












| A63.7080, A63.7081 Programvare hovedfunksjon | ||
| Høyspent integrert igangkjøring | Automatisk filament på/av | Potensiell skiftregulering |
| Justering av lysstyrke | Elektrisk til sentral justering | Automatisk lysstyrke |
| Kontrastjustering | Objektiv linsejustering | Autofokus |
| Justering av forstørrelse | Objektiv avmagnetisering | Automatisk eliminering av astigmatisme |
| Skannemodus for valgt område | Elektrisk rotasjonsjustering | Håndtering av mikroskopparametere |
| Punktskannemodus | Justering av elektronstråleforskyvning | Sanntidsvisning av skannefeltstørrelse |
| Linjeskanningsmodus | Justering av tilt på elektronstrålen | Justering av pistollinse |
| Overflateskanning | Justering av skannehastighet | Flerkanalsinngang |
| Høyspent effektovervåking | Svingsentrering | Linjal måling |


| SEM | A63.7069 og A63.7069-LV | A63.7080 & A63.7080-L & A63.7080-M | A63.7081 |
| Vedtak | 3nm@30KV(SE) 6nm@30KV(BSE) | 1,5nm@30KV(SE) 3nm@30KV(BSE) | 1.0nm@30KV(SE) 3.0nm@1KV(SE) 2,5nm@30KV(BSE) |
| Forstørrelse | 8x~300000x negativ sann forstørrelse | 8x~800000x negativ sann forstørrelse | 6x~1000000x negativ sann forstørrelse |
| Elektronpistol | Forsentrert Tungsten Filament Cartridge | Schottky feltutslippspistol | Schottky feltutslippspistol |
| Spenning | Akselerasjonsspenning 0~30KV, kontinuerlig justerbar, justeringstrinn 100V@0-10KV, 1KV@10-30KV | ||
| Hurtigvisning | One Key Quick View Bildefunksjon | N/A | N/A |
| Linsesystem | Elektromagnetisk konisk linse med tre nivåer | Elektromagnetisk konisk linse med flere nivåer | |
| Blenderåpning | 3 Molybden objektivåpninger, justerbar utsiden av vakuumsystemet, ikke nødvendig å demontere mål for å endre blenderåpning | ||
| Vakuumsystem | 1 turbo molekylær pumpe 1 Mekanisk pumpe Prøveromsvakuum>2,6E-3Pa Elektronpistolromsvakuum>2,6E-3Pa Helautomatisk vakuumkontroll Vakuum forriglingsfunksjon Valgfri modell: A63.7069-LV 1 turbo molekylær pumpe 2Mekaniske pumper Prøveromsvakuum>2,6E-3Pa Elektronpistolromsvakuum>2,6E-3Pa Helautomatisk vakuumkontroll Vakuum forriglingsfunksjon Lavt vakuumRekkevidde 10~270Pa for hurtigbytte på 90 sekunder for BSE(LV) | 1 ionpumpesett 1 turbo molekylær pumpe 1 Mekanisk pumpe Prøveromsvakuum>6E-4Pa Elektronpistolromsvakuum>2E-7 Pa Helautomatisk vakuumkontroll Vakuum forriglingsfunksjon | 1 sputterionpumpe 1 Getter Ion sammensatt pumpe 1 turbo molekylær pumpe 1 Mekanisk pumpe Prøveromsvakuum>6E-4Pa Elektronpistolromsvakuum>2E-7 Pa Helautomatisk vakuumkontroll Vakuum forriglingsfunksjon |
| Detektor | SE: Høyvakuum sekundær elektrondetektor (med detektorbeskyttelse) | SE: Høyvakuum sekundær elektrondetektor (med detektorbeskyttelse) | SE: Høyvakuum sekundær elektrondetektor (med detektorbeskyttelse) |
| BSE: Semiconductor 4 Segmentering Ryggspredningsdetektor | Valgfri | Valgfri | |
| Valgfri modell: A63.7069-LV BSE(LV): Semiconductor 4 Segmentering Ryggspredningsdetektor | |||
| CCD:Infrarødt CCD-kamera | CCD:Infrarødt CCD-kamera | CCD:Infrarødt CCD-kamera | |
| Forleng port | 2 Forleng porter på prøverom for EDS, BSD, WDS osv. | 4 Forleng porter på prøverom for BSE, EDS, BSD, WDS etc. | 4 Forleng porter på prøverom for BSE, EDS, BSD, WDS etc. |
| Prøvestadium | 5 akser trinn, 4Auto+1HåndbokStyre Reiseområde: X=70 mm, Y=50 mm, Z=45 mm, R=360°, T=-5°~+90° (manuell) Trykk på Varslings- og stoppfunksjon | 5 akserAutoMidtenScene Reiseområde: X=80 mm, Y=50 mm, Z=30 mm, R=360°, T=-5°~+70° Trykk på Varslings- og stoppfunksjon Valgfri modell: A63.7080-M5 akserHåndbokScene A63.7080-L5 akserAutoStorScene | 5 akserAutoStorScene Reiseområde: X=150 mm, Y=150 mm, Z=60 mm, R=360°, T=-5°~+70° Trykk på Varslings- og stoppfunksjon |
| Maks prøve | Dia.175mm, Høyde 35mm | Dia.175mm, Høyde 20mm | Dia.340mm, Høyde 50mm |
| Bildesystem | Ekte stillbilde Maks. oppløsning 4096 x 4096 piksler, Bildefilformat: BMP (standard), GIF, JPG, PNG, TIF | Ekte stillbilde Maks. oppløsning 16384x16384 piksler, Bildefilformat: TIF(standard), BMP, GIF, JPG, PNG Video: Automatisk opptak av digital .AVI-video | Ekte stillbilde Maks. oppløsning 16384x16384 piksler, Bildefilformat: TIF(standard), BMP, GIF, JPG, PNG Video: Automatisk opptak av digital .AVI-video |
| Programvare til datamaskin | PC Work Station Win 10-system, med profesjonell bildeanalyseprogramvare for full kontroll over hele SEM-mikroskopoperasjonen, datamaskinspesifikasjon ikke mindre enn Inter I5 3,2 GHz, 4G-minne, 24"IPS LCD-skjerm, 500G harddisk, mus, tastatur | ||
| Fotoskjerm | Bildenivået er rikt og omhyggelig, viser sanntidsforstørrelse, linjal, spenning, grå kurve | ||
| Dimensjon & Vekt | Mikroskopkropp 800x800x1850mm Arbeidsbord 1340x850x740mm Totalvekt 400 kg | Mikroskopkropp 800x800x1480mm Arbeidsbord 1340x850x740mm Totalvekt 450 kg | Mikroskopkropp 1000x1000x1730mm Arbeidsbord 1330x850x740mm Totalvekt 550 kg |
| Valgfritt tilbehør | |||
| Valgfritt tilbehør | A50.7002EDS energidispersivt røntgenspektrometer A50.7011Ion Sputtering Coater | A50.7001BSE tilbakespredningselektrondetektor A50.7002EDS energidispersivt røntgenspektrometer A50.7011Ion Sputtering Coater A50.7030Motoriser kontrollpanelet | A50.7001BSE tilbakespredningselektrondetektor A50.7002EDS energidispersivt røntgenspektrometer A50.7011Ion Sputtering Coater A50.7030Motoriser kontrollpanelet |


