Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Mengapa Kami (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Mengapa Kami)F-1501 Wanda Plaza, Jalan Shijingshan No.18, Beijing 100043, TiongkokOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.100043Mengapa Kami (指向 公司信息, 格式不好编辑, 另起一个页面Mengapa Kami)F-1501 Wanda Plaza, Jalan Shijingshan No.18, Beijing 100043, TiongkokOpto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.O

Pemindaian Mikroskop Probe
Pemindaian Mikroskop Probe

Pemindaian Mikroskop Probe

Kuantitas:


Spesifikasi
A62.4701 Pemindaian Mikroskop Probe
Fitur


Tidak hanya dapat mengkarakterisasi struktur dan properti permukaan sampel, tetapi juga dapat mendeteksi struktur dan properti bagian dalam sampel pada skala nano di bawah permukaan;

Sistem pemindaian

1, modul fungsi standarPemindaian Mikroskop Tunneling(STM),Mikroskop Kekuatan Atom(AFM) yang mencakup mode kontak, geser, ketuk, fase dan kenaikan, fungsi Nanomilling, fungsi pengukuran Ketebalan (film)/Tinggi (Langkah), teknologi pemosisian nano (CCD+ Platform pemindahan sampel XY presisi tinggi + Pemindai adaptif rentang besar);

2, mode pengukuran kurva superDapat mengatur semua AD sebagai sinyal Y, semua DA sebagai sinyal X, seperti kurva IV, kurva IZ, Force - kurva jarak, Amplitudo - kurva jarak, Frekuensi - kurva fase, Fase - kurva jarak dan Frekuensi - kurva amplitudo;

3, fungsi pengukuran Ketebalan (film) / Tinggi (Langkah)Meniru alat ukur langkah profesional, dapat mencapai ketebalan film/pengukuran tinggi langkah dengan cepat dan mudah;

4, fungsi NanomillingPola etsa Etsa listrik / Etsa paksa Trek etsa Etsa vektor / Etsa grafis);

5, Rentang pemindaiXYZkan50μm*50μm *8μm.Kami secara eksklusif menyediakan pemindai kisaran 50 mikron yang dapat mencapai resolusi skala atom dengan menggunakan satu pemindai tunggal (teknologi inti unik).(Jika dapat memilih pencocokan pemindai 100μm *100μm *8μm jika Anda membutuhkan ;

6, Resolusi pemindai 50/100μ
STM:0.1nm sumbu XY; Sumbu Z 0,01nm Diverifikasi oleh HOPG;
Mode Kontak AFM:0.2nm sumbu XY; Sumbu Z 0,03nm Diverifikasi oleh kisi Mika;
Tapping Mode AFM:0.2nm sumbu XY; Sumbu Z 0.1nm Diverifikasi oleh DNA;
SPAM:<10nm.

7, Ukuran platform sampelDiameter≤Φ70mmm, Ketebalan≤30mm.;

Teknologi penentuan posisi nano

Platform pemindahan sampel XY presisi tinggi Platform pemindahan sampel XY presisi tinggi dikendalikan oleh komputer secara otomatis dan platform dapat memposisikan wilayah sampel yang diuji ke bagian bawah probe dengan mudah dan akurat!
Rentang bergerak:5mm×5mm, presisi bergerak:50nm,Seluruh proses pemosisian dipantau dengan CCD, dalam perlindungan keamanan sistem, sambil mengontrol sampel pemosisian yang tepat.

sebuah.Menggunakan mouse untuk menyeret zona uji ke tujuan secara langsung, dan komputer mengontrol platform yang bergerak bergerak secara otomatis;
b. Dapat mengatur titik awal secara sewenang-wenang, dan kunci untuk kembali, komputer mengontrol platform yang bergerak untuk kembali ke titik awal)
c.Dapat menandatangani banyak zona uji, dan menulis kode untuk jalur penentuan posisi, komputer mengontrol platform bergerak untuk pindah ke semua zona uji secara otomatis;

Masukkan nilai ponsel X, Y secara langsung, dan komputer mengontrol posisi platform bergerak secara otomatis.

