Kann nicht nur die Oberflächenstruktur und -eigenschaft der Probe charakterisieren, sondern auch die innere Struktur und Eigenschaft der Probe im Nanomaßstab unter der Oberfläche erkennen;

Scansystem

1, Standardfunktionsmodule：Rastertunnelmikroskop(STM),Rasterkraftmikroskop(AFM), die Kontakt-, Gleit-, Klopf-, Phasen- und Erhöhungsmodus, Nanomilling-Funktion, Dicken- (Film) / Höhen- (Schritt-) Messfunktion, Nano-Positionierungstechnologie (CCD + hochpräzise XY-Probenbewegungsplattform + adaptiver Scanner mit großer Reichweite) umfassen;

2, Superkurvenmessmodus：Kann alle AD als Y-Signal, alle DA als X-Signal einrichten, wie IV-Kurve, IZ-Kurve, Kraft - die Entfernungskurve, Amplitude - die Entfernungskurve, Frequenz - Phasenkurve, Phase - die Entfernungskurve und Frequenz - Amplitudenverlauf;

3, Messfunktion Dicke (Film) / Höhe (Schritt).：Imitieren Sie ein professionelles Stufenmessgerät, um die Messung der Filmdicke / Stufenhöhe schnell und einfach zu erreichen.

4, Nanomilling-Funktion：Ätzmuster (Elektrizitätsätzung/Kraftätzung), Ätzspur (Vektorätzung/Grafikätzung);

5, Scannerreichweite（XYZ）：50 μm * 50 μm * 8 μm. Wir bieten exklusiv einen 50-Mikrometer-Scanner an, der mit einem einzigen Scanner (einzigartige Kerntechnologie) eine atomare Auflösung erreichen kann ）;

6, die Entschließung des Scanners 50/100μ：
STM: 0,1 nm XY-Achsen; 0,01 nm Z-Achse，Verifiziert von HOPG；
AFM im Kontaktmodus: 0,2 nm XY-Achsen; 0,03 nm Z-Achse，Verifiziert durch Mica-Gitter；
Tapping-Modus AFM: 0,2 nm XY-Achsen; 0,1 nm Z-Achse，Verifiziert durch DNA；
SPAM：＜10nm.

7, Größe der Beispielplattform：Durchmesser ≤ 70 mm, Dicke ≤ 30 mm.;

Hochpräzise XY-Probenbewegungsplattform: Die hochpräzise XY-Probenbewegungsplattform wird automatisch vom Computer gesteuert, und die Plattform kann den getesteten Bereich der Probe einfach und genau unter der Sonde positionieren!
Der Bewegungsbereich: 5 mm × 5 mm, die Bewegungspräzision: 50 nm. Der gesamte Positionierungsprozess wird zum Schutz der Systemsicherheit mit CCD überwacht, während die genaue Positionierung der Proben kontrolliert wird.

Geben Sie den mobilen Wert von X, Y direkt ein, und der Computer steuert die Position der beweglichen Plattform automatisch.

8, Kontroll-/Erfassungsgenauigkeit：Verwenden Sie Dual-16-AD / DA-Differential-Synchron-unabhängige hyperbare Vergrößerungstechnik