
تخصيص | A62.4701 مجهر المسح الضوئي | |
|---|---|---|
| ميزة |
| |
نظام المسح | 1 ، وحدات الوظائف القياسية:مجهر مسح نفقي(STM) ،مجهر القوة الذرية(AFM) التي تشمل الاتصال ، والانزلاق ، والتنصت ، ووضع الطور والرفع ، ووظيفة Nanomilling ، ووظيفة قياس السماكة (الفيلم) / الارتفاع (الخطوة) ، وتكنولوجيا تحديد المواقع بالنانو (CCD + منصة متحركة لعينة XY عالية الدقة + ماسح ضوئي متكيف واسع النطاق) ؛ | |
2 ، وضع قياس منحنى سوبر:يمكن إعداد كل AD كإشارة Y ، وكل DA كإشارة X ، مثل منحنى IV ، ومنحنى IZ ، والقوة - منحنى المسافة ، والسعة - منحنى المسافة ، والتردد - منحنى الطور ، والطور - منحنى المسافة والتردد - منحنى السعة ؛ | ||
3 ، سمك (فيلم) / ارتفاع (خطوة) وظيفة قياس:تقليد أداة قياس الخطوة المهنية ، يمكن أن تحقق قياس سماكة الفيلم / ارتفاع الخطوة بسرعة وسهولة ؛ | ||
4 ، وظيفة Nanomilling:أنماط النقش النقش بالكهرباء / قوة النقش مسار النقش (النقش المتجه / نقش الرسومات) ؛ | ||
5 ، مجموعة الماسح الضوئي(س ص ع) :50 ميكرومتر * 50 ميكرومتر * 8 ميكرومتر نحن نوفر بشكل حصري ماسح ضوئي بمدى 50 ميكرون يمكنه تحقيق دقة المقياس الذري باستخدام ماسح ضوئي واحد (تقنية أساسية فريدة). ) ؛ | ||
6 ، دقة الماسح الضوئي 50 / 100μ: | ||
7 ، حجم منصة العينة:Diameter≤Φ70mmm ، سمك 30mm .؛ | ||
| تقنية تحديد المواقع بالنانو | منصة متحركة لعينة XY عالية الدقة : يتم التحكم في منصة نقل عينة XY عالية الدقة بواسطة الكمبيوتر تلقائيًا , ويمكن للمنصة وضع المنطقة التي تم اختبارها من العينة إلى الجزء السفلي من المسبار بسهولة ودقة! | |
| أ.استخدام الماوس لسحب منطقة الاختبار إلى الوجهة مباشرة ، ويتحكم الكمبيوتر في النظام الأساسي المتحرك تلقائيًا ؛ | ||
| ب. يمكن ضبط نقطة البداية بشكل تعسفي ، ومفتاح للعودة يتحكم الكمبيوتر في المنصة المتحركة للعودة إلى نقطة البداية) | ||
| ج.يمكنه تسجيل العديد من مناطق الاختبار ، وكتابة رمز لمسار تحديد المواقع ، يتحكم الكمبيوتر في النظام الأساسي المتحرك للانتقال إلى جميع مناطق الاختبار تلقائيًا ؛ | ||
أدخل القيمة المتنقلة لـ X و Y مباشرة ، ويتحكم الكمبيوتر في موضع المنصة المتحركة تلقائيًا. | ||
نظام تحكم الكتروني | وحدة تحكم المركز:تقنية ARM 32 بت ، ذاكرة وصول عشوائي 16 ميجا ، ذاكرة فلاش 2 ميجا بايت | |
8 ، دقة التحكم / الاستحواذ:استخدام ثنائي 16 AD / DA تفاضلي مستقل متزامن تكبير الضغط العالي التقني , 16 بت ثنائي القناة A / D ؛ 12 قناة 16 بت D / A ؛ 4 قنوات ثنائية 16 بت D / A تضخيم رقمي متكامل مغلق الطور وتكنولوجيا توليف تردد رقمي مباشر ; | ||
| 9 ، وضع الملاحظات :ردود فعل رقمية 8 قنوات + محاكاة NC | ||
10 ، وحدة الجهد العالي:عند إضافة جهد ± 300 فولت ، تكون ضوضاء التموج 1.5mV فقط ، 4 قنوات ثنائية 16 بت D / A توفر جهد التحكم في ثلاثة اتجاهات من XYZ ، ويمكن توسيعها إلى 8 قنوات ؛ | ||