| A50.7001 | BSE-detektor | Halvleder fire segment tilbake spredning detektor; Tilgjengelig i ingrediensene A+B, Morphology Info AB; Tilgjengelig prøve observere uten sputtering gull; Tilgjengelig i Observer urenheter og distribusjon fra gråtonekart direkte. |
| A50.7002 | EDS (røntgendetektor) | Silisiumnitrid (Si3N4) vindu for å optimalisere lavenergi røntgenoverføring for lyselementanalyse; Utmerket oppløsning og deres avanserte lavstøyelektronikk gir enestående gjennomstrømningsytelse; Det lille fotavtrykket gir fleksibilitet for å sikre ideell geometri og Aata-samlingsforhold; Detektorene inneholder en 30 mm2 brikke. |
| A50.7003 | EBSD (Electron Beam Backscattered Diffraction) | brukeren kan analysere krystallorientering, krystallfase og mikrotekstur av materialer og relaterte materialers ytelse, etc. automatisk optimalisering av EBSD-kamerainnstillinger under datainnsamlingen, gjør interaktiv sanntidsanalyse for å få maksimal informasjon all data ble merket med tidsmerke, som kan ses når som helst høy oppløsning 1392 x 1040 x 12 Skanne- og indekshastighet: 198 poeng / sek, med Ni som standard, under betingelse av 2~5nA, kan det sikre indekshastigheten ≥99%; fungerer godt under forhold med nærlysstrøm og lavspenning på 5kV ved 100pA orienteringsmålenøyaktighet: Bedre enn 0,1 grader Bruker triplex indekssystem: ingen grunn til å stole på enkeltbåndsdefinisjon, enkel indeksering av dårlig mønsterkvalitet dedikert database: EBSD spesialdatabase oppnådd ved elektrondiffraksjon: >400 fasestruktur Indeksevne: den kan automatisk indeksere alle krystallmaterialer i 7 krystallsystemer. De avanserte alternativene inkluderer beregning av elastisk stivhet (elastisk stivhet), Taylor (Taylor) faktor, Schmidt (Schmid) faktor og så videre. |
| A50.7010 | Coating Machine | Glassbeskyttende skall: ∮250mm; 340 mm høy; Glassbehandlingskammer: ∮88mm; 140 mm høy, ∮88 mm; 57 mm høy; Størrelse på prøvestadiet: ∮40 mm (maks); Vakuumsystem: molekylpumpe og mekanisk pumpe; Vakuumdeteksjon: Pirani Gage; Vakuum:bedre enn 2 X 10-3 Pa; Vakuumbeskyttelse: 20 Pa med mikroskala oppblåsingsventil; Prøvebevegelse: Planrotasjon, tiltpresesjon. |
| A50.7011 | Ion Sputtering Coater | Glassbehandlingskammer: ∮100mm; 130 mm høy; Størrelse på prøvestadiet: ∮40 mm( Hold 6 prøvekopper) ; Gylden målstørrelse: ∮58mm*0,12mm(tykkelse); Vakuumdeteksjon: Pirani Gage; Vakuumbeskyttelse: 20 Pa med mikroskala oppblåsingsventil; Middels gass:argon eller luft med argongass Spesialluftinntak og gassregulering i mikroskala. |
| A50.7012 | Argon Ion Sputtering Coater | Prøven ble belagt med karbon og gull under høyvakuum; Roterbart prøvebord, enhetlig belegg, partikkelstørrelse ca. 3-5nm; Ingen valg av målmateriale, ingen skade på prøver; Funksjonene til ionerensing og jonetynning kan realiseres. |
| A50.7013 | Critical Point tørketrommel | Innvendig diameter: 82 mm, innvendig lengde: 82 mm; Trykkområde: 0-2000psi; Temperaturområde: 0°–50° C (32°–122° F) |
| A50.7014 | Elektronstrålelitografi | Basert på et skanningselektronmikroskop ble det utviklet et nytt nano-eksponeringssystem; Modifikasjonen har beholdt alle Sem-funksjonene for å lage nanoskala linjebreddebilde; Det modifiserte EBL-systemet ble mye brukt i mikroelektroniske enheter, optoelektroniske enheter, Quantun-enheter, forskning og utvikling av mikroelektronikksystemer. |

