Non seulement peut caractériser la structure et la propriété de surface de l'échantillon, mais peut également détecter la structure et la propriété intérieures de l'échantillon à l'échelle nanométrique sous la surface ;

Système de numérisation

1, modules de fonction standard：Microscope à effet tunnel(STM),Microscope à force atomique(AFM) qui incluent les modes contact, glissement, tapotement, phase et élévation, fonction de nanofraisage, fonction de mesure d'épaisseur (film)/hauteur (étape), technologie de nano-positionnement (CCD + plate-forme de déplacement d'échantillons XY haute précision + scanner adaptatif à grande portée) ;

2, mode de mesure de super courbe：Peut configurer tous les AD en tant que signal Y, tous les DA en tant que signal X, tels que la courbe IV, la courbe IZ, la Force - la courbe de distance, l'Amplitude - la courbe de distance, la Fréquence - la courbe de phase, la Phase - la courbe de distance et la Fréquence - courbe d'amplitude ;

3, fonction de mesure d'épaisseur (film)/hauteur (étape)：Imitez l'instrument de mesure de pas professionnel, peut réaliser la mesure d'épaisseur de film/hauteur de pas rapidement et facilement;

4, fonction de nanofraisage：Motifs de gravure (gravure électrique/gravure de force), piste de gravure (gravure vectorielle/gravure graphique) ;

5, gamme de scanners（XYZ）：50μm * 50μm * 8μm.Nous fournissons exclusivement un scanner de 50 microns qui peut atteindre une résolution à l'échelle atomique en utilisant un seul scanner (technologie de base unique). (si vous pouvez choisir de faire correspondre le scanner de 100μm * 100μm * 8μm si vous avez besoin ） ;

6, la résolution du scanner 50/100μ：
STM : axes XY de 0,1 nm ; Axe Z 0.01nm，Vérifié par HOPG；
Mode contact AFM : axes XY 0,2 nm ; Axe Z de 0,03 nm, vérifié par le réseau de mica ;
Mode de tapotement AFM : axes XY de 0,2 nm ; Axe Z de 0,1 nm, vérifié par l'ADN ;
SPAM：<10nm.

7, taille de la plate-forme d'échantillon：Diamètre≤Φ70mmm, Épaisseur≤30mm.;

Plate-forme mobile d'échantillons XY de haute précision : la plate-forme mobile d'échantillons XY de haute précision est contrôlée automatiquement par ordinateur, et la plate-forme peut positionner la région testée de l'échantillon au-dessous de la sonde facilement et avec précision !
La plage de déplacement : 5 mm × 5 mm, la précision de déplacement : 50 nm, l'ensemble du processus de positionnement est surveillé avec CCD, dans la protection de la sécurité du système, tout en contrôlant le positionnement précis des échantillons.

Entrez la valeur mobile de X, Y directement, et l'ordinateur contrôle automatiquement la position de la plate-forme mobile.

8, précision de contrôle/acquisition：Utilisez le double 16 AD / DA différentiel hyperbare indépendant synchrone agrandissez technique, 16 canaux double A / D 16 bits; N/A 16 bits 12 canaux ; 4 canaux double D/A 16 bits, amplification numérique à verrouillage de phase intégrée et technologie de synthèse de fréquence numérique directe ;

10, unité haute tension：Lorsque vous ajoutez une tension de ± 300 V, le bruit d'ondulation n'est que de 1,5 mV ; 4 canaux double D/A 16 bits fournit la tension de commande dans trois directions de XYZ, peut être étendu à 8 canaux ;

11, angle de balayage：Peut s'ajuster de -180° à +180° en continu ;

13, le courant tunnel：1pA à 50nA ;

15, interface d'image à quatre fenêtres,Peut observer simultanément l'imagerie de quatre canaux de données différents simultanément, l'image et tous les paramètres actuels de l'environnement de travail sont restaurés simultanément ;

16, mémorisation intelligente du système et fonction autodidacte：Une fois qu'un paramètre varie, les paramètres pertinents seront ajustés automatiquement sur la base de l'expérience du système à la meilleure portée sans interférence manuelle ;

17, correction non linéaire en céramique piézoélectrique en ligne, Correction d'ajustement de surface incurvée, correction de l'inclinaison de la pointe de l'échantillon, résultat de la mesure finale : non-linéarité <1 %, orthogonalité inférieure à 1 %. De plus, nous considérons également la vitesse de balayage sur l'impact de la non-linéarité ;

18, fonction d'analyse de profil arbitraire：Peut définir la courbe arbitrairement dans l'image, obtenir l'image de profil de cette courbe ;

19, logiciel de traitement d'image :affichage d'image en trois dimensions, filtrage d'image, modification d'image, amélioration des bords, traitement de la morphologie, variation du format d'image, transformations géométriques de l'image, jeu de palettes, etc. ;

20, logiciel d'analyse de données：Analyse de la rugosité, analyse de la taille des particules, analyse du profil, analyse de l'épaisseur du film, statistiques de date, analyse du frottement, analyse et comparaison du roulement, analyse et comparaison du spectre de puissance, analyse d'autocorrélation / corrélation croisée, fonction d'addition et de soustraction de l'image, diverses statistiques/analyses de courbes, etc. ;

21, Modèle de développement logiciel：Convivial pour le deuxième développement, l'achèvement d'une des fonctions informatiques spéciales ;

22, pack de services logiciels：les fonctions logicielles sans rapport avec le matériel peuvent bénéficier d'un service de mise à niveau gratuit à vie ;

23, prend en charge la technologie de téléchargement du micrologiciel à distance,Peut directement télécharger et mettre à niveau le code dans les appareils électroniques programmables ;
Logiciel de contrôle à distance : prise en charge du contrôle du réseau à distance. Les fournisseurs peuvent contrôler à distance l'équipement à différents endroits, effectuer une maintenance à distance, une formation à distance, un service expérimental à distance, etc.

24, logiciel de contrôle à distance：Prise en charge du contrôle du réseau à distance. Les fournisseurs peuvent contrôler à distance l'équipement à différents endroits, effectuer une maintenance à distance, une formation à distance, un service expérimental à distance, etc.

En outre, il existe plusieurs autres modules de fonction disponibles au choix, tels que le microscope à force de friction, le microscope à force magnétique, le microscope à force électrostatique, le microscope à force atomique conductrice, le microscope à force atomique liquide, le microscope à sonde Kelvin à balayage, le microscope à capacité à balayage, la plate-forme de chauffage d'échantillon, Dispositif de retour de force. Voici la brève introduction du module et le prix, si nécessaire, soyez libre de choisir !

Capable d'obtenir l'image de la structure de surface de l'échantillon et sa structure de domaine magnétique correspondante à l'échelle nanométrique, la résolution est de 50 nm et sera vérifiée par la structure de domaine magnétique du disque dur ou DV.

Peut contrôler la température de l'échantillon de la température ambiante à 150 ℃, et la précision est de 0,5 ℃. La conception unique du système de refroidissement de l'échantillon peut rendre le contrôle de la température plus rapide et plus précis. Le diamètre de l'étage de l'échantillon est de 30 mm. Le choix du matériau d'alliage à faible coefficient de température et la conception de l'isolation peuvent limiter les influences du phénomène de dérive sur la qualité de l'image.