Hindi lamang maaaring makilala ang istraktura at pag-aari ng sample sa ibabaw, ngunit maaari ding makita ang panloob na istraktura at ari-arian ng sample sa nano-scale sa ibaba ng ibabaw;

Sistema ng pag-scan

1, Mga module ng standard na function：Pag-scan ng Tunneling Microscope(STM),Atomic Force Microscope(AFM) na kinabibilangan ng contact, sliding, tapping, phase at raise mode, Nanomilling function, Thickness(film)/Height(Step) measurement function, Nano-positioning technology（CCD+ High precision XY sample moving platform + Large range adaptive-scanner）;

2, Super curve measurement mode：Maaaring i-set up ang lahat ng AD bilang Y signal, lahat ng DA bilang X signal, tulad ng IV curve, IZ curve, Force - ang distance curve, Amplitude - ang distance curve, Frequency - phase curve, Phase - ang distance curve at Frequency - amplitude curve;

3, Thickness(film)/Height(Step) function na pagsukat：Gayahin ang propesyonal na instrumento sa pagsukat ng hakbang, maaaring mabilis at madali ang pagsukat ng kapal/step height ng pelikula;

4, Nanomilling function：Mga pattern ng pag-ukit（Pag-ukit ng kuryente/ Force etching），Etching track（Vector etching/ Graphics etching）;

5, hanay ng scanner（XYZ）：50μm*50μm *8μm. Eksklusibo kaming nagbibigay ng 50-micron-range scanner na makakamit ang atomic-scale resolution sa pamamagitan ng paggamit ng isang solong scanner(natatanging core technology).（kung Mapipili ang pagtutugma ng scanner na 100μm *100μm *8μm kung kailangan mo ）;

6, Ang resolution ng 50/100μ scanner：
STM：0.1nm XY axes; 0.01nm Z axis，Na-verify ng HOPG；
Contact Mode AFM：0.2nm XY axes; 0.03nm Z axis，Na-verify ng Mica lattice；
Tapping Mode AFM：0.2nm XY axes; 0.1nm Z axis，Na-verify ng DNA；
SPAM:<10nm.

7, Sample na laki ng platform：Diameter≤Φ70mmm,Kapal≤30mm.;

High precision XY sample moving platform：Ang mataas na precision XY sample moving platform ay awtomatikong kinokontrol ng computer，at ang platform ay maaaring iposisyon ang nasubok na rehiyon ng sample sa ibaba ng probe nang madali at tumpak!
Ang moving range：5mm×5mm, the moving precision：50nm，Ang buong proseso ng pagpoposisyon ay sinusubaybayan gamit ang CCD, sa proteksyon ng system security, habang kinokontrol ang mga sample ng tumpak na pagpoposisyon.

Ipasok ang halaga ng mobile ng X, Y nang direkta, at awtomatikong kinokontrol ng computer ang gumagalaw na posisyon ng platform.

8, Pagkontrol / katumpakan ng pagkuha：Gumamit ng dual 16 AD / DA differential synchronous independent hyperbaric enlarge technical，16-channel dual 16-bit A / D; 12-channel 16-bit D / A; 4-channel dual 16-bit D / A ，Integrated na digital phase-locked amplification at direktang digital frequency synthesis technology；

10, Mataas na boltahe na yunit：Kapag nagdagdag ng ±300V Voltage, ang ripple noise ay 1.5mV lang;

11, I-scan ang anggulo：Maaaring mag-adjust mula -180° hanggang +180° nang tuluy-tuloy;

13, Ang tunnel kasalukuyang：1pA hanggang 50nA;

15, Four-window image interface,Maaaring sabay-sabay na obserbahan ang apat na magkakaibang mga channel ng data imaging nang sabay-sabay, ang imahe at lahat ng kasalukuyang mga parameter ng kapaligiran sa pagtatrabaho ay naibalik nang sabay-sabay;