| A63.7080, A63.7081 Standard forbruksmateriell | |||
| 1 | Feltutslippsfilament | Installert i mikroskop | 1 stk |
| 2 | Prøvekopp | Dia.13mm | 5 stk |
| 3 | Prøvekopp | Dia.32mm | 5 stk |
| 4 | Carbon Dobbeltsidig ledende tape | 6 mm | 1 pakke |
| 5 | Vakuumfett | 10 stk | |
| 6 | Hårløs klut | 1 rør | |
| 7 | Poleringspasta | 1 stk | |
| 8 | Prøveboks | 2 poser | |
| 9 | Bomullspinne | 1 stk | |
| 10 | Oljetåkefilter | 1 stk | |
| A63.7080, A63.7081 Standard verktøy og deler antrekk | |||
| 1 | Indre sekskantnøkkel | 1,5 mm ~ 10 mm | 1 sett |
| 2 | Pinsett | Lengde 100-120mm | 1 stk |
| 3 | Skrutrekker med spor | 2*50 mm, 2*125 mm | 2 stk |
| 4 | Kryssskrutrekker | 2*125 mm | 1 stk |
| 5 | Rengjør ventilasjonsrøret | Dia.10/6,5 mm (Utdiameter/Indre diameter) | 5m |
| 6 | Lufttrykkreduksjonsventil | Utgangstrykk 0-0,6 MPa | 1 stk |
| 7 | Intern bakestrømforsyning | 0-3A DC | 2 stk |
| 8 | UPS strømforsyning | 10kVA | 2 stk |

Norsk språk
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands








Huang Xin