгэж, дээжийг зурж болно.

Товших горим

Товших горим нь холбоо барих горим ба контактгүй горимын хооронд байдаг бөгөөд энэ нь эрлийз ойлголт юм. Консол нь дээжийн гадаргуугаас дээш резонансын давтамжтайгаар хэлбэлздэг бөгөөд үзүүр нь зөвхөн дээжийн гадаргуу дээр богино хугацаанд, үе үе хүрдэг. Энэ нь дээжтэй холбогдох үзүүрээс үүсэх хажуугийн хүч мэдэгдэхүйц багасна гэсэн үг юм. Тиймээс AFM-ийн товших горим нь тендерийн дээжийг илрүүлэх хамгийн сайн сонголтуудын нэг юм. AFM нь дээжийг дүрсэлж, сканнердаж эхэлмэгц төхөөрөмж нь объектын гадаргуугийн шинжилгээнд зориулж гадаргуугийн тэгш бус байдал, дундаж өндөр, оргил ба хөндийн хоорондох хамгийн их зай гэх мэт холбогдох өгөгдлийг системд оруулах болно. Үүний зэрэгцээ AFM нь үзүүр ба дээжийн хоорондох хүчийг тодорхойлохын тулд консолын гулзайлтын зэргийг хэмжиж, хүчийг хэмжих ажлыг дуусгах боломжтой.

Давуу тал:Хажуугийн хүчний нөлөөлөл сайн арилж, шингээлтийн шингэний давхаргаас үүсэх хүч багасч, зургийн нягтрал өндөр байна. Гадаргууг гэмтээхгүйгээр зөөлөн, хэврэг, наалдамхай дээжийг харахад тохиромжтой.
Сул тал:холбоо барих горимоос илүү удаан скан хийх хурд.

Атомын хүчний микроскопын хэрэглээний талбарууд (AFM)

Материалын шинжлэх ухаан:Металл, хайлш, нимгэн хальс, талст, керамик, полимер, нийлмэл материал гэх мэт бичил нано материалын гадаргуугийн морфологи, барзгар, механик шинж чанар, орон нутгийн цахилгаан шинж чанар гэх мэт;

Хагас дамжуулагч ба микроэлектроник:Чип эсвэл вафель гадаргуугийн 3D бүтэц, барзгар байдал, согог илрүүлэх, орон нутгийн цахилгаан шинж чанар гэх мэт;

Биологи ба анагаах ухаан:ДНХ, уураг, эс, вирус, биологийн макромолекулын in situ дүрслэл, судалгаа гэх мэт;
Физик, хими: Материалын гадаргуугийн атомын бүтцийг илрүүлэх, атомуудын харилцан үйлчлэх хүч, гадаргуугийн химийн урвалыг судлах, химийн урвалын атомын түвшний өөрчлөлтийг ажиглах гэх мэт;

Нано багшийн боловсрол:нанотехнологийн хичээл заах, материалын гадаргуу дээрх нано бүтцийг ажиглах, нанометрийн онолын анхан шатны мэдлэгт суралцах, оюутнуудын шинжлэх ухааны судалгаанд сонирхлыг төлөвшүүлэх гэх мэт.

Атомын хүчний микроскопын (AFM) давуу тал

• AFM нь гурван хэмжээст дүрслэл хийх чадвартай, хажуугийн болон босоо чиглэлд маш өндөр нарийвчлалтай, хажуугийн чиглэлд 0.2 нм, босоо чиглэлд 0.05 нм хүрэх боломжтой;

• AFM нь дээжийн гадаргуугийн бодит цагийн, бодит гурван хэмжээст дүрсийг авдаг бөгөөд энэ нь зарим програм хангамжийн алгоритмаар дээжийн гадаргуугийн бүтцийг гаргаж авдаг зарим аналитик хэрэглүүрээс ялгаатай;

• AFM нь ажиглагдсан дээжийн тусгал болон цахилгаан дамжуулах чанарт ямар нэгэн хязгаарлалт тавьдаггүй. Энэ нь дамжуулагч дээж, дамжуулагч бус дээж, биологийн дээжийг хэмжих боломжтой.

• AFM-ийн хэрэглээний орчин сул, зөвхөн вакуумд төдийгүй агаар мандал, бага температур, хэвийн температур, өндөр температур, тэр ч байтугай уусмалд ажиллах боломжтой;

• AFM нь дээж бэлтгэх тусгай технологи шаарддаггүй бөгөөд илрүүлэх процесс нь үндсэндээ дээжийг гэмтээхгүй;

• AFM нь дээжийн гадаргуугийн гурван хэмжээст морфологи, барзгар байдал, ширхэгийн хэмжээ, хальсны зузаан, гадаргуугийн согог гэх мэтийг ажиглахаас гадна бичил харуурын бодисын механик, цахилгаан, дулааны шинж чанарыг илрүүлэх боломжтой.

