
Spesifikasi | A62.4701 Pemindaian Mikroskop Probe | |
|---|---|---|
| Fitur |
| |
Sistem pemindaian | 1, modul fungsi standar:Pemindaian Mikroskop Tunneling(STM),Mikroskop Kekuatan Atom(AFM) yang mencakup mode kontak, geser, ketuk, fase dan kenaikan, fungsi Nanomilling, fungsi pengukuran Ketebalan (film)/Tinggi (Langkah), teknologi pemosisian nano (CCD+ Platform pemindahan sampel XY presisi tinggi + Pemindai adaptif rentang besar); | |
2, mode pengukuran kurva super:Dapat mengatur semua AD sebagai sinyal Y, semua DA sebagai sinyal X, seperti kurva IV, kurva IZ, Force - kurva jarak, Amplitudo - kurva jarak, Frekuensi - kurva fase, Fase - kurva jarak dan Frekuensi - kurva amplitudo; | ||
3, fungsi pengukuran Ketebalan (film) / Tinggi (Langkah):Meniru alat ukur langkah profesional, dapat mencapai ketebalan film/pengukuran tinggi langkah dengan cepat dan mudah; | ||
4, fungsi Nanomilling:Pola etsa Etsa listrik / Etsa paksa Trek etsa Etsa vektor / Etsa grafis); | ||
5, Rentang pemindai(XYZkan50μm*50μm *8μm.Kami secara eksklusif menyediakan pemindai kisaran 50 mikron yang dapat mencapai resolusi skala atom dengan menggunakan satu pemindai tunggal (teknologi inti unik).(Jika dapat memilih pencocokan pemindai 100μm *100μm *8μm jika Anda membutuhkan ; | ||
6, Resolusi pemindai 50/100μ: | ||
7, Ukuran platform sampel:Diameter≤Φ70mmm, Ketebalan≤30mm.; | ||
| Teknologi penentuan posisi nano | Platform pemindahan sampel XY presisi tinggi Platform pemindahan sampel XY presisi tinggi dikendalikan oleh komputer secara otomatis dan platform dapat memposisikan wilayah sampel yang diuji ke bagian bawah probe dengan mudah dan akurat! | |
| sebuah.Menggunakan mouse untuk menyeret zona uji ke tujuan secara langsung, dan komputer mengontrol platform yang bergerak bergerak secara otomatis; | ||
| b. Dapat mengatur titik awal secara sewenang-wenang, dan kunci untuk kembali, komputer mengontrol platform yang bergerak untuk kembali ke titik awal) | ||
| c.Dapat menandatangani banyak zona uji, dan menulis kode untuk jalur penentuan posisi, komputer mengontrol platform bergerak untuk pindah ke semua zona uji secara otomatis; | ||
Masukkan nilai ponsel X, Y secara langsung, dan komputer mengontrol posisi platform bergerak secara otomatis. | ||
Sistem Kontrol Elektronik | pengontrol pusat:Teknologi ARM 32-bit, RAM 16 M, ROM Flash 2M; | |
8, Kontrol / akurasi akuisisi:Gunakan dual 16 AD / DA diferensial sinkron hiperbarik independen memperbesar teknis,16-channel ganda 16-bit A / D; 12-channel 16-bit D / A; 4-channel dual 16-bit D / A Amplifikasi fase-terkunci digital terintegrasi dan teknologi sintesis frekuensi digital langsung; | ||
| 9, mode Umpan Balik:Umpan balik digital 8 saluran + Umpan balik Simulasi NC; | ||
10, unit tegangan tinggi:Ketika menambahkan ±300V Tegangan riak kebisingan hanya 1.5mV;4-channel ganda 16-bit D / A memberikan tegangan kontrol dalam tiga arah XYZ, Dapat diperluas ke 8-channel; | ||
11, Memindai sudut:Dapat menyesuaikan dari -180 ° hingga + 180 ° terus menerus; | ||
| 12, Antarmuka antara komputer dan pengontrolUSB2.0; | ||
13, Arus terowongan:1pA hingga 50nA; | ||
| 14, Sistem penginderaan suhu dan kelembaban:dengan monitor lingkungan waktu nyata dan fitur tampilan Presisi Suhu 0,1 ° C Kelembaban 0,5 RH. | ||
| Sistem perangkat lunak | 15, Antarmuka gambar empat jendela,Dapat secara bersamaan mengamati empat pencitraan saluran data yang berbeda secara bersamaan, gambar dan semua parameter lingkungan kerja saat ini dipulihkan secara bersamaan; | |
16, Sistem menghafal cerdas dan fungsi otodidak:Setelah satu parameter bervariasi, parameter yang relevan berdasarkan pengalaman sistem akan disesuaikan secara otomatis ke cakupan terbaik tanpa gangguan manual; | ||
17, Koreksi nonlinier keramik piezoelektrik online, Koreksi pemasangan permukaan melengkung, koreksi kemiringan sampel, hasil pengukuran akhir: Non-linier <1%,Ortogonalitas kurang dari 1%. Selain itu, kami juga mempertimbangkan kecepatan pemindaian pada dampak non-linearitas; | ||
18, fungsi analisis profil sewenang-wenang:Dapat mengatur kurva secara sewenang-wenang pada gambar, dapatkan gambar profil kurva ini; | ||
19, Perangkat lunak pengolah gambar:tampilan gambar tiga dimensi Pemfilteran gambar Modifikasi gambar Peningkatan tepi, Pemrosesan Morfologi, Variasi format gambar Transformasi geometris gambar, Set palet dll; | ||
