Paano Pumili ng Atom Force Microscope (AFM)?

Maikling Kasaysayan ng Pag-unlad ng Microscope

• Unang henerasyon:Optical Microscope(naimbento noong ika-17 siglo)

• Ikalawang Henerasyon: Electron Microscope (1932)

Noong 1933, Ruska at Knoll, Germany: ang unang scanning electron microscope (SEM), na nangangailangan ng mataas na vacuum at hindi makilala ang mga atom;
Transmission electron microscopy (TEM), mataas na vacuum, bulk at interface na pag-aaral ng mga sample na manipis na layer, mataas na presyo;
Field electron microscope (FEM) at field ion microscope (FEM) ay nakita ang atomic na istraktura sa dulo ng r<100nm, at ang paghahanda ng sample ay kumplikado;

• Ikatlong Henerasyon: Pag-scan ng Probe Microscopy(SPM) (1982)

1982 IBM Zurich Laboratory at Binnig Rohrer, ang unang bagong uri ng surface analysis instrument - Scanning Tunneling Microscope (STM);
1986 Inimbento nina Binnig, Quate at Gerber ang unang atomic microscope (AFM)

Scanning Probe Microscope (SPM) Kumpara sa Iba pang Microscopies

Ang mga pangunahing pamamaraan ng pagsusuri ng mikroskopiko sa kasalukuyan:

Unang henerasyon:Optical Microscope(Kabilang ang Interference, Confocal at Digital Holography)
Pangalawang henerasyon:Electron microscope(Higit sa lahatSEMatTEM)
Ikatlong Henerasyon: Pag-scan ng Probe Microscopy(SPM)

Paghahambing ng Resolusyon ng Tatlong Henerasyon ng Microscope

Ano ang Scanning Probe Microscopy (SPM)

Ang Scanning Probe Microscope (SPM), ay ang ikatlong henerasyong mikroskopyo, gaya ng ipinahihiwatig ng pangalan, ito ay pag-scan + probe + mikroskopyo. Ang prinsipyo ng SPM ay ang paggamit ng probe upang i-scan ang ibabaw ng sample gamit ang isang raster line, at para i-record ang mga surface feature ng sample at makakuha ng imahe sa pamamagitan ng pag-detect ng interaksyon sa pagitan ng probe at sample.

Pag-uuri ng Scanning Probe Microscope (SPM)

Ayon sa pagkakaiba sa puwersa ng pagtuklas sa pagitan ng probe at sample,Scanning Probe Microscopy (SPM)maaaring nahahati sa dalawang kategorya, ibig sabihin,Pag-scan ng Tunneling Microscopy (STM), na gumagamit ng kasalukuyang upang makita, atAtomic Force Microscope (AFM), na gumagamit ng iba't ibang pwersa upang matukoy.

AFMMaaari ding nahahati sa magnetic force mikroskopyo, friction force mikroskopyo, lateral force mikroskopyo, kemikal puwersa mikroskopyo, electrostatic force mikroskopyo at iba pang mga uri ayon sa iba't ibang pwersa.

Pagkakaiba sa pagitan ngSTMatAFMmga aplikasyon:

Ang Scanning Tunneling Microscope (STM) ay pangunahing ginagamit para sa pag-aaral ng mga conductor,
Ang Atomic Force Microscopy (AFM) ay maaaring gamitin hindi lamang para sa pag-aaral ng mga konduktor, kundi pati na rin para sa pag-aaral ng mga hindi konduktor.

Depth of Field, Sample na Paghahanda ng Iba't ibang Microscope

Mga Kalamangan at Kahinaan ng Scanning Probe Microscope (SPM)

Bilang isang bagong uri ng microscope tool, ang SPM ay may malinaw na mga pakinabang kumpara sa mga nakaraang instrumento sa pagsusuri ng mikroskopyo:

• Ang SPM ay may napakataas na resolution, tulad ng STM parallel at patayo sa sample surface na direksyon ay maaaring umabot sa 0.1nm at 0.01nm.