• Opto-Edu Atomic Force Microscope (AFM) загварууд

A64.4500 Сургалтын түвшин, Атомын хүчний микроскоп (AFM)

Заах түвшин Тусдаа хянагч ба үндсэн биеийн загвар, товших горимтой, 4х зорилттой, заах эдийн засгийн загвар.

◆ Бяцхан, салдаг загвартай, авч явах, заахад маш хялбар

◆ Лазер илрүүлэх толгой ба дээж сканнердах үе шат нь нэгдсэн, бүтэц нь маш тогтвортой, хөндлөнгийн эсрэг хүчтэй

◆ Нарийвчлалтай датчикийн байрлал тогтоох төхөөрөмж, лазер цэгийн тохируулга нь маш хялбар байдаг

◆ Нэг тэнхлэгт хөтлөгчтэй дээж нь автоматаар босоо тэнхлэгт ойртож, зүүний үзүүр нь дээж сканнерт перпендикуляр байна.

◆ Моторын удирдлагатай даралтат пьезоэлектрик керамик автомат илрүүлэлтийн ухаалаг зүү тэжээх арга нь датчик болон дээжийг хамгаалдаг.

◆ Автомат оптик байрлал, анхаарлаа төвлөрүүлэх шаардлагагүй, датчикийн дээж сканнердах хэсгийн бодит цагийн ажиглалт, байрлалыг тогтоох

◆ Хаврын түдгэлзүүлэлтийн цохилтод тэсвэртэй арга, энгийн бөгөөд практик, сайн цохилтод тэсвэртэй

◆ Нэгдсэн сканнер шугаман бус залруулгын хэрэглэгчийн засварлагч, нанометрийн шинж чанар, хэмжилтийн нарийвчлал 98% -иас илүү

A62.4500-ийн дэлгэрэнгүй мэдээллийг харахын тулд товшино уу

A62.4501 Үндсэн түвшин, Атомын хүчний микроскоп (AFM)

Үндсэн түвшин, салангид хянагч ба үндсэн биеийн загвар, холбоо барих горим, товших горим, 4х зорилттой.

1. Сканнердах датчик болон дээжийн үе шат нь нэгдсэн бөгөөд хөндлөнгийн эсрэг чадвар хүчтэй;

2. Нарийвчлалтай лазер болон датчикийн байрлал тогтоох төхөөрөмж, датчикийг солих, цэгийг тохируулах нь энгийн бөгөөд тохиромжтой;

3. Зүүний үзүүр нь дээжийг сканнердах хэсэгт перпендикуляр байхаар дээж ойртох датчикийн аргыг ашиглах;

4. Хөдөлгүүрийн импульсийн автомат удирдлага нь сканнердах хэсгийн нарийн байрлалыг тогтоохын тулд сорьцыг босоо тэнхлэгт ойртуулахын тулд дээжийг жолооддог;

5. 4X объектив линзний оптик байрлал, анхаарлаа төвлөрүүлэх шаардлагагүй, датчикийн дээж сканнердах хэсгийн бодит цагийн ажиглалт, байрлал;

6. Хаврын түдгэлзүүлэлтийн цохилтод тэсвэртэй арга нь энгийн бөгөөд практик бөгөөд хөндлөнгийн эсрэг хүчтэй чадвартай.

A62.4501-ийн дэлгэрэнгүй мэдээллийг харахын тулд товшино уу

A62.4503 Судалгааны түвшин, Атомын хүчний микроскоп (AFM), бүгд нэгдмэл загвар

Судалгааны түвшин, Хосолсон хянагч ба үндсэн биеийн загвар, Холбоо барих горим, товших горим, 10х зорилго.

1. Сканнердах датчик болон дээжийн үе шат нь нэгдсэн бөгөөд хөндлөнгийн эсрэг чадвар хүчтэй;

2. Нарийвчлалтай лазер болон датчикийн байрлал тогтоох төхөөрөмж, датчикийг солих, цэгийг тохируулах нь энгийн бөгөөд тохиромжтой;

3. Зүүний үзүүр нь дээжийг сканнердах хэсэгт перпендикуляр байхаар дээж ойртох датчикийн аргыг ашиглах;

4. Өндөр нарийвчлалтай, том хэмжээтэй пьезоэлектрик керамик сканнерыг янз бүрийн нарийвчлал, сканнерын хүрээний шаардлагын дагуу сонгож болно;

5. 10X APO объектив линзний оптик байрлал, анхаарлаа төвлөрүүлэх шаардлагагүй, бодит цагийн ажиглалт, датчикийн дээж сканнердах хэсгийн байрлал;

6. Хаврын түдгэлзүүлэлтийн цохилтод тэсвэртэй арга нь энгийн бөгөөд практик бөгөөд хөндлөнгийн эсрэг хүчтэй чадвартай.