20, perangkat lunak analisis data:Analisis kekasaran Analisis ukuran partikel Analisis Profil Analisis ketebalan film, Statistik Tanggal, analisis gesekan, Analisis dan perbandingan Bantalan, Analisis dan perbandingan spektrum daya, Autokorelasi / analisis korelasi silang, Fungsi penambahan dan pengurangan dari gambar, Berbagai statistik kurva / analisis dll; | ||
21, Template pengembangan perangkat lunak:User-friendly untuk pengembangan kedua, penyelesaian fungsi pemrosesan data khusus; | ||
22, paket layanan perangkat lunak:fungsi perangkat lunak yang tidak relevan dengan perangkat keras dapat menikmati layanan peningkatan gratis seumur hidup; | ||
23, Mendukung teknologi pengunduhan firmware jarak jauh,Dapat langsung mengunduh dan meningkatkan kode di perangkat elektronik yang dapat diprogram; | ||
24, perangkat lunak kendali jarak jauh:Dukungan untuk kontrol jaringan jarak jauh. Pemasok dapat mengontrol peralatan dari jarak jauh di tempat yang berbeda, melakukan perawatan jarak jauh, pelatihan jarak jauh, layanan eksperimental jarak jauh, dan sebagainya. | ||
Modul Fungsi Opsional | Nomor barang | |
Selain itu, ada beberapa modul fungsi lain yang tersedia untuk dipilih, seperti mikroskop gaya gesekan, mikroskop gaya magnet, mikroskop gaya elektrostatik, mikroskop gaya atom konduktif, mikroskop gaya atom cair, mikroskop probe kelvin pemindaian, mikroskop kapasitansi pemindaian, platform pemanas sampel, Perangkat umpan balik paksa. Berikut ini adalah pengenalan singkat modul dan harganya, Jika perlu, bebas memilih! | ||
| Mikroskop gaya gesekan | Mode pemindaian asli terus mengubah tekanan positif, mode pemindaian dikotomisasi asli. Dapat secara kuantitatif mengevaluasi sifat tribologis bahan film tipis di bawah beban yang sangat ringan (10-7~10-9 N), dan mengukur koefisien gesekan mikro. Dapat secara akurat memposisikan sudut antara ujung kantilever dan arah pemindaian; Dapat sekaligus mengukur perubahan gaya lateral Dalam pengukuran FZ. | A62.4701-1 |
| Mikroskop gaya magnet | Mampu memperoleh gambar struktur permukaan sampel dan struktur domain magnetik yang sesuai pada skala nano, resolusinya adalah 50nm,dan akan diverifikasi oleh struktur domain magnetik Hard drive atau DV. | A62.4701-2 |
| Mikroskop gaya elektrostatik | Mampu mendapatkan gambar struktur permukaan sampel dan distribusi medan listrik yang sesuai pada skala nano | A62.4701-3 |
| Mikroskop kekuatan atom konduktif | Mampu mendapatkan gambar struktur permukaan sampel dan gambar saat ini yang sesuai pada skala nano. Dapat memperoleh informasi kurva IV dan sebagainya melalui modulasi tegangan bias. | A62.4701-4 |
| Mikroskop kekuatan atom cair | Mengonfigurasi perangkat probe lingkungan cair dan rak probe intelijen cair untuk mencapai fungsi mikroskop kekuatan atom cair. Hanya perlu memasukkan rak probe intelijen cair, sistem dapat secara otomatis mengidentifikasi jenis probe yang ada, dan perangkat lunak dan perangkat keras akan secara otomatis beralih ke mode kerja yang sesuai tanpa gangguan manual. | A62.4701-5 |
| Pemindaian mikroskop probe Kelvin | Memaksakan dua jenis tegangan DC dan AC antara ujung dan sampel, menggunakan teknologi Lock-amplification bisa mendapatkan perubahan fungsi kerja permukaan sampel dan gambar struktur permukaan sampel. | A62.4701-6 |
| Mikroskop kapasitansi pemindaian | Menggunakan teknik modulasi tegangan untuk mendeteksi perubahan kecil kapasitansi permukaan sampel. | A62.4701-7 |
| Platform pemanas sampel | Dapat mengontrol suhu sampel dari suhu kamar hingga 150 , dan presisi 0,5 . Desain unik dari sistem pendingin sampel dapat membuat kontrol suhu lebih cepat dan akurat. Diameter tahap sampel adalah 30mm. Memilih bahan paduan koefisien suhu rendah, dan desain insulasi, dapat membatasi pengaruh fenomena drift pada kualitas pencitraan. | A62.471-8 |
| Perangkat umpan balik kekuatan | Alat yang secara intuitif dapat merasakan gaya interaksi antara ujung dan sampel selama operasi SPM. Perangkat umpan balik gaya dapat langsung memetakan pN ke kekuatan kelas nN, dan gerakan kelas nano ke mikro ke ruang fisik yang dapat dirasakan, disentuh, dan dimanipulasi. Anda dapat merasakan adhesi, reuni, daya tarik, dan pengecualian antara partikel nano, dapat merasakan obdurabilitas serat Nano dan adsorpsi spiral DNA, Anda juga dapat memindahkan, memanipulasi, menumpuk, dan memesan sampel berbagai sedimen permukaan. | A62.4701-9 |
Bahasa indonesia
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
dansk
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk

Huang Xin