• Ang SPM ay nakakakuha ng real-time, high-resolution na 3D na imahe ng sample surface, na iba sa ilang analytical na instrumento sa pamamagitan ng hindi direkta o computational na mga pamamaraan upang matantya ang surface structure ng sample.

• Binibigyang-daan ng SPM ang direktang pagmamasid sa mga depekto sa ibabaw, remodeling sa ibabaw, morpolohiya at lokasyon ng mga surface adsorbate, at remodeling sa ibabaw na dulot ng mga adsorbent.

• Ang kapaligiran ng paggamit ng SPM ay maluwag, maaari itong gumana hindi lamang sa vacuum, kundi pati na rin sa atmospera, mababang temperatura, normal na temperatura, mataas na temperatura, at maging sa solusyon.

• Ang SPM ay hindi nangangailangan ng mga espesyal na diskarte sa paghahanda ng sample, at ang proseso ng pagtuklas ay karaniwang hindi nakakapinsala sa sample.

• Kasabay ng pag-scan ng tunneling spectroscopy, ang impormasyon tungkol sa surface structure ay maaaring makuha, tulad ng density ng mga estado sa iba't ibang antas ng surface, surface electron traps, pagbabago sa surface potential barriers, atbp.

• Kasabay nito, may ilang disadvantages din ang SPM

• Bilis ng pag-scan. Dahil ang prinsipyong gumagana nito ay upang kontrolin ang isang probe na may isang tiyak na kalidad para sa pag-scan ng imaging, ang bilis ng pag-scan ay limitado, at ang kahusayan sa pagtuklas ay mas mababa kaysa sa iba pang mga pamamaraan ng mikroskopya.

• Saklaw ng pag-scan. Limitado ng stretching range ng piezoelectric ceramics, ang maximum scanning range ng SPM ay nasa hanay ng sampu hanggang daan-daang microns.

• katumpakan ng pagpoposisyon. Dahil ang piezoelectric ceramics ay may maliit na saklaw ng paggalaw sa ilalim ng premise ng pagtiyak ng katumpakan ng pagpoposisyon, at ang katumpakan ng mekanikal na pagsasaayos ay hindi maaaring konektado dito, hindi ito makakamit ang malakihang tuloy-tuloy na pag-zoom tulad ng mga electron microscope, at mahirap hanapin at hanapin ang katangian. mga istruktura.

• Sample na pagkamagaspang sa ibabaw. Ang mga tubular piezoelectric scanner ay malawakang ginagamit sa kasalukuyan, at ang kanilang vertical stretching range ay 1/10 ng planar scanning range. Kung ang pag-alon sa ibabaw ng sample na susuriin ay lumampas sa expansion at contraction range ng scanning tube, magdudulot ito ng malfunction ng system o mapinsala pa ang probe.

• Ang talas ng karayom. Dahil hinuhulaan ng system ang topograpiya sa ibabaw sa pamamagitan ng pag-detect ng motion trajectory ng probe kapag ini-scan nito ang sample, ang geometric width, curvature radius at anisotropy ng probe ay magdudulot ng distortion ng imahe.

Pangunahing Prinsipyo ng Atomic Force Microscope (AFM)

Ang isang dulo ng cantilever, na lubhang sensitibo sa mahinang puwersa, ay naayos, at ang kabilang dulo ay may maliit na dulo ng karayom. Ang dulo ng karayom ay nasa light contact sa sample surface. Dahil sa sobrang mahinang puwersa ng salungat sa pagitan ng mga atomo sa dulo ng dulo ng karayom at ng mga atomo sa ibabaw ng sample, sa pamamagitan ng pagkontrol dito sa panahon ng pag-scan. Kapag ang puwersa ay pare-pareho, ang cantilever na may dulo ay mag-iiba-iba sa direksyon na patayo sa ibabaw ng sample na tumutugma sa isoplane ng puwersa sa pagitan ng dulo at ng mga atomo sa ibabaw ng sample. Gamit ang optical detection method o ang tunnel current detection method, ang pagbabago ng posisyon ng microcantilever na naaayon sa bawat scanning point ay maaaring masukat, upang makuha ang impormasyon ng surface topography ng sample.

