Не только может охарактеризовать структуру и свойства поверхности образца, но также может определить внутреннюю структуру и свойства образца в наномасштабе под поверхностью;

Система сканирования

1, стандартные функциональные модули：Сканирующий туннельный микроскоп(СТМ),Атомно-силовой микроскоп(АСМ), которые включают контакт, скольжение, постукивание, режим фазы и подъема, функцию нанофрезерования, функцию измерения толщины (пленки) / высоты (шага), технологию нанопозиционирования (ПЗС + высокоточная платформа для перемещения образца по осям XY + адаптивный сканер большого диапазона);

2, режим измерения супер кривой：Можно настроить все AD как сигнал Y, все DA как сигнал X, такие как кривая IV, кривая IZ, сила - кривая расстояния, амплитуда - кривая расстояния, частота - кривая фазы, фаза - кривая расстояния и частота - амплитудная кривая;

3, функция измерения толщины (пленки)/высоты (шага)：Имитирует профессиональный инструмент для измерения шага, может быстро и легко измерять толщину пленки / высоту шага;

4, функция нанофрезерования：Шаблоны травления (травление электричеством/силовое травление), трек травления (векторное травление/графическое травление);

5, диапазон сканера（XYZ）：50 мкм * 50 мкм * 8 мкм. Мы эксклюзивно предоставляем сканер 50-микронного диапазона, который может достигать разрешения атомного масштаба с помощью одного единственного сканера (уникальная базовая технология). (Если вы можете выбрать соответствующий сканер 100 мкм * 100 мкм * 8 мкм, если вам нужно ）;

6. Разрешение сканера 50/100 мкм.：
STM: оси XY 0,1 нм; 0,01 нм по оси Z, подтверждено HOPG;
Контактный режим АСМ: 0,2 нм по осям XY; 0,03 нм по оси Z, подтверждено слюдяной решеткой;
Режим постукивания АСМ: 0,2 нм по осям XY; 0,1 нм по оси Z，Проверено ДНК；
СПАМ：<10 морских миль.

7, пример размера платформы：Диаметр≤Φ70 мм, толщина≤30 мм.;

Высокоточная платформа для перемещения образца по осям XY: Высокоточная платформа для перемещения образца по осям XY управляется компьютером автоматически, и платформа может легко и точно позиционировать исследуемую область образца под зондом!
Диапазон перемещения: 5 мм × 5 мм, точность перемещения: 50 нм, весь процесс позиционирования контролируется с помощью ПЗС-матрицы для защиты безопасности системы, при этом контролируется точное позиционирование образцов.

Введите мобильное значение X, Y напрямую, и компьютер автоматически контролирует положение движущейся платформы.

8, точность управления/приобретения：Используйте двойной 16 AD / DA дифференциальный синхронный независимый гипербарический увеличенный технический, 16-канальный двойной 16-битный A / D; 12-канальный 16-битный ЦАП; 4-канальный двойной 16-битный ЦАП, встроенное цифровое усиление с фазовой автоподстройкой частоты и технология прямого цифрового синтеза частоты;

10, блок высокого напряжения：При добавлении напряжения ± 300 В шум пульсаций составляет всего 1,5 мВ; 4-канальный двойной 16-битный ЦАП обеспечивает управляющее напряжение в трех направлениях XYZ, может быть расширен до 8 каналов;

11, угол сканирования：Можно непрерывно регулировать от -180° до +180°;

13, Туннельный ток：от 1 пА до 50 нА;

15, четырехоконный интерфейс изображения,Может одновременно наблюдать изображение четырех различных каналов данных одновременно, изображение и все текущие параметры рабочей среды восстанавливаются одновременно;

16, система интеллектуального запоминания и функция самообучения：Как только один параметр изменится, соответствующие параметры будут автоматически отрегулированы на основе опыта работы системы в наилучшем диапазоне без ручного вмешательства;

17. Он-лайн пьезоэлектрическая керамическая нелинейная коррекция, Коррекция подгонки изогнутой поверхности, коррекция наклона кончика образца, окончательный результат измерения: нелинейность <1%, ортогональность менее 1%. Кроме того, мы также учитываем влияние нелинейности на скорость сканирования;

18, функция анализа произвольного профиля：Можно установить кривую произвольно на изображении, получить изображение профиля этой кривой;

19, программное обеспечение для обработки изображений:отображение трехмерного изображения, фильтрация изображения, модификация изображения, улучшение краев, обработка морфологии, изменение формата изображения, геометрические преобразования изображения, набор палитр и т. д.;

20, программное обеспечение для анализа данных：Анализ шероховатости, анализ размера частиц, анализ профиля, анализ толщины пленки, статистика даты, анализ трения, анализ и сравнение подшипника, анализ и сравнение спектра мощности, автокорреляционный / кросс-корреляционный анализ, функция сложения и вычитания изображения, различные кривые статистики / анализа и т. д.;

21, Шаблон разработки программного обеспечения：Удобный для второго развития, завершение специальных функций обработки данных;

22, пакет обновления программного обеспечения：программные функции, не относящиеся к оборудованию, могут бесплатно обновляться в течение всей жизни;

23, поддержка технологии удаленной загрузки прошивки,Можно напрямую загружать и обновлять код в программируемых электронных устройствах;
Программное обеспечение для удаленного управления: поддержка удаленного сетевого управления. Поставщики могут удаленно управлять оборудованием в разных местах, проводить удаленное техническое обслуживание, удаленное обучение, удаленное экспериментальное обслуживание и так далее.

24, программное обеспечение для дистанционного управления：Поддержка удаленного сетевого управления. Поставщики могут удаленно управлять оборудованием в разных местах, проводить удаленное техническое обслуживание, удаленное обучение, удаленное экспериментальное обслуживание и так далее.

Кроме того, на выбор доступны несколько других функциональных модулей, таких как микроскоп силы трения, микроскоп магнитной силы, микроскоп электростатической силы, микроскоп кондуктивной атомной силы, микроскоп жидкостной атомной силы, сканирующий зондовый микроскоп Кельвина, сканирующий емкостной микроскоп, платформа для нагрева образцов, Устройство обратной связи по усилию. Ниже приведены краткое введение модуля и цена. При необходимости будьте свободны в выборе!

Возможность получить изображение структуры поверхности образца и соответствующую ему структуру магнитных доменов в наномасштабе, разрешение составляет 50 нм, и будет проверена структурой магнитных доменов жесткого диска или DV.

Может контролировать температуру образца от комнатной температуры до 150 ℃, а точность составляет 0,5 ℃. Уникальная конструкция системы охлаждения образца обеспечивает более быстрый и точный контроль температуры. Диаметр предметного столика составляет 30 мм. Выбор материала из сплава с низким температурным коэффициентом и конструкция изоляции могут ограничить влияние явления дрейфа на качество изображения.