Melayu
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk
| A63.7069 Fungsi Utama Perisian | ||
| Peraturan tekanan tinggi | Imbasan garis menegak | Peraturan peralihan yang berpotensi |
| Peraturan arus filamen | Pelarasan kondenser | Pengukuran pelbagai skala |
| Pelarasan astigmatik | Pelarasan elektrik ke pusat | Kecerahan / kontras automatik |
| Pelarasan kecerahan | Pelarasan kanta objektif | Auto fokus |
| Pelarasan kontras | Pratonton Foto | Penghapusan astigmatisme automatik |
| Pelarasan pembesaran | Pembaris aktif | Pelarasan filamen automatik |
| Mod pengimbasan kawasan yang dipilih | 4 Tetapan kelajuan mengimbas | Pengurusan parameter |
| Mod pengimbasan titik | Penyongsangan kanta objektif | Tangkapan imej, pembekuan imej |
| Pengimbasan permukaan | Pembalikan kondenser | Satu Pandangan Pantas Utama |
| Pengimbasan garis mendatar | Pelarasan putaran elektrik | |
| SEM | A63.7069 & A63.7069-LV | A63.7080 & A63.7080-L & A63.7080-M | A63.7081 |
| Resolusi | 3nm@30KV(SE) 6nm@30KV(BSE) | 1.5nm@30KV(SE) 3nm@30KV(BSE) | 1.0nm@30KV(SE) 3.0nm@1KV(SE) 2.5nm@30KV(BSE) |
| Pembesaran | 8x~300000x Pembesaran Benar Negatif | 8x~800000x Pembesaran Benar Negatif | 6x~1000000x Pembesaran Benar Negatif |
| Pistol Elektron | Kartrij Filamen Tungsten Pra-Pusat | Pistol Pelepasan Lapangan Schottky | Pistol Pelepasan Lapangan Schottky |
| voltan | Voltan Pecutan 0~30KV, Boleh Laras Berterusan, Langkah Laras 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV | ||
| Pandangan Pantas | Fungsi Imej Pandangan Pantas Satu Kunci | T/A | T/A |
| Sistem Kanta | Kanta Tirus Elektromagnet Tiga peringkat | Kanta Tirus Elektromagnet berbilang peringkat | |
| Apertur | 3 Apertur Objektif Molibdenum, Boleh Laras Di Luar Sistem Vakum, Tidak Perlu Membongkar Objektif Untuk Menukar Apertur | ||
| Sistem Vakum | 1 Pam Molekul Turbo 1 Pam Mekanikal Vakum Bilik Contoh>2.6E-3Pa Vakum Bilik Elektron Gun>2.6E-3Pa Kawalan Vakum Auto Sepenuhnya Fungsi Interlock Vakum Model Pilihan: A63.7069-LV 1 Pam Molekul Turbo 2Pam Mekanikal Vakum Bilik Contoh>2.6E-3Pa Vakum Bilik Elektron Gun>2.6E-3Pa Kawalan Vakum Auto Sepenuhnya Fungsi Interlock Vakum Vakum RendahJulat 10~270Pa Untuk Suis Pantas dalam 90 Saat Untuk BSE(LV) | 1 Set Pam Ion 1 Pam Molekul Turbo 1 Pam Mekanikal Vakum Bilik Contoh>6E-4Pa Vakum Bilik Elektron Gun>2E-7 Pa Kawalan Vakum Auto Sepenuhnya Fungsi Interlock Vakum | 1 Pam Ion Sputter 1 Pam Kompaun Ion Getter 1 Pam Molekul Turbo 1 Pam Mekanikal Vakum Bilik Contoh>6E-4Pa Vakum Bilik Elektron Gun>2E-7 Pa Kawalan Vakum Auto Sepenuhnya Fungsi Interlock Vakum |
| Pengesan | SE: Pengesan Elektron Menengah Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Pengesan) | SE: Pengesan Elektron Menengah Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Pengesan) | SE: Pengesan Elektron Menengah Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Pengesan) |
| BSE: Segmentasi Semikonduktor 4 Pengesan Hamparan Belakang | Pilihan | Pilihan | |
| Model Pilihan: A63.7069-LV BSE(LV): Segmentasi Semikonduktor 4 Pengesan Hamparan Belakang | |||
| CCD:Kamera CCD Inframerah | CCD:Kamera CCD Inframerah | CCD:Kamera CCD Inframerah | |
| Panjangkan Pelabuhan | 2 Memanjangkan Port Pada Bilik Contoh Untuk EDS, BSD, WDS dll. | 4 Memanjangkan Port Pada Bilik Contoh Untuk BSE, EDS, BSD, WDS dll. | 4 Memanjangkan Port Pada Bilik Contoh Untuk BSE, EDS, BSD, WDS dll. |