11 ، مسح الزاوية:يمكن ضبط من -180 درجة إلى + 180 درجة بشكل مستمر ؛ | ||
| 12 ، الواجهات بين أجهزة الكمبيوتر وأجهزة التحكم :USB2.0 ؛ | ||
13 ، تيار النفق:1pA إلى 50nA ؛ | ||
| 14 ، نظام استشعار درجة الحرارة والرطوبة :مع مراقبة البيئة في الوقت الحقيقي وميزات العرض الدقة : درجة الحرارة 0.1 درجة مئوية الرطوبة 0.5 درجة مئوية. | ||
| نظام البرمجيات | 15 ، واجهة صورة بأربع نوافذ ،يمكن مراقبة أربع قنوات بيانات مختلفة في وقت واحد ، ويتم استعادة الصورة وجميع معلمات بيئة العمل الحالية في وقت واحد ؛ | |
16 ، نظام الحفظ الذكي ووظيفة التعليم الذاتي:بمجرد تغيير معلمة واحدة ، سيتم تعديل المعلمات ذات الصلة على أساس تجربة النظام تلقائيًا إلى أفضل نطاق دون تدخل يدوي ؛ | ||
17 ، تصحيح غير خطي للسيراميك الكهرضغطية على الخط، تصحيح تركيب السطح المنحني ، تصحيح إمالة العينة ، نتيجة القياس النهائية: عدم الخطية <1٪ , التعامد أقل من 1٪. علاوة على ذلك ، فإننا نعتبر أيضًا سرعة المسح على تأثير اللاخطية ؛ | ||
18 ، وظيفة تحليل الملف التعسفي:يمكن ضبط المنحنى بشكل تعسفي في الصورة ، والحصول على صورة الملف الشخصي لهذا المنحنى ؛ | ||
19 ، برامج معالجة الصور:عرض صورة ثلاثية الأبعاد , ترشيح الصورة تعديل الصورة , تحسين الحواف ومعالجة مورفولوجيا وتغير تنسيق الصورة , تحويلات هندسية للصورة ومجموعة لوح الألوان وما إلى ذلك ؛ | ||
20 ، برنامج تحليل البيانات:تحليل الخشونة , تحليل حجم الجسيمات , تحليل الملف الشخصي تحليل سمك الفيلم ، إحصائيات التاريخ ، تحليل الاحتكاك ، تحليل ومقارنة المحمل ، تحليل ومقارنة طيف الطاقة ، تحليل الارتباط التلقائي / الارتباط المتبادل ، وظيفة الجمع والطرح للصورة ، إحصائيات / تحليل منحنى مختلف ، إلخ ؛ | ||
21 ، قالب تطوير البرمجيات:سهل الاستخدام للتطوير الثاني ، إكمال وظائف معالجة البيانات الخاصة ؛ | ||
22 ، حزمة خدمة البرمجيات:يمكن أن تتمتع وظائف البرامج غير ذات الصلة بالأجهزة بخدمة ترقية مجانية مدى الحياة ؛ | ||
23 ، دعم تقنية تنزيل البرامج الثابتة عن بعد ،يمكن تنزيل الكود وترقيته مباشرة في الأجهزة الإلكترونية القابلة للبرمجة ؛ | ||
24 ، برنامج التحكم عن بعد:دعم للتحكم في الشبكة عن بعد. يمكن للموردين التحكم عن بعد في المعدات في أماكن مختلفة ، وإجراء الصيانة عن بُعد ، والتدريب عن بُعد ، والخدمة التجريبية عن بُعد ، وما إلى ذلك. | ||
وحدات وظيفية اختيارية | رقم الصنف. | |
بالإضافة إلى ذلك ، هناك العديد من الوحدات الوظيفية الأخرى المتاحة للاختيار ، مثل مجهر قوة الاحتكاك ، مجهر القوة المغناطيسية ، مجهر القوة الكهروستاتيكية ، مجهر القوة الذرية الموصلة ، مجهر القوة الذرية السائلة ، مجهر مسح كلفن ، مجهر السعة المسح ، منصة تسخين العينة ، فرض جهاز التغذية الراجعة. فيما يلي مقدمة موجزة عن الوحدة والسعر ، إذا لزم الأمر ، فلديك حرية الاختيار! | ||