Komposisyon at Working Diagram ng Atomic Force Microscope (AFM)

Ang atomic force microscope AFM system ay nahahati sa apat na bahagi: force detection part, position detection part, feedback electronic system, piezoelectric scanning system.

1. Force Detection Cantilever

Sa isang atomic force microscope (AFM) system, ang puwersang matutukoy ay ang puwersa ng van der Waals sa pagitan ng mga atomo. Kaya sa sistemang ito, isang maliit na cantilever (Cantilever) ang ginagamit upang makita ang pagbabago ng puwersa sa pagitan ng mga atomo. Ang maliit na cantilever ay may ilang partikular na mga detalye, tulad ng: haba, lapad, nababanat na modulus at hugis ng dulo, at ang pagpili ng mga pagtutukoy na ito ay batay sa mga katangian ng sample at iba't ibang mga mode ng operasyon, at iba't ibang uri ng mga probe ang pinili.

2. Posisyon Sensitive Photodetector

Kapag ang dulo ng karayom ay nakipag-ugnayan sa sample, ang cantilever ay uugoy, kaya kapag ang laser ay nag-iiradiate sa dulo ng cantilever, ang posisyon ng sinasalamin na liwanag ay magbabago rin dahil sa pag-indayog ng cantilever. , na nagreresulta sa isang offset. Sa buong sistema, ang laser spot position detector ay ginagamit upang i-record ang offset at i-convert ito sa isang electrical signal para sa controller upang gawin ang pagpoproseso ng signal.

3. Feedback Electronic System: Feedback Loop

Ang kontrol sa feedback ng AFM ay nakumpleto ng computer system at electronic circuit. Ang operasyon ng AFM ay naisasakatuparan sa ilalim ng kontrol ng high-speed at malakas na computer. Ang sistema ng kontrol ay may dalawang pangunahing pag-andar: (1) Ibigay ang boltahe sa pagmamaneho upang kontrolin ang pag-scan ng direksyon ng XY ng piezoelectric transducer; (2) Panatilihin ang pare-parehong halaga ng input analog signal mula sa microscope detection loop sa constant force mode. Ang computer ay nagbabasa at nagkukumpara sa loop boltahe (ibig sabihin ang pagkakaiba sa pagitan ng itinakdang halaga at ang aktwal na sinusukat na halaga) sa pamamagitan ng A/D conversion. Ayon sa iba't ibang mga halaga ng boltahe, ang control system ay patuloy na naglalabas ng kaukulang boltahe upang ayusin ang pagpapalawak at pag-urong ng piezoelectric sensor sa direksyon ng Z upang itama ang deviation na nabasa sa A/D converter, sa gayon ay pinapanatili ang output boltahe ng loop ng paghahambing. pare-pareho.
Ang electronic circuit system ay gumaganap ng papel ng pagkonekta sa computer at sa scanning system. Ang electronic circuit ay nagbibigay ng boltahe para sa piezoelectric ceramic tube, tumatanggap ng signal mula sa position sensitive device, at bumubuo ng feedback system para makontrol ang distansya sa pagitan ng dulo ng karayom at sample.

4. Piezoelectric Scanner

Ang tumpak na kontrol ng AFM scan ng sample ay nakakamit ng scanner. Ang isang piezoelectric transducer ay naka-install sa scanner, at ang piezoelectric device ay tiyak na kinokontrol ang posisyon ng sample o probe sa tatlong direksyon ng X, Y, at Z.
Sa kasalukuyan, ang materyal ng matrix ng scanner ay pangunahing piezoelectric ceramic na materyal na gawa sa lead zirconate titanate [Pb(Ti,Zr)O3]. Ang piezoelectric ceramics ay may piezoelectric effect, iyon ay, mayroon silang mga katangian ng pag-urong kapag ang isang boltahe ay inilapat, at ang antas ng pag-urong ay proporsyonal sa inilapat na boltahe. Maaaring i-convert ng piezoelectric ceramics ang mga signal ng boltahe mula 1mV hanggang 1000V sa mga displacement mula sa ikasampu ng isang nanometer hanggang sa ilang micrometer.

