
Şartname | A62.4701 Tarama Probu Mikroskobu | |
|---|---|---|
| Özellik |
| |
tarama sistemi | 1, Standart fonksiyon modülleri:Tarama tünel mikroskopu(STM),Atomik Kuvvet Mikroskobu(AFM) temas, kayma, kılavuz çekme, faz ve yükseltme modu, Nanomilling işlevi, Kalınlık(film)/Yükseklik(Adım) ölçüm işlevi, Nano konumlandırma teknolojisi (CCD+ Yüksek hassasiyetli XY numune hareketli platformu + Geniş aralıklı uyarlanabilir tarayıcı); | |
2, Süper eğri ölçüm modu:Tüm AD'yi Y sinyali olarak, IV eğrisi, IZ eğrisi, Kuvvet - mesafe eğrisi, Genlik - mesafe eğrisi, Frekans - faz eğrisi, Faz - mesafe eğrisi ve Frekans gibi tüm DA'yı X sinyali olarak ayarlayabilir - genlik eğrisi; | ||
3, Kalınlık(film)/Yükseklik(Adım) ölçüm fonksiyonu:Profesyonel adım ölçüm cihazını taklit edin, film kalınlığı/adım yüksekliği ölçümünü hızlı ve kolay bir şekilde elde edebilirsiniz; | ||
4, Nanomilling işlevi:Dağlama desenleri(Elektrikle dağlama/ Kuvvetle dağlama), Dağlama izi(Vektörle dağlama/ Grafik dağlama); | ||
5, Tarayıcı aralığı(XYZ):50μm*50μm *8μm.Biz yalnızca tek bir tarayıcı (benzersiz çekirdek teknolojisi) kullanarak atomik ölçekte çözünürlük elde edebilen 50 mikron aralıklı bir tarayıcı sunuyoruz. ); | ||
6, 50/100μ tarayıcının çözünürlüğü: | ||
7, Örnek platform boyutu:Çap≤Φ70mm,Kalınlık≤30mm.; | ||
| Nano konumlandırma teknolojisi | Yüksek hassasiyetli XY numune taşıma platformu:Yüksek hassasiyetli XY numune taşıma platformu bilgisayar tarafından otomatik olarak kontrol edilir ve platform numunenin test edilen bölgesini probun altına kolayca ve doğru bir şekilde konumlandırabilir! | |
| a.Test bölgesini doğrudan hedefe sürüklemek için fareyi kullanın ve bilgisayar hareketli platformu otomatik olarak hareket ettirir; | ||
| b. Başlangıç noktasını keyfi olarak ayarlayabilir ve geri dönmek için bir anahtar (bilgisayar, başlangıç noktasına geri dönmek için hareketli platformu kontrol eder) | ||
| c.Birçok test bölgesini imzalayabilir ve konumlandırma yolu için kod yazabilir, bilgisayar tüm test bölgelerine otomatik olarak hareket etmek için hareketli platformu kontrol eder; | ||
X, Y'nin mobil değerini doğrudan girin ve bilgisayar hareketli platform konumunu otomatik olarak kontrol eder. | ||
Elektronik Kontrol Sistemi | merkez denetleyici:32-bit ARM teknolojisi, 16 M RAM, 2M Flash ROM; | |
8, Kontrol / edinme doğruluğu:Çift 16 AD / DA diferansiyel senkron bağımsız hiperbarik büyütme teknik , 16 kanallı çift 16 bit A / D kullanın; 12 kanallı 16 bit D / A; 4 kanallı çift 16 bit D / A , Entegre dijital faz kilitli amplifikasyon ve doğrudan dijital frekans sentez teknolojisi; | ||
| 9, Geri bildirim modu:8 kanallı dijital geri bildirim + NC Simulationfeedback; | ||
10, Yüksek gerilim ünitesi:± 300V Voltaj eklendiğinde dalgalanma gürültüsü sadece 1.5mV;4-kanallı çift 16-bit D / A, XYZ'nin üç yönünde kontrol voltajı sağlar, 8 kanala genişletilebilir; | ||
