Ikke bare kan karakterisere prøvens overflatestruktur og egenskap, men kan også oppdage prøvens indre struktur og egenskap på nanoskala under overflaten;

Skanningssystem

1, Standard funksjonsmoduler：Skannetunnelmikroskop(STM),Atomic Force Mikroskop(AFM) som inkluderer kontakt, skyve, banking, fase og heve-modus, nanomillefunksjon, tykkelse(film)/høyde(trinn)-målingsfunksjon, nanoposisjoneringsteknologi (CCD+ Høypresisjon XY-prøvebevegelsesplattform + adaptiv skanner med stort utvalg);

2, Superkurvemålingsmodus：Kan sette opp hele AD som Y-signal, alt DA som X-signal, for eksempel IV-kurve, IZ-kurve, Kraft - avstandskurven, Amplitude - avstandskurven, Frekvens - fasekurve, Fase - avstandskurven og frekvens - amplitudekurve;

3, tykkelse(film)/høyde(trinn) måling funksjon：Imiter profesjonelt trinnmåleinstrument, kan oppnå filmtykkelse / trinnhøydemåling raskt og enkelt;

4, nanomillefunksjon：Etsemønstre (Elektrisitetsetsing/ Kraftetsing), Etsespor (Vektoretsing/ Grafikksetsing);

5, skannerserie（XYZ）:50 μm * 50 μm * 8 μm. Vi tilbyr utelukkende en skanner med 50 mikron rekkevidde som kan oppnå atomskala oppløsning ved å bruke en enkelt skanner (unik kjerneteknologi). (hvis Kan velge å matche skanneren på 100 μm * 100 μm * 8 μm hvis du trenger ）;

6, oppløsningen til 50/100μ skanneren：
STM：0.1nm XY-akser; 0,01nm Z-akse，Verifisert av HOPG；
Kontaktmodus AFM：0,2nm XY-akser; 0,03nm Z-akse，Verifisert av Mica-gitter；
Tapping Mode AFM：0.2nm XY-akser; 0,1nm Z-akse，Verifisert av DNA；
SPAM: ＜10nm.

7, Eksempel på plattformstørrelse：Diameter≤Φ70mm, Tykkelse≤30mm.;

Høypresisjon XY-prøvebevegelsesplattform: XY-prøvebevegelsesplattformen med høy presisjon styres automatisk av datamaskinen, og plattformen kan enkelt og nøyaktig plassere det testede området av prøven til undersiden av sonden!
Bevegelsesområdet: 5 mm × 5 mm, den bevegelige presisjonen: 50 nm, Hele posisjoneringsprosessen overvåkes med CCD, for å beskytte systemsikkerheten, mens den kontrollerer prøvenes nøyaktige posisjonering.

Skriv inn mobilverdien til X, Y direkte, og datamaskinen kontrollerer den bevegelige plattformposisjonen automatisk.

8, kontroll / oppkjøp nøyaktighet：Bruk dobbel 16 AD / DA differensial synkron uavhengig hyperbarisk forstørre teknisk, 16-kanals dobbel 16-bit A / D; 12-kanals 16-bits D/A; 4-kanals dobbel 16-bits D/A ， Integrert digital faselåst forsterkning og teknologi for direkte digital frekvenssyntese；

10, Høyspentenhet：Når du legger til ±300V spenning, er krusningsstøyen bare 1,5mV; 4-kanals dobbel 16-bits D/A gir kontrollspenningen i tre retninger av XYZ, Kan utvides til 8-kanals;

11, Skannevinkel：Kan justeres fra -180° til +180° kontinuerlig;

13, Tunnelstrømmen：1 pA til 50 nA;

15, fire-vindus bildegrensesnitt,Kan samtidig observere fire forskjellige datakanaler avbildning samtidig, bildet og alle gjeldende arbeidsmiljøparametere gjenopprettes samtidig;

16, System intelligent memorering og selvlært funksjon：Når én parameter varierer, vil de relevante parameterne på grunnlag av systemerfaring justeres automatisk til det beste omfanget uten manuell interferens;

17, On-line piezoelektrisk keramisk ikke-lineær korreksjon, Korreksjon av buet overflatetilpasning, korrigering av prøvetupp-tilt, det endelige måleresultatet: Ikke-linearitet <1 %，Ortogonalitet mindre enn 1 %. Dessuten vurderer vi også skannehastigheten på virkningen av ikke-linearitet;

18, vilkårlig profilanalysefunksjon：Kan sette kurve vilkårlig i bildet, få denne kurvens profilbilde;

19, bildebehandlingsprogramvare:tredimensjonal bildevisning ， Bildefiltrering ， Bildemodifisering ， Kantforbedring, Morfologibehandling, Bildeformatvariasjon ， Bildegeometriske transformasjoner, Palettsett etc;

20, Dataanalyseprogramvare：Grovhetsanalyse，Partikkelstørrelsesanalyse，Profilanalyse，Filmens tykkelsesanalyse,Datostatistikk, friksjonsanalyse, Analysen og sammenligningen av lageret, Analysen og sammenligningen av effektspekteret, Autokorrelasjon / krysskorrelasjonsanalyse, Addisjons- og subtraksjonsfunksjonen av bildet, Ulike kurvestatistikk / analyse etc;

21, Mal for programvareutvikling：Brukervennlig for den andre utviklingen, fullføringen av en spesiell databehandling funksjoner;

22, Programvareservicepakke：programvarefunksjoner som er irrelevante for maskinvare kan nyte gratis oppgraderingstjeneste for livet;

23, Støtt ekstern fastvarenedlastingsteknologi,Kan direkte laste ned og oppgradere koden i de programmerbare elektroniske enhetene;
Fjernkontrollprogramvare: Støtte for ekstern nettverkskontroll. Leverandører kan fjernstyre utstyret på forskjellige steder, utføre fjernvedlikehold, fjernopplæring, ekstern eksperimentell service og så videre.

24, Fjernkontrollprogramvare：Støtte for ekstern nettverkskontroll. Leverandører kan fjernstyre utstyret på forskjellige steder, utføre fjernvedlikehold, fjernopplæring, ekstern eksperimentell service og så videre.

I tillegg er det flere andre funksjonsmoduler tilgjengelig for valg, for eksempel friksjonskraftmikroskop, magnetisk kraftmikroskop, elektrostatisk kraftmikroskop, ledende atomkraftmikroskop, flytende atomkraftmikroskop, skanning Kelvin-sondemikroskop, skanningskapasitansmikroskop, prøvevarmeplattform, Tving tilbakemeldingsenhet. Følgende er modulen kort introduksjon og prisen, Om nødvendig, stå fritt til å velge!

I stand til å oppnå prøvens overflatestrukturbilde og dens tilsvarende magnetiske domenestruktur på nanoskala, er oppløsningen 50nm, og vil verifiseres av den magnetiske domenestrukturen til harddisken eller DV.

Kan kontrollere prøvens temperatur fra romtemperatur til 150 ℃, og presisjonen er 0,5 ℃. Den unike utformingen av prøvens kjølesystem kan gjøre temperaturkontrollen raskere og mer nøyaktig. Diameteren på prøvetrinnet er 30 mm. Å velge legeringsmaterialet med lav temperaturkoeffisient og isolasjonsdesignet kan begrense driftfenomenets innflytelse på bildekvaliteten.