Force at Working Mode ng Atomic Force Microscope (AFM)

Mayroong ilang iba't ibang puwersa ng pakikipag-ugnayan sa pagitan ng dulo ng AFM at ng sample, na nakalista sa sumusunod na talahanayan. Ayon sa iba't ibang pwersa, ang AFM ay maaaring i-extend sa iba't ibang mga mode ng pagtatrabaho: phase mode, magnetic mode, electrostatic force mode, extended resistance, lateral force, force modulation, atbp.

Ang mga working mode ng AFM ay inuri sa anyo ng puwersa sa pagitan ng probe at ng sample. May tatlong pangunahing operating mode: Contact Mode, Non-Contact Mode at Tapping Mode.

Contact Mode

Ang contact mode ay ang pinakadirektang imaging mode ng AFM. Sa buong proseso ng pag-scan ng imaging, ang dulo ng probe ay palaging malapit na nakikipag-ugnayan sa sample na ibabaw, at ang puwersa ng pakikipag-ugnayan sa pagitan ng dalawa ay isang nakakasuklam na puwersa, at ang magnitude ng puwersa ay mula 10-10 hanggang 10-6N. Sa panahon ng pag-scan, ang puwersa na ginagawa ng cantilever sa dulo ay may potensyal na makapinsala sa istraktura ng ibabaw ng ispesimen, samakatuwid. Ang contact mode ay hindi angkop para sa pagsubok ng mga sample na may malambot na ibabaw.

Mga kalamangan:Mabilis na bilis ng pag-scan, ang tanging mode na maaaring makakuha ng "atomic resolution" na mga imahe.
Disadvantage:Ang lateral force ay nakakaapekto sa kalidad ng imahe. Sa hangin, dahil sa pagkilos ng maliliit na ugat ng adsorbed na likidong layer sa ibabaw ng sample, ang pagdirikit sa pagitan ng dulo ng karayom at ang sample ay napakalaki. Ang pinagsamang puwersa ng lateral force at ang adhesive force ay humahantong sa pagbaba sa spatial resolution ng imahe. Gayundin, ang pagkamot sa sample gamit ang dulo ay maaaring makapinsala sa malambot na mga sample (tulad ng mga biological sample, polymer, atbp.).

Non-Contact Mode

Kapag sinusuri ang sample surface sa non-contact mode, nag-o-oscillate ang cantilever sa layong 5–10 nm sa itaas ng sample surface. Sa oras na ito, ang pakikipag-ugnayan sa pagitan ng sample at dulo ng karayom ay kinokontrol ng puwersa ng van der Waals, karaniwang 10 - 12 N, ang sample ay hindi masisira, at ang dulo ng karayom ay hindi makontaminado, lalo na angkop para sa pag-aaral sa ibabaw. ng malalambot na bagay. Ang kawalan ng mode na ito ng operasyon ay napakahirap na makamit ang mode na ito sa isang kapaligiran sa temperatura ng silid. Dahil ang isang manipis na layer ng tubig ay hindi maiiwasang maipon sa ibabaw ng sample, lumilikha ito ng isang maliit na tulay ng capillary sa pagitan ng sample at tip, na pinagsama ang dulo at ibabaw, na nagpapataas ng presyon ng tip laban sa ibabaw.

Advantage:Walang puwersang kumikilos sa sample surface.
Disadvantage:Karaniwang ginagamit lamang para sa mga sample na napakatakot sa tubig. Dahil ang dulo ng karayom ay hiwalay sa sample, mababa ang lateral resolution; upang maiwasan ang pagdikit sa layer ng adsorption at maging sanhi ng pagdikit ng dulo ng karayom, ang bilis ng pag-scan ay mas mababa kaysa sa Tapping Mode at Contact Mode AFM, at ang adsorption liquid layer sa sample surface ay dapat na napakanipis, kung ito ay masyadong makapal, ang dulo ng karayom Maaaring lumubog sa likidong layer, na nagiging sanhi ng kawalang-tatag ng feedback at pagkamot sa sample.