11, Tarama açısı:-180° ile +180° arasında sürekli olarak ayarlanabilir; | ||
| 12, Bilgisayarlar ve kontrolörler arasındaki arayüzler:USB2.0; | ||
13, tünel akımı:1pA ila 50nA; | ||
| 14, Sıcaklık ve nem algılama sistemi:gerçek zamanlı ortam izleme ve görüntüleme özellikleri ile , Hassasiyet : Sıcaklık 0.1°C , Nem 0.5%RH. | ||
| Yazılım sistemi | 15, Dört pencereli görüntü arayüzü,Aynı anda görüntülenen dört farklı veri kanalını aynı anda gözlemleyebilir, görüntü ve mevcut tüm çalışma ortamı parametreleri aynı anda geri yüklenir; | |
16, Sistem akıllı ezberleme ve kendi kendine öğrenme işlevi:Bir parametre değiştiğinde, ilgili parametreler sistem deneyimine dayalı olarak manuel müdahale olmaksızın en iyi kapsama göre otomatik olarak ayarlanacaktır; | ||
17, Çevrimiçi piezoelektrik seramik doğrusal olmayan düzeltme, Eğri yüzey uydurma düzeltmesi, numune uç-eğim düzeltmesi, nihai ölçüm sonucu: Doğrusal olmama <%1 , Dikeylik %1'den az. Ayrıca, doğrusal olmamanın etkisi üzerinde tarama hızını da göz önünde bulunduruyoruz; | ||
18, Keyfi profil analiz fonksiyonu:Görüntüde keyfi olarak eğri ayarlayabilir, bu eğrinin profil görüntüsünü alabilir; | ||
19, Görüntü işleme yazılımı:üç boyutlu görüntü gösterimi, Görüntü filtreleme, Görüntü değiştirme, Kenar iyileştirme, Morfoloji İşleme, Görüntü formatı değişimi, Görüntü geometrik dönüşümleri, Palet seti vb; | ||
20, Veri analiz yazılımı:Pürüzlülük analizi , Parçacık boyutu analizi , Profil Analizi , Filmin kalınlık analizi , Tarih İstatistikleri, sürtünme analizi, Rulmanın analizi ve karşılaştırılması, Güç spektrumunun analizi ve karşılaştırılması, Otokorelasyon / çapraz korelasyon analizi, Toplama ve çıkarma fonksiyonu görüntünün, Çeşitli eğri istatistikleri / analizi vb; | ||
21, Yazılım geliştirme şablonu:İkinci geliştirme için kullanıcı dostu, özel veri işleme işlevlerinin tamamlanması; | ||
22, Yazılım hizmet paketi:donanımla ilgisi olmayan yazılım işlevleri, ömür boyu ücretsiz yükseltme hizmetinden yararlanabilir; | ||
23, Uzaktan üretici yazılımı indirme teknolojisini destekleyin,Programlanabilir elektronik cihazlarda kodu doğrudan indirebilir ve yükseltebilir; | ||
24, Uzaktan kumanda yazılımı:Uzaktan ağ kontrolü için destek. Tedarikçiler, ekipmanı farklı yerlerde uzaktan kontrol edebilir, uzaktan bakım, uzaktan eğitim, uzaktan deneysel hizmet vb. | ||
Opsiyonel Fonksiyon Modülleri | Eşya yok. | |
Buna ek olarak, Sürtünme kuvveti mikroskobu, Manyetik kuvvet mikroskobu, Elektrostatik kuvvet mikroskobu, İletken atomik kuvvet mikroskobu, Sıvı atomik kuvvet mikroskobu, Taramalı Kelvin prob mikroskobu, Taramalı kapasitans mikroskobu, Örnek ısıtma platformu gibi seçebileceğiniz birkaç başka fonksiyon modülü vardır. Geri bildirim cihazını zorla. Aşağıdakiler modül kısa tanıtımı ve fiyatıdır, Gerekirse seçim yapmakta özgür olun! | ||