Sistem Kontrol Elektronik

pengontrol pusatTeknologi ARM 32-bit, RAM 16 M, ROM Flash 2M;

8, Kontrol / akurasi akuisisiGunakan dual 16 AD / DA diferensial sinkron hiperbarik independen memperbesar teknis,16-channel ganda 16-bit A / D; 12-channel 16-bit D / A; 4-channel dual 16-bit D / A Amplifikasi fase-terkunci digital terintegrasi dan teknologi sintesis frekuensi digital langsung;

9, mode Umpan Balik:Umpan balik digital 8 saluran + Umpan balik Simulasi NC;

10, unit tegangan tinggiKetika menambahkan ±300V Tegangan riak kebisingan hanya 1.5mV;4-channel ganda 16-bit D / A memberikan tegangan kontrol dalam tiga arah XYZ, Dapat diperluas ke 8-channel;

11, Memindai sudutDapat menyesuaikan dari -180 ° hingga + 180 ° terus menerus;

12, Antarmuka antara komputer dan pengontrolUSB2.0;

13, Arus terowongan1pA hingga 50nA;

14, Sistem penginderaan suhu dan kelembaban:dengan monitor lingkungan waktu nyata dan fitur tampilan Presisi Suhu 0,1 ° C Kelembaban 0,5 RH.
Sistem perangkat lunak

15, Antarmuka gambar empat jendela,Dapat secara bersamaan mengamati empat pencitraan saluran data yang berbeda secara bersamaan, gambar dan semua parameter lingkungan kerja saat ini dipulihkan secara bersamaan;

16, Sistem menghafal cerdas dan fungsi otodidakSetelah satu parameter bervariasi, parameter yang relevan berdasarkan pengalaman sistem akan disesuaikan secara otomatis ke cakupan terbaik tanpa gangguan manual;

17, Koreksi nonlinier keramik piezoelektrik online, Koreksi pemasangan permukaan melengkung, koreksi kemiringan sampel, hasil pengukuran akhir: Non-linier <1%,Ortogonalitas kurang dari 1%. Selain itu, kami juga mempertimbangkan kecepatan pemindaian pada dampak non-linearitas;

18, fungsi analisis profil sewenang-wenangDapat mengatur kurva secara sewenang-wenang pada gambar, dapatkan gambar profil kurva ini;

19, Perangkat lunak pengolah gambar:tampilan gambar tiga dimensi Pemfilteran gambar Modifikasi gambar Peningkatan tepi, Pemrosesan Morfologi, Variasi format gambar Transformasi geometris gambar, Set palet dll;

20, perangkat lunak analisis dataAnalisis kekasaran Analisis ukuran partikel Analisis Profil Analisis ketebalan film, Statistik Tanggal, analisis gesekan, Analisis dan perbandingan Bantalan, Analisis dan perbandingan spektrum daya, Autokorelasi / analisis korelasi silang, Fungsi penambahan dan pengurangan dari gambar, Berbagai statistik kurva / analisis dll;

21, Template pengembangan perangkat lunakUser-friendly untuk pengembangan kedua, penyelesaian fungsi pemrosesan data khusus;

22, paket layanan perangkat lunakfungsi perangkat lunak yang tidak relevan dengan perangkat keras dapat menikmati layanan peningkatan gratis seumur hidup;

23, Mendukung teknologi pengunduhan firmware jarak jauh,Dapat langsung mengunduh dan meningkatkan kode di perangkat elektronik yang dapat diprogram;
Perangkat lunak kendali jarak jauh: Dukungan untuk kendali jaringan jarak jauh. Pemasok dapat mengontrol peralatan dari jarak jauh di tempat yang berbeda, melakukan perawatan jarak jauh, pelatihan jarak jauh, layanan eksperimental jarak jauh, dan sebagainya.

24, perangkat lunak kendali jarak jauhDukungan untuk kontrol jaringan jarak jauh. Pemasok dapat mengontrol peralatan dari jarak jauh di tempat yang berbeda, melakukan perawatan jarak jauh, pelatihan jarak jauh, layanan eksperimental jarak jauh, dan sebagainya.

Modul Fungsi Opsional
Nomor barang

Selain itu, ada beberapa modul fungsi lain yang tersedia untuk dipilih, seperti mikroskop gaya gesekan, mikroskop gaya magnet, mikroskop gaya elektrostatik, mikroskop gaya atom konduktif, mikroskop gaya atom cair, mikroskop probe kelvin pemindaian, mikroskop kapasitansi pemindaian, platform pemanas sampel, Perangkat umpan balik paksa. Berikut ini adalah pengenalan singkat modul dan harganya, Jika perlu, bebas memilih!