Pag-tap sa Mode

Ang tapping mode ay nasa pagitan ng contact mode at ang non-contact mode, na isang hybrid na konsepto. Ang cantilever ay nag-o-oscillate sa kanyang resonant frequency sa itaas ng sample surface at ang tip ay hinahawakan/tinatapik lamang ang sample surface nang panandalian at pana-panahon. Nangangahulugan ito na ang lateral force na nabuo ng tip na nakikipag-ugnay sa sample ay makabuluhang nabawasan. Samakatuwid, ang tapping mode ng AFM ay isa sa mga pinakamahusay na pagpipilian kapag nagde-detect ng mga malambot na sample. Kapag nagsimula nang mag-image at mag-scan ang AFM ng sample, mag-i-input ang device ng may-katuturang data sa system, tulad ng pagkamagaspang sa ibabaw, average na taas, maximum na distansya sa pagitan ng mga taluktok at lambak, atbp., para sa pagsusuri sa ibabaw ng bagay. Kasabay nito, maaari ring kumpletuhin ng AFM ang gawain sa pagsukat ng puwersa, pagsukat sa antas ng baluktot ng cantilever upang matukoy ang puwersa sa pagitan ng dulo at ng sample.

Mga kalamangan:Ang impluwensya ng lateral force ay mahusay na inalis, ang puwersa na dulot ng adsorption liquid layer ay nabawasan, at ang resolution ng imahe ay mataas. Tamang-tama para sa pagtingin sa malambot, malutong, o malagkit na sample nang hindi nasisira ang ibabaw.
Disadvantage:mas mabagal na bilis ng pag-scan kaysa sa contact mode.

Mga Lugar ng Aplikasyon ng Atomic Force Microscope (AFM)

Agham ng Materyales:Morpolohiya sa ibabaw, pagkamagaspang, mekanikal na katangian, lokal na elektrikal na katangian, atbp. ng mga micro-nano na materyales, pangunahin kasama ang mga metal, haluang metal, manipis na pelikula, kristal, keramika, polimer, pinagsama-samang materyales, atbp.;

Semiconductor at microelectronics:3D na istraktura ng chip o wafer na ibabaw, pagkamagaspang, pagtuklas ng depekto, mga lokal na katangian ng kuryente, atbp.;

Biology at gamot:DNA, protina, cell, virus, biological macromolecular in situ imaging at pananaliksik, atbp.;
Physics at Chemistry: Tuklasin ang atomic na istraktura ng ibabaw ng materyal, pag-aralan ang puwersa ng pakikipag-ugnayan sa pagitan ng mga atomo, mga reaksyong kemikal sa ibabaw, obserbahan ang mga pagbabago sa antas ng atomic ng mga reaksiyong kemikal, atbp.;

Nano-pagtuturo na edukasyon:pagtuturo ng nanotechnology, pagmamasid sa mga nanostructure sa ibabaw ng mga materyales, pag-aaral ng pangunahing teoretikal na kaalaman ng nanometer, at paglinang ng interes ng mga mag-aaral sa siyentipikong pananaliksik, atbp.

Bentahe ng Atomic Force Microscope (AFM)

• Ang AFM ay maaaring magsagawa ng three-dimensional imaging, at may napakataas na resolution sa parehong lateral at vertical na direksyon, na maaaring umabot sa 0.2 nm sa lateral na direksyon at 0.05 nm sa vertical na direksyon;

• Nakakakuha ang AFM ng real-time, totoong three-dimensional na imahe ng sample surface, na iba sa ilang analytical na instrumento na naghihinuha sa surface structure ng sample sa pamamagitan ng ilang software algorithm;

• Ang AFM ay walang anumang mga paghihigpit sa reflectivity at conductivity ng mga naobserbahang sample. Maaari nitong sukatin ang mga conductive sample, non-conductive sample, at biological sample.

