No solo puede caracterizar la estructura y las propiedades de la superficie de la muestra, sino que también puede detectar la estructura y las propiedades internas de la muestra a escala nanométrica debajo de la superficie;

sistema de escaneo

1, módulos de función estándar：Microscopio de efecto túnel(STM),Microscopio de fuerza atómica(AFM) que incluyen modo de contacto, deslizamiento, golpeteo, fase y elevación, función de nanofresado, función de medición de espesor (película)/altura (paso), tecnología de nanoposicionamiento (CCD + plataforma de movimiento de muestras XY de alta precisión + escáner adaptativo de gran alcance);

2, modo de medición de súper curva：Puede configurar todo el AD como señal Y, todo el DA como señal X, como la curva IV, la curva IZ, la fuerza: la curva de distancia, la amplitud: la curva de distancia, la frecuencia: curva de fase, la fase: la curva de distancia y la frecuencia. - curva de amplitud;

3, función de medición de espesor (película)/altura (paso)：Imitar el instrumento de medición de pasos profesional, puede lograr la medición de espesor de película/altura de paso rápida y fácilmente;

4, función de nanomolienda：Patrones de grabado (grabado de electricidad/grabado de fuerza), pista de grabado (grabado de vectores/grabado de gráficos);

5, rango de escáner（XYZ）:50 μm * 50 μm * 8 μm. Proporcionamos exclusivamente un escáner de rango de 50 micras que puede lograr una resolución de escala atómica utilizando un solo escáner (tecnología de núcleo único). (Si puede elegir que coincida con el escáner de 100 μm * 100 μm * 8 μm si lo necesita ）;

6, la resolución del escáner 50/100μ：
STM: ejes XY de 0,1 nm; Eje Z de 0,01 nm, verificado por HOPG;
Modo de contacto AFM: ejes XY de 0,2 nm; Eje Z de 0,03 nm, verificado por Mica Lattice;
Modo de toque AFM: ejes XY de 0,2 nm; Eje Z de 0,1 nm, verificado por ADN;
SPAM：<10nm.

7, tamaño de la plataforma de muestra：Diámetro≤Φ70mmm,Espesor≤30mm.;

Plataforma de movimiento de muestras XY de alta precisión: la plataforma de movimiento de muestras XY de alta precisión está controlada por computadora automáticamente, y la plataforma puede colocar la región probada de la muestra debajo de la sonda con facilidad y precisión.
El rango de movimiento: 5 mm × 5 mm, la precisión de movimiento: 50 nm, todo el proceso de posicionamiento se monitorea con CCD, en la protección de la seguridad del sistema, mientras controla el posicionamiento preciso de las muestras.

Ingrese el valor móvil de X, Y directamente, y la computadora controlará la posición de la plataforma móvil automáticamente.

8, precisión de control/adquisición：Uso dual 16 AD / DA diferencial síncrono independiente hiperbárico ampliar técnica, 16 canales dual 16-bit A / D; D/A de 12 canales y 16 bits; D / A dual de 16 bits de 4 canales, amplificación de bloqueo de fase digital integrada y tecnología de síntesis de frecuencia digital directa;

10, unidad de alto voltaje：Cuando se agrega un voltaje de ± 300 V, el ruido de ondulación es de solo 1,5 mV; D / A dual de 16 bits de 4 canales proporciona el voltaje de control en tres direcciones de XYZ, se puede expandir a 8 canales;

11, ángulo de escaneo：Se puede ajustar de -180° a +180° continuamente;

13, la corriente del túnel：1pA a 50nA;

15, interfaz de imagen de cuatro ventanas,Puede observar simultáneamente cuatro canales de datos diferentes, la imagen y todos los parámetros del entorno de trabajo actual se restauran simultáneamente;

16, sistema de memorización inteligente y función autodidacta：Una vez que un parámetro varía, los parámetros relevantes se ajustarán automáticamente al mejor alcance sin interferencia manual, sobre la base de la experiencia del sistema;

17, corrección no lineal de cerámica piezoeléctrica en línea, Corrección de ajuste de superficie curva, corrección de inclinación de la punta de la muestra, resultado final de la medición: no linealidad <1%, ortogonalidad inferior al 1%. Además, también consideramos la velocidad de escaneo en el impacto de la no linealidad;

18, función de análisis de perfil arbitrario：Puede establecer la curva arbitrariamente en la imagen, obtenga la imagen de perfil de esta curva;

19, software de procesamiento de imágenes:visualización de imágenes tridimensionales, filtrado de imágenes, modificación de imágenes, mejora de bordes, procesamiento de morfología, variación de formato de imagen, transformaciones geométricas de imágenes, conjunto de paletas, etc.

20, software de análisis de datos：Análisis de rugosidad, análisis de tamaño de partículas, análisis de perfil, análisis de espesor de la película, estadísticas de fecha, análisis de fricción, análisis y comparación del rodamiento, análisis y comparación del espectro de potencia, análisis de autocorrelación/correlación cruzada, función de suma y resta de la imagen, varias estadísticas / análisis de curvas, etc.;

21, plantilla de desarrollo de software：Fácil de usar para el segundo desarrollo, la realización de funciones especiales de procesamiento de datos;

22, paquete de servicio de software：las funciones de software irrelevantes para el hardware pueden disfrutar de un servicio de actualización gratuito de por vida;

23, admite la tecnología de descarga de firmware remota,Puede descargar y actualizar directamente el código en los dispositivos electrónicos programables;
Software de control remoto: soporte para control remoto de red. Los proveedores pueden controlar remotamente el equipo en diferentes lugares, realizar mantenimiento remoto, capacitación remota, servicio experimental remoto, etc.

24, software de control remoto：Soporte para control remoto de red. Los proveedores pueden controlar remotamente el equipo en diferentes lugares, realizar mantenimiento remoto, capacitación remota, servicio experimental remoto, etc.

Además, hay varios otros módulos de funciones disponibles para elegir, como microscopio de fuerza de fricción, microscopio de fuerza magnética, microscopio de fuerza electrostática, microscopio de fuerza atómica conductora, microscopio de fuerza atómica líquida, microscopio de sonda Kelvin de barrido, microscopio de capacitancia de barrido, plataforma de calentamiento de muestras, Dispositivo de retroalimentación de fuerza. La siguiente es la breve introducción del módulo y el precio. Si es necesario, ¡siéntase libre de elegir!

Capaz de obtener la imagen de la estructura de la superficie de la muestra y su estructura de dominio magnético correspondiente a escala nanométrica, la resolución es de 50 nm y se verificará mediante la estructura de dominio magnético del disco duro o DV.

Puede controlar la temperatura de la muestra desde la temperatura ambiente hasta 150 ℃, y la precisión es de 0,5 ℃. El diseño único del sistema de enfriamiento de la muestra puede hacer que el control de temperatura sea más rápido y preciso. El diámetro de la etapa de muestra es de 30 mm. La elección del material de aleación de bajo coeficiente de temperatura y el diseño del aislamiento pueden limitar las influencias del fenómeno de deriva en la calidad de la imagen.