Não só pode caracterizar a estrutura e propriedade da superfície da amostra, mas também pode detectar a estrutura e propriedade interna da amostra em escala nano abaixo da superfície;

Sistema de digitalização

1, módulos de função padrão：Microscópio de tunelamento de varredura(STM),Microscópio de Força Atômica(AFM) que incluem contato, deslizamento, toque, fase e modo de aumento, função de Nanofresagem, função de medição de espessura (filme)/altura (passo), tecnologia de posicionamento nano (CCD + plataforma móvel de amostra XY de alta precisão + scanner adaptativo de grande alcance);

2, modo de medição super curva：Pode configurar todo o AD como sinal Y, todo o DA como sinal X, como curva IV, curva IZ, Força - a curva de distância, Amplitude - a curva de distância, Frequência - curva de fase, Fase - a curva de distância e Frequência - curva de amplitude;

3, função de medição de espessura (filme)/altura (passo)：Imite o instrumento de medição profissional da etapa, pode alcançar a medição da espessura/altura da etapa do filme de forma rápida e fácil;

4, função de nanofresagem：Padrões de gravação (gravura de eletricidade/gravura de força)，Pista de gravação (gravura vetorial/gravura gráfica);

5, alcance do scanner（XYZ）：50 μm * 50 μm * 8 μm. Fornecemos exclusivamente um scanner de alcance de 50 mícrons que pode atingir resolução em escala atômica usando um único scanner (tecnologia de núcleo exclusivo). ）;

6, A resolução do scanner 50/100μ：
STM：Eixos XY de 0,1 nm; Eixo Z de 0,01 nm，Verificado por HOPG；
Modo de contato AFM: eixos XY de 0,2 nm; Eixo Z de 0,03 nm，Verificado pela estrutura de Mica；
Modo de toque AFM：Eixos XY de 0,2 nm; Eixo Z de 0,1 nm，Verificado por DNA；
SPAM：＜10nm.

7, tamanho da plataforma de amostra：Diâmetro≤Φ70mmm, Espessura≤30mm.;

Plataforma móvel de amostra XY de alta precisão: A plataforma móvel de amostra XY de alta precisão é controlada automaticamente pelo computador, e a plataforma pode posicionar a região testada da amostra na parte inferior da sonda com facilidade e precisão!
A faixa de movimento: 5mm×5mm, a precisão de movimento: 50nm，Todo o processo de posicionamento é monitorado com CCD, na proteção da segurança do sistema, enquanto controla o posicionamento preciso das amostras.

Insira o valor móvel de X, Y diretamente e o computador controla a posição da plataforma móvel automaticamente.

8, Precisão de controle/aquisição：Use duplo 16 AD / DA diferencial síncrono independente hiperbárico ampliar técnico，16 canais duplo A / D de 16 bits; 12 canais 16 bits D / A; D / A duplo de 16 bits de 4 canais ，Amplificação digital integrada com bloqueio de fase e tecnologia de síntese de frequência digital direta；

10, unidade de alta tensão：Ao adicionar ± 300V de tensão, o ruído de ondulação é de apenas 1,5 mV; 4 canais duplos de 16 bits D / A fornece a tensão de controle em três direções de XYZ, pode ser expandido para 8 canais;

11, Ângulo de varredura：Pode ajustar de -180° a +180° continuamente;

13, a corrente do túnel：1pA a 50nA;

15, interface de imagem de quatro janelas,Pode observar simultaneamente quatro canais de dados diferentes de imagem simultaneamente, a imagem e todos os parâmetros atuais do ambiente de trabalho são restaurados simultaneamente;

16, memorização inteligente do sistema e função autodidata：Uma vez que um parâmetro varia, os parâmetros relevantes serão ajustados automaticamente com base na experiência do sistema para o melhor escopo sem interferência manual;

17, correção não linear de cerâmica piezoelétrica on-line, Correção de ajuste de superfície curva, correção de inclinação da ponta da amostra, o resultado final da medição: Não linearidade <1%，Ortogonalidade inferior a 1%. Além disso, também consideramos a velocidade de varredura no impacto da não linearidade;

18, função de análise de perfil arbitrário：Pode definir a curva arbitrariamente na imagem, obter a imagem do perfil desta curva;

19, Software de processamento de imagem:exibição de imagem tridimensional, filtragem de imagem, modificação de imagem, aprimoramento de borda, processamento de morfologia, variação de formato de imagem, transformações geométricas de imagem, conjunto de paleta etc;

20, software de análise de dados：Análise de rugosidade，Análise de tamanho de partícula，Análise de perfil，Análise de espessura do filme, Estatísticas de data, análise de atrito, A análise e comparação do rolamento, A análise e comparação do espectro de potência, Autocorrelação / análise de correlação cruzada, A função de adição e subtração da imagem, várias estatísticas/análises de curva etc;

21, Modelo de desenvolvimento de software：User-friendly para o segundo desenvolvimento, a conclusão de funções especiais de processamento de dados;

22, pacote de serviço de software：funções de software irrelevantes para hardware podem desfrutar de serviço de atualização gratuito para a vida;

23, suporte a tecnologia de download de firmware remoto,Pode baixar e atualizar diretamente o código nos dispositivos eletrônicos programáveis;
Software de controle remoto: Suporte para controle remoto de rede. Os fornecedores podem controlar remotamente o equipamento em diferentes locais, fazer manutenção remota, treinamento remoto, serviço experimental remoto e assim por diante.

24, software de controle remoto：Suporte para controle remoto de rede. Os fornecedores podem controlar remotamente o equipamento em diferentes locais, fazer manutenção remota, treinamento remoto, serviço experimental remoto e assim por diante.

Além disso, existem vários outros módulos de função disponíveis para escolha, como microscópio de força de fricção, microscópio de força magnética, microscópio de força eletrostática, microscópio de força atômica condutora, microscópio de força atômica líquida, microscópio de sonda Kelvin de varredura, microscópio de capacitância de varredura, plataforma de aquecimento de amostra, Dispositivo de realimentação de força. A seguir estão a breve introdução do módulo e o preço, se necessário, seja livre para escolher!

Capaz de obter a imagem da estrutura da superfície da amostra e sua estrutura de domínio magnético correspondente em nanoescala, a resolução é de 50nm, e será verificada pela estrutura de domínio magnético do disco rígido ou DV.

Pode controlar a temperatura da amostra da temperatura ambiente para 150 ℃, e a precisão é de 0,5 ℃. O design exclusivo do sistema de resfriamento da amostra pode tornar o controle de temperatura mais rápido e preciso. O diâmetro do estágio de amostra é de 30 mm. A escolha do material de liga de baixo coeficiente de temperatura e o design de isolamento podem restringir as influências do fenômeno de deriva na qualidade da imagem.