• Ang kapaligiran ng paggamit ng AFM ay maluwag, maaari itong gumana hindi lamang sa vacuum, kundi pati na rin sa kapaligiran, mababang temperatura, normal na temperatura, mataas na temperatura, at maging sa solusyon;

• Ang AFM ay hindi nangangailangan ng espesyal na teknolohiya sa paghahanda ng sample, at ang proseso ng pagtuklas ay karaniwang hindi nakakasira sa sample;

• Bilang karagdagan sa pagmamasid sa three-dimensional na morpolohiya, pagkamagaspang, laki ng butil, kapal ng pelikula, mga depekto sa ibabaw, atbp. ng sample na ibabaw, maaari ding makita ng AFM ang mekanikal, elektrikal, at thermal na katangian ng mga microscopic na substance.

• Mga Modelo ng Opto-Edu Atomic Force Microscope (AFM).

A64.4500 Antas ng Pagtuturo, Atomic Force Microscope (AFM)

Antas ng Pagtuturo Hiwalay na disenyo ng controller at pangunahing katawan, na may Tapping Mode, 4x Objective, pang-ekonomiyang modelo para sa pagtuturo.

◆ Miniaturized at detachable na disenyo, napakadaling dalhin at turuan

◆ Ang laser detection head at ang sample scanning stage ay pinagsama, ang istraktura ay napakatatag, at ang anti-interference ay malakas.

◆ Precision probe positioning device, napakadali ng pagsasaayos ng pagkakahanay ng laser spot

◆ Ang sample ng single-axis drive ay awtomatikong lumalapit sa probe nang patayo, upang ang dulo ng karayom ay patayo sa sample scan

◆ Ang matalinong paraan ng pagpapakain ng karayom ng motor-controlled pressurized piezoelectric ceramic automatic detection pinoprotektahan ang probe at ang sample

◆ Awtomatikong optical positioning, hindi na kailangang mag-focus, real-time na pagmamasid at pagpoposisyon ng probe sample scanning area

◆ Spring suspension shockproof method, simple at praktikal, magandang shockproof effect

◆ Integrated scanner nonlinear correction user editor, nanometer characterization at katumpakan ng pagsukat na mas mahusay kaysa sa 98%

I-click para makita ang mga detalye ng A62.4500

A62.4501 Basic Level, Atomic Force Microscope (AFM)

Pangunahing Antas, Hiwalay na controller at pangunahing disenyo ng katawan, na may Contact Mode, Tapping Mode, 4x Objective.

1. Ang pag-scan ng probe at ang sample na yugto ay isinama, at ang anti-interference na kakayahan ay malakas;

2. Precision laser at probe positioning device, ito ay simple at maginhawa upang palitan ang probe at ayusin ang lugar;

3. Gamitin ang sample approaching probe method, upang ang dulo ng karayom ay patayo sa sample scan;

4. Ang awtomatikong kontrol ng pulso ng motor ay nagtutulak sa sample upang lapitan ang probe nang patayo upang makamit ang tumpak na pagpoposisyon ng lugar ng pag-scan;

5. 4X objective lens optical positioning, hindi na kailangang mag-focus, real-time na pagmamasid at pagpoposisyon ng probe sample scanning area;

6. Ang spring suspension shockproof method ay simple at praktikal, at may malakas na kakayahan na anti-interference.

I-click para makita ang mga detalye ng A62.4501

A62.4503 Antas ng Pananaliksik, Atomic Force Microscope (AFM), All-in-One na Disenyo

Antas ng Pananaliksik, Pinagsamang controller at pangunahing disenyo ng katawan, na may Contact Mode, Tapping Mode, 10x Objective.

1. Ang pag-scan ng probe at ang sample na yugto ay isinama, at ang anti-interference na kakayahan ay malakas;

2. Precision laser at probe positioning device, ito ay simple at maginhawa upang palitan ang probe at ayusin ang lugar;

3. Gamitin ang sample approaching probe method, upang ang dulo ng karayom ay patayo sa sample scan;

4. Ang mga high-precision at malakihang piezoelectric ceramic scanner ay maaaring piliin ayon sa iba't ibang katumpakan at mga kinakailangan sa hanay ng pag-scan;

5. Optical positioning ng 10X APO objective lens, hindi na kailangang mag-focus, real-time na pagmamasid at pagpoposisyon ng probe sample scanning area;

6. Ang spring suspension shockproof method ay simple at praktikal, at may malakas na kakayahan na anti-interference.

I-click upang makita ang mga detalye ng A62.4503

A62.4505 Optical + Atomic Force Microscope

Pinagsamang optical microscope + AFM All-in-One, A62.4505 ay may Infinity Plan LWD APO na layunin 5x10x20x50x, Eyepiece 10x, 5.0M Digital Camera, 10" LCD Monitor na may function ng pagsukat, LED kohler illumination para mapanood ang sample sa ilalim ng optical mode at AFM mode.

1. Pinagsamang disenyo ng optical mikroskopyo at atomic force mikroskopyo, pinagsamang photoelectric control;

2. Mayroon itong parehong optical at atomic force microscope imaging function, na parehong maaaring i-scan at i-imagen nang sabay nang hindi naaapektuhan ang isa't isa;

3. Kasabay nito, mayroon itong mga function ng optical two-dimensional na pagsukat at atomic force mikroskopyo na tatlong-dimensional na pagsukat;

4. Ang vertical optical path na disenyo ay pinagtibay, at ang gas-liquid dual-purpose probe holder ay maaaring gamitin sa hangin o likido sa parehong oras;

5. Ang high-magnification optical positioning system ay ginagamit upang makamit ang tumpak na pagpoposisyon ng probe at sample scanning area;

6. Ang portable laser spot adjustment method ay maaaring obserbahan at ayusin ang spot sa real time sa pamamagitan ng optical CCD window;

7. Nilagyan ng pneumatic shock-absorbing table, na may malakas na anti-interference na kakayahan at hindi nakakaapekto sa pagpapatakbo ng instrumento;

I-click para makita ang mga detalye ng A62.4505

Opto-Edu Gantry Type Atomic Force Microscope (AFM)

A62.4510 Probe Scanning Atomic Force Microscope

A62.4511 Plane Scanning Atomic Force Microscope

A62.4510 + Yugto ng Pag-scan ng Piezoelectric Shift =A62.4511

◆Ang kauna-unahang atomic force microscope sa Tsina na nagpapanatili ng sample at ang probe na gumagalaw at nag-scan;

◆Ang una sa China na gumamit ng closed-loop na three-axis independent pressure shift scanner, na maaaring mag-scan nang may mataas na katumpakan sa isang malawak na hanay;

◆Ang laki at timbang ng sample ay karaniwang walang limitasyon, lalo na angkop para sa pagtuklas ng malalaking sample; sample na lugar ng interes;

◆Gantry scanning head design, marble base, vacuum adsorption stage;

◆Intelligent na paraan ng pagpapakain ng karayom na may awtomatikong pagtuklas ng piezoelectric ceramics na kontrolado ng motor upang protektahan ang mga probe at sample;

◆Awtomatikong optical positioning, hindi na kailangang ayusin ang focus, real-time na pagmamasid at positioning probe sample scanning area;

◆ Nilagyan ng closed metal shield, pneumatic shock-absorbing table, malakas na anti-interference na kakayahan;

◆Integrated scanner nonlinear correction user editor, nanometer characterization at katumpakan ng pagsukat ay mas mahusay kaysa sa 98%.

I-click para makita ang mga detalye ng A62.4510
I-click para makita ang mga detalye ng A62.4511

Mga Sample na Larawan ng Atomic Force Microscope (AFM)