Mikroskop gaya gesekanMode pemindaian asli terus mengubah tekanan positif, mode pemindaian dikotomisasi asli. Dapat secara kuantitatif mengevaluasi sifat tribologis bahan film tipis di bawah beban yang sangat ringan (10-7~10-9 N), dan mengukur koefisien gesekan mikro. Dapat secara akurat memposisikan sudut antara ujung kantilever dan arah pemindaian; Dapat sekaligus mengukur perubahan gaya lateral Dalam pengukuran FZ.A62.4701-1
Mikroskop gaya magnet

Mampu memperoleh gambar struktur permukaan sampel dan struktur domain magnetik yang sesuai pada skala nano, resolusinya adalah 50nm,dan akan diverifikasi oleh struktur domain magnetik Hard drive atau DV.

A62.4701-2
Mikroskop gaya elektrostatikMampu mendapatkan gambar struktur permukaan sampel dan distribusi medan listrik yang sesuai pada skala nanoA62.4701-3
Mikroskop kekuatan atom konduktifMampu mendapatkan gambar struktur permukaan sampel dan gambar saat ini yang sesuai pada skala nano. Dapat memperoleh informasi kurva IV dan sebagainya melalui modulasi tegangan bias.A62.4701-4
Mikroskop kekuatan atom cairMengonfigurasi perangkat probe lingkungan cair dan rak probe intelijen cair untuk mencapai fungsi mikroskop kekuatan atom cair. Hanya perlu memasukkan rak probe intelijen cair, sistem dapat secara otomatis mengidentifikasi jenis probe yang ada, dan perangkat lunak dan perangkat keras akan secara otomatis beralih ke mode kerja yang sesuai tanpa gangguan manual.A62.4701-5
Pemindaian mikroskop probe KelvinMemaksakan dua jenis tegangan DC dan AC antara ujung dan sampel, menggunakan teknologi Lock-amplification bisa mendapatkan perubahan fungsi kerja permukaan sampel dan gambar struktur permukaan sampel.A62.4701-6
Mikroskop kapasitansi pemindaianMenggunakan teknik modulasi tegangan untuk mendeteksi perubahan kecil kapasitansi permukaan sampel.A62.4701-7
Platform pemanas sampel

Dapat mengontrol suhu sampel dari suhu kamar hingga 150 , dan presisi 0,5 . Desain unik dari sistem pendingin sampel dapat membuat kontrol suhu lebih cepat dan akurat. Diameter tahap sampel adalah 30mm. Memilih bahan paduan koefisien suhu rendah, dan desain insulasi, dapat membatasi pengaruh fenomena drift pada kualitas pencitraan.

A62.471-8
Perangkat umpan balik kekuatanAlat yang secara intuitif dapat merasakan gaya interaksi antara ujung dan sampel selama operasi SPM. Perangkat umpan balik gaya dapat langsung memetakan pN ke kekuatan kelas nN, dan gerakan kelas nano ke mikro ke ruang fisik yang dapat dirasakan, disentuh, dan dimanipulasi. Anda dapat merasakan adhesi, reuni, daya tarik, dan pengecualian antara partikel nano, dapat merasakan obdurabilitas serat Nano dan adsorpsi spiral DNA, Anda juga dapat memindahkan, memanipulasi, menumpuk, dan memesan sampel berbagai sedimen permukaan.A62.4701-9

layanan online

layanan online
Kami di sini online untuk mendukung!

Kirim Pesan

*
*
*
*
*
7
close
7

Service

Scan the QR code Close
qr code

Data kosong

BANDINGKAN PRODUK

Data kosong

Pengaturan Cookie Tingkat Lanjut

Cookie Penting

Cookies ini mengaktifkan fungsionalitas inti seperti keamanan, verifikasi identitas, dan manajemen jaringan. Cookie ini tidak dapat dinonaktifkan.

Aktifkan Cookie Pemasaran

Cookie ini digunakan untuk melacak kinerja periklanan, menyetujui pengiriman data pengguna terkait periklanan ke Google, dan mengizinkan situs web untuk menayangkan iklan yang dipersonalisasi guna memberikan layanan yang lebih relevan.

Aktifkan Cookie Fungsional

Cookies ini mengumpulkan data untuk mengingat pilihan yang diambil pengguna untuk meningkatkan dan memberikan pengalaman yang lebih personal.

Aktifkan Cookie Analytics

Cookies ini membantu kami memahami bagaimana pengunjung berinteraksi dengan situs web kami, menemukan kesalahan, dan memberikan analisis keseluruhan yang lebih baik.

Cookie penting tidak dapat dinonaktifkan.