| مجهر قوة الاحتكاك | يستمر وضع المسح الأصلي في تغيير الضغط الإيجابي ، وضع المسح الأصلي ثنائي التقسيم. يمكن تقييم الخصائص الترايبولوجية لمواد الأغشية الرقيقة كميًا تحت حمل خفيف جدًا (10-7 ~ 10-9 نيوتن) ، وقياس معامل الاحتكاك الدقيق يمكن وضع الزاوية بدقة بين طرف ناتئ واتجاه المسح ؛ يمكن قياس تغير القوة الجانبية في نفس الوقت في قياسات المنطقة الحرة. | A62.4701-1 |
| مجهر القوة المغناطيسية | قادرة على الحصول على صورة بنية سطح العينة وهيكل المجال المغناطيسي المقابل لها على مقياس النانو ، الدقة هي 50 نانومتر , وسيتم التحقق منها بواسطة بنية المجال المغناطيسي لمحرك الأقراص الثابتة أو DV. | A62.4701-2 |
| مجهر القوة الكهروستاتيكية | قادرة على الحصول على صورة بنية سطح العينة وتوزيع المجال الكهربائي المقابل لها على مقياس النانو | A62.4701-3 |
| مجهر القوة الذرية الموصلة | قادرة على الحصول على صورة بنية سطح العينة والصورة الحالية المقابلة لها على مقياس النانو. يمكن الحصول على معلومات منحنى IV وما إلى ذلك من خلال تعديل جهد التحيز. | A62.4701-4 |
| مجهر القوة الذرية السائلة | تكوين جهاز التحقيق البيئي السائل ورف مسبار الذكاء السائل لتحقيق وظيفة مجهر القوة الذرية السائلة. تحتاج فقط إلى إدخال رف مسبار الذكاء السائل ، ويمكن للنظام تحديد نوع المجس الحالي تلقائيًا ، وسوف تتحول البرامج والأجهزة تلقائيًا إلى وضع العمل وفقًا دون تدخل يدوي. | A62.4701-5 |
| مجهر مسح كلفن | يمكن أن يؤدي فرض نوعين من الجهد من التيار المستمر والتيار المتردد بين الطرف والعينة ، باستخدام تقنية تضخيم القفل إلى تغيير وظيفة عمل سطح العينة وصورة بنية سطح العينة. | A62.4701-6 |
| مجهر المسح السعة | استخدام تقنية تعديل الجهد لاكتشاف التغيرات الصغيرة في سعة سطح العينة. | A62.4701-7 |
| منصة تسخين العينة | يمكن التحكم في درجة حرارة العينة من درجة حرارة الغرفة إلى 150 ، والدقة 0.5 ℃. يمكن أن يجعل التصميم الفريد لنظام تبريد العينة التحكم في درجة الحرارة أسرع وأكثر دقة. قطر مرحلة العينة 30 مم. يمكن أن يؤدي اختيار مادة سبيكة معامل درجة الحرارة المنخفضة وتصميم العزل إلى تقييد تأثير ظاهرة الانجراف على جودة التصوير. | A62.4701-8 |
| جهاز ردود الفعل القوة | أداة يمكن أن تشعر بشكل بديهي بقوة التفاعل بين الطرف والعينة في سياق عملية SPM. يمكن لجهاز التغذية المرتدة بالقوة تعيين pN مباشرة إلى قوة فئة nN ، والنانو لحركة الطبقة الدقيقة إلى مساحة مادية يمكن الشعور بها ولمسها ومعالجتها. يمكنك أن تشعر بالالتصاق ، ولم الشمل ، والجاذبية ، والاستبعاد بين الجزيئات النانوية ، ويمكن أن تشعر بصلابة الألياف النانوية والامتصاص الحلزوني للحمض النووي ، كما يمكنك تحريك العينة ، والتلاعب بها ، وتجميعها ، وطلبها. الرواسب السطحية المختلفة. | A62.4701-9 |
العربية
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk

Huang Xin