A62.4503-ийн дэлгэрэнгүй мэдээллийг харахын тулд товшино уу

A62.4505 Оптик + атомын хүчний микроскоп

Хосолсон оптик микроскоп + AFM All-in-One, A62.4505 нь Infinity Plan LWD APO объектив 5x10x20x50x, Eyepiece 10x, 5.0M дижитал камер, хэмжих функцтэй 10" LCD дэлгэц, оптик горим болон дээжийг хоёуланг нь харах боломжтой LED kohler гэрэлтүүлэгтэй. AFM горим.

1. Оптик микроскоп ба атомын хүчний микроскопын нэгдсэн загвар, нэгдсэн фотоэлектрик удирдлага;

2. Энэ нь оптик болон атомын хүчний микроскопоор дүрслэх функцтэй бөгөөд хоёуланг нь сканнердаж, бие биедээ нөлөөлөхгүйгээр нэгэн зэрэг дүрслэх боломжтой;

3. Үүний зэрэгцээ оптик хоёр хэмжээст хэмжилт, атомын хүчний микроскопоор гурван хэмжээст хэмжилт хийх үүрэгтэй;

4. Босоо оптик замын загварыг баталсан бөгөөд хий-шингэн хос зориулалттай датчик эзэмшигчийг агаар эсвэл шингэнд нэгэн зэрэг ашиглах боломжтой;

5. Өндөр томруулдаг оптик байрлал тогтоох системийг датчик болон дээжийн сканнерын талбайн нарийн байрлалд хүрэхийн тулд ашигладаг;

6. Зөөврийн лазер цэгийг тохируулах арга нь оптик CCD цонхоор тухайн цэгийг бодит цаг хугацаанд ажиглаж, тохируулах боломжтой;

7. Пневматик цочрол шингээгч ширээтэй, хөндлөнгийн нөлөөллийн эсрэг хүчтэй, багажийн үйл ажиллагаанд нөлөөлөхгүй;

A62.4505-ийн дэлгэрэнгүй мэдээллийг харахын тулд товшино уу

Opto-Edu Gantry төрлийн атомын хүчний микроскоп (AFM)

A62.4510 Атомын хүчний микроскоп

A62.4511 Хавтгай сканнерийн атомын хүчний микроскоп

A62.4510 + Пьезоэлектрик шилжих скан хийх үе шат =A62.4511

◆Хятад дахь анхны атомын хүчний микроскоп дээжийг хөдөлгөөнгүй байлгаж, датчикийг хөдөлгөж, сканнердаж байна;

◆Хятад улсад анх удаа битүү хэлхээтэй гурван тэнхлэгт бие даасан даралт солих сканнер ашигласан бөгөөд энэ нь өргөн хүрээний өндөр нарийвчлалтайгаар сканнердах боломжтой;

◆Дээжийн хэмжээ, жин нь үндсэндээ хязгааргүй, ялангуяа том дээжийг илрүүлэхэд тохиромжтой; түүвэр сонирхлын талбар;

◆Gantry сканерын толгойн загвар, гантиг суурь, вакуум шингээх үе шат;

◆ Зонд болон дээжийг хамгаалахын тулд моторын удирдлагатай пьезоэлектрик керамикийг автоматаар илрүүлдэг ухаалаг зүү тэжээх арга;

◆Автомат оптик байрлал тогтоох, фокус тохируулах шаардлагагүй, бодит цагийн ажиглалт, датчикийн дээжийг сканнердах хэсэг;

◆Хаалттай металл бамбай, пневматик цочрол шингээх ширээ, хөндлөнгийн эсрэг хүчтэй чадвартай;

◆Нэгдсэн сканнер шугаман бус залруулга хэрэглэгчийн засварлагч, нанометрийн шинж чанар, хэмжилтийн нарийвчлал нь 98% -иас илүү байдаг.

A62.4510-ийн дэлгэрэнгүй мэдээллийг харахын тулд товшино уу
A62.4511-ийн дэлгэрэнгүй мэдээллийг харахын тулд товшино уу

Атомын хүчний микроскопын жишээ зураг (AFM)