| Sürtünme kuvveti Mikroskop | Pozitif basıncı değiştirmeye devam eden orijinal tarama modu, orijinal tarama modunu ikiye böler. Çok hafif yük (10-7~10-9 N) altında ince film malzemelerinin tribolojik özelliklerini nicel olarak değerlendirebilir ve mikro sürtünme katsayısını ölçebilir;Konsol ucu ile tarama yönü arasındaki açıyı doğru bir şekilde konumlandırabilir; FZ ölçümlerinde yanal kuvvetin değişimini aynı anda ölçebilir. | A62.4701-1 |
| manyetik kuvvet mikroskobu | Numunenin yüzey yapısı görüntüsünü ve nano ölçekte karşılık gelen manyetik alan yapısını elde edebilen çözünürlük 50nm'dir ve Sabit sürücünün veya DV'nin manyetik alan yapısı tarafından doğrulanacaktır. | A62.4701-2 |
| elektrostatik kuvvet mikroskobu | Numunenin yüzey yapısı görüntüsünü ve buna karşılık gelen elektrik alan dağılımını nano ölçekte elde edebilme | A62.4701-3 |
| İletken atomik kuvvet mikroskobu | Numunenin yüzey yapısı görüntüsünü ve buna karşılık gelen mevcut görüntüyü nano ölçekte elde edebilme. Önyargı voltaj modülasyonu olsa da IV eğrisi bilgilerini vb. elde edebilir. | A62.4701-4 |
| sıvı atomik kuvvet mikroskobu | Sıvı atomik kuvvet mikroskobunun işlevini elde etmek için sıvı çevre prob cihazını ve sıvı zeka prob rafını yapılandırma. Sadece sıvı zeka prob rafını takmanız yeterlidir, sistem mevcut prob tipini otomatik olarak tanımlayabilir ve yazılım ve donanım manuel müdahale olmaksızın otomatik olarak uygun çalışma moduna geçecektir. | A62.4701-5 |
| Taramalı Kelvin prob mikroskobu | Uç ve numune arasına iki tip DC ve AC voltajı uygulamak, Lock-amplification teknolojisini kullanarak numunenin yüzey çalışma fonksiyonunun ve numunenin yüzey yapısı görüntüsünün değişmesini sağlayabilir. | A62.4701-6 |
| tarama kapasitans mikroskobu | Numunenin yüzey kapasitansındaki küçük değişiklikleri tespit etmek için voltaj modülasyonu tekniğini kullanma. | A62.4701-7 |
| Örnek ısıtma platformu | Numunenin sıcaklığını oda sıcaklığından 150 ℃'ye kadar kontrol edebilir ve hassasiyet 0,5 ℃'dir. Numunenin soğutma sisteminin benzersiz tasarımı, sıcaklık kontrolünü daha hızlı ve doğru bir şekilde yapabilir. Numune aşamasının çapı 30 mm'dir. Düşük sıcaklık katsayılı alaşım malzemesini ve yalıtım tasarımını seçmek, sürüklenme fenomeni etkilerini görüntüleme kalitesi üzerinde sınırlayabilir. | A62.4701-8 |
| Kuvvet geri besleme cihazı | SPM işlemi sırasında uç ve numune arasındaki etkileşim kuvvetini sezgisel olarak hissedebilen bir araç. Kuvvet geri besleme cihazı, pN'yi nN sınıfı güce ve nano'dan mikro sınıfa hareketi hissedilebilen, dokunulabilen ve manipüle edilebilen fiziksel bir alana doğrudan eşleyebilir. Nano-parçacıklar arasındaki yapışmayı, birleşmeyi, çekiciliği ve dışlanmayı hissedebilir, Nano fiberin dayanıklılığını ve DNA'nın spiral adsorpsiyonunu hissedebilir, ayrıca numuneleri hareket ettirebilir, manipüle edebilir, biriktirebilir ve sipariş edebilirsiniz. çeşitli yüzey çökelleri. | A62.4701-9 |
Türk dili
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk

Huang Xin