16, System intelligent memorization at self-itinuro function：Kapag nag-iba-iba ang isang parameter, ang mga nauugnay na parameter ay awtomatikong maisasaayos ayon sa karanasan ng system sa pinakamahusay na saklaw nang walang manu-manong interference;

17, On-line piezoelectric ceramic nonlinear correction, Curved surface fitting correction, sample tip-tilt correction, ang huling resulta ng pagsukat: Non-linearity <1%，Orthogonality mas mababa sa 1%. Bukod dito, isinasaalang-alang din namin ang bilis ng pag-scan sa epekto ng non-linearity;

18, Arbitrary profile analysis function：Maaaring magtakda ng curve nang basta-basta sa larawan, kunin ang larawan sa profile ng curve na ito;

19, Image processing software:three-dimensional na pagpapakita ng imahe，Pag-filter ng imahe，Pagbabago ng imahe，Pagpapahusay ng gilid, Pagproseso ng Morpolohiya, Pag-iiba ng format ng imahe，Mga geometric na pagbabagong-anyo ng imahe, Palette set atbp;

20, Data analysis software：Pagsusuri ng pagkamagaspang，Pagsusuri ng laki ng particle，Pagsusuri ng Profile，Pagsusuri ng kapal ng pelikula , Mga Istatistika ng Petsa, pagsusuri ng friction, Ang pagsusuri at paghahambing ng Bearing, Ang pagsusuri at paghahambing ng spectrum ng kapangyarihan, Autocorrelation / cross-correlation analysis, Ang pagdaragdag at pagbabawas ng function ng imahe, Iba't ibang mga istatistika ng curve / pagsusuri atbp;

21, template ng pagbuo ng software：User-friendly para sa ikalawang pag-unlad, ang pagkumpleto ng isang espesyal na data-processing function;

22, Software service pack：ang mga function ng software na hindi nauugnay sa hardware ay maaaring tamasahin ang libreng serbisyo sa pag-upgrade habang buhay;

23, Suportahan ang remote na teknolohiya sa pag-download ng firmware,Maaaring direktang i-download at i-upgrade ang code sa programmable electronic device;
Remote control software: Suporta para sa remote na network control. Maaaring malayuang kontrolin ng mga supplier ang kagamitan sa iba't ibang lugar, magsagawa ng malayuang pagpapanatili, malayong pagsasanay, malayuang pang-eksperimentong serbisyo at iba pa.

24, Remote control software：Suporta para sa remote na kontrol sa network. Maaaring malayuang kontrolin ng mga supplier ang kagamitan sa iba't ibang lugar, magsagawa ng malayuang pagpapanatili, malayong pagsasanay, malayuang pang-eksperimentong serbisyo at iba pa.

Bilang karagdagan, mayroong ilang iba pang mga module ng function na magagamit para sa pagpili, tulad ng Friction force microscope, Magnetic force microscope, Electrostatic force microscope, Conductive atomic force microscope, Liquid atomic force microscope, Scanning Kelvin probe microscope, Scanning capacitance microscope, Sample heating platform, Force feedback device. Ang mga sumusunod ay ang maikling panimula ng module at ang presyo, Kung kinakailangan, malayang pumili!

Makuha ang imahe ng istraktura sa ibabaw ng sample at ang kaukulang istraktura ng magnetic domain nito sa nano-scale, ang resolution ay 50nm，at mabe-verify ng magnetic domain structure ng Hard drive o DV.

Maaaring kontrolin ang temperatura ng sample mula sa temperatura ng silid hanggang 150 ℃, at ang katumpakan ay 0.5 ℃. Ang natatanging disenyo ng sistema ng paglamig ng sample ay maaaring gawing mas mabilis at tumpak ang pagkontrol sa temperatura. Ang diameter ng sample stage ay 30mm. Ang pagpili ng materyal na haluang metal na koepisyent ng mababang temperatura, at ang pagdidisenyo ng pagkakabukod, ay maaaring makahadlang sa mga impluwensya ng drift phenomenon sa kalidad ng imaging.