| Peringkat Spesimen | Peringkat 5 Kapak, 4Auto+1ManualKawalan Julat Perjalanan: X=70mm, Y=50mm, Z=45mm, R=360°, T=-5°~+90°(Manual) Sentuh Fungsi Makluman & Berhenti | 5 KapakAutoTengahPentas Julat Perjalanan: X=80mm, Y=50mm, Z=30mm, R=360°, T=-5°~+70° Sentuh Fungsi Makluman & Berhenti Model Pilihan: A63.7080-M5 KapakManualPentas A63.7080-L5 KapakAutobesarPentas | 5 KapakAutobesarPentas Julat Perjalanan: X=150mm, Y=150mm, Z=60mm, R=360°, T=-5°~+70° Sentuh Fungsi Makluman & Berhenti |
| Spesimen Maks | Dia.175mm, Tinggi 35mm | Dia.175mm, Tinggi 20mm | Dia.340mm, Tinggi 50mm |
| Sistem Imej | Resolusi Maks Imej Pegun Sebenar 4096x4096 Piksel, Format Fail Imej: BMP(Lalai), GIF, JPG, PNG, TIF | Resolusi Maks Imej Pegun Sebenar 16384x16384 Piksel, Format Fail Imej: TIF(Lalai), BMP, GIF, JPG, PNG Video: Auto Record Digital .AVI Video | Resolusi Maks Imej Pegun Sebenar 16384x16384 Piksel, Format Fail Imej: TIF(Lalai), BMP, GIF, JPG, PNG Video: Auto Record Digital .AVI Video |
| Perisian komputer | Stesen Kerja PC Sistem Win 10, Dengan Perisian Analisis Imej Profesional Untuk Mengawal Sepenuhnya Operasi Mikroskop SEM, Spesifikasi Komputer Tidak Kurang Daripada Inter I5 3.2GHz, Memori 4G, Monitor LCD IPS 24", Cakera Keras 500G, Tetikus, Papan Kekunci | ||
| Paparan Foto | Tahap Imej Kaya Dan Teliti, Menunjukkan Pembesaran Masa Nyata, Pembaris, Voltan, Lengkung Kelabu | ||
| Dimensi & Berat | Badan Mikroskop 800x800x1850mm Meja Kerja 1340x850x740mm Jumlah Berat 400Kg | Badan Mikroskop 800x800x1480mm Meja Kerja 1340x850x740mm Jumlah Berat 450Kg | Badan Mikroskop 1000x1000x1730mm Meja Kerja 1330x850x740mm Jumlah Berat 550Kg |
| Aksesori Pilihan | |||
| Aksesori Pilihan | A50.7002Spektrometer X-Ray Penyerakan Tenaga EDS A50.7011Ion Sputtering Coater | A50.7001Pengesan Elektron Penyerakan Belakang BSE A50.7002Spektrometer X-Ray Penyerakan Tenaga EDS A50.7011Ion Sputtering Coater A50.7030Panel Kawalan Bermotor | A50.7001Pengesan Elektron Penyerakan Belakang BSE A50.7002Spektrometer X-Ray Penyerakan Tenaga EDS A50.7011Ion Sputtering Coater A50.7030Panel Kawalan Bermotor |
| A50.7001 | Pengesan BSE | Pengesan Penyerakan Belakang Empat Segmen Semikonduktor; Terdapat Dalam Bahan A+B, Maklumat Morfologi AB; Sampel yang Tersedia Perhatikan Tanpa Memercikkan Emas; Tersedia Dalam Pemerhatian Kekotoran Dan Taburan Dari Peta Skala Kelabu Secara Terus. |
| A50.7002 | EDS (Pengesan Sinar X) | Tetingkap Silicon Nitride (Si3N4) Untuk Mengoptimumkan Penghantaran X-ray Tenaga Rendah Untuk Analisis Unsur Cahaya; Resolusi Cemerlang Dan Elektronik Bunyi Rendah Termaju Mereka Memberikan Prestasi Prestasi Cemerlang; Jejak Kecil Menawarkan Fleksibiliti Untuk Memastikan Geometri Ideal Dan Keadaan Koleksi Aata; Pengesan Mengandungi Cip 30mm2. |
| A50.7003 | EBSD (Belauan Terserak Belakang Rasuk Elektron) | pengguna boleh menganalisis orientasi kristal, fasa kristal dan tekstur mikro bahan dan prestasi bahan yang berkaitan, dan lain-lain. pengoptimuman automatik tetapan kamera EBSD semasa pengumpulan data, lakukan analisis masa nyata interaktif untuk mendapatkan maklumat maksimum semua data telah dijenamakan dengan tag masa, yang boleh dilihat pada bila-bila masa peleraian tinggi 1392 x 1040 x 12 Kelajuan pengimbasan dan indeks: 198 mata / saat, dengan Ni sebagai standard, di bawah keadaan 2~5nA, ia boleh memastikan kadar indeks ≥99%; berfungsi dengan baik di bawah keadaan arus rasuk rendah dan voltan rendah 5kV pada 100pA ketepatan pengukuran orientasi: Lebih baik daripada 0.1 darjah Menggunakan sistem indeks triplex: tidak perlu bergantung pada definisi jalur tunggal, pengindeksan mudah kualiti corak yang buruk pangkalan data khusus: pangkalan data khas EBSD yang diperoleh melalui pembelauan elektron: struktur fasa >400 Keupayaan indeks: ia secara automatik boleh mengindeks semua bahan kristal daripada 7 sistem kristal. Pilihan lanjutan termasuk mengira kekukuhan anjal (Elastic Stiffness), faktor Taylor (Taylor), faktor Schmidt (Schmid) dan sebagainya. |
| A50.7010 | Mesin Salutan | Cangkang Pelindung Kaca: ∮250mm; 340mm Tinggi; Bilik Pemprosesan Kaca: ∮88mm; Tinggi 140mm, ∮88mm; 57mm Tinggi; Saiz Peringkat Spesimen: ∮40mm (maks); Sistem vakum: pam molekul dan pam mekanikal; Pengesanan Vakum: Tolok Pirani; Vakum: lebih baik Daripada 2 X 10-3 Pa; Perlindungan Vakum: 20 Pa Dengan Injap Inflasi Skala Mikro; Pergerakan Spesimen: Putaran Satah, Kecondongan Precession. |
| A50.7011 | Ion Sputtering Coater | Ruang Pemprosesan Kaca: ∮100mm; 130mm Tinggi; Saiz Peringkat Spesimen: ∮40mm( Pegang 6 Cawan Spesimen) ; Saiz Sasaran Emas: ∮58mm*0.12mm(ketebalan); Pengesanan Vakum: Tolok Pirani; Perlindungan Vakum: 20 Pa Dengan Injap Inflasi Skala Mikro; Gas Sederhana:argon Atau Udara Dengan Gas Argon Masuk Udara Khas Dan Pengawal Gas Dalam Skala Mikro. |
| A50.7012 | Argon Ion Sputtering Coater | Sampel Disadur Dengan Karbon Dan Emas Di Bawah Vakum Tinggi; Jadual Contoh Boleh Putar, Salutan Seragam, Saiz Zarah Kira-kira 3-5nm; Tiada Pemilihan Bahan Sasaran, Tiada Kerosakan Pada Sampel; Fungsi Pembersihan Ion Dan Penipisan Ion Dapat Direalisasikan. |
| A50.7013 | Pengering Titik Kritikal | Diameter Dalaman: 82mm, Panjang Dalaman: 82mm; Julat Tekanan: 0-2000psi; Julat Suhu:0°-50° C (32°-122° F) |
| A50.7014 | Litografi Rasuk Elektron | Berdasarkan Mikroskop Elektron Pengimbasan, Sistem Pendedahan Nano Novel Telah Dibangunkan; Modificaton Telah Mengekalkan Semua Fungsi Sem Untuk Membuat Imej Lebar Garisan Nano; Sistem Ebl yang Diubahsuai Digunakan Secara meluas ke dalam Peranti Mikroelektronik, Peranti Optoelektronik, Peranti Quantun, R&d Sistem Mikroelektronik. |
| A63.7069 Pakaian Habis Standard | |||
| 1 | Filamen Tungsten | Pra-pusat, Diimport | 1 Kotak (5 pcs) |
| 2 | Contoh Piala | Dia.13mm | 5 keping |
| 3 | Contoh Piala | Dia.32mm | 5 keping |
| 4 | Pita Konduktif Dua Muka Karbon | 6mm | 1 Pakej |
| 5 | Minyak Vakum | 10 keping | |
| 6 | Kain Tanpa Rambut | 1 tiub | |
| 7 | Tampal Penggilap | 1 Pc | |
| 8 | Kotak Contoh | 2 Beg | |
| 9 | Sapu Kapas | 1 Pc | |
| 10 | Penapis Kabus Minyak | 1 Pc | |
| A63.7069 Alatan & Bahagian Piawai Pakaian | |||
| 1 | Spanar Heksagon Dalam | 1.5mm~10mm | 1 set |
| 2 | Pinset | Panjang 100-120mm | 1 Pc |
| 3 | Pemutar Skru Berslot | 2*50mm, 2*125mm | 2 Pcs |
| 4 | Pemutar Skru Silang | 2*125mm | 1 Pc |
| 5 | Penyingkiran Diafragma | 1 Pc | |
| 6 | Batang Pembersih | 1 Pc | |
| 7 | Alat Pelarasan Filamen | 1 Pc | |
| 8 | Gasket Pelaras Filamen | 3 Pc | |
| 9 | Pengekstrak Tiub | 1 Pc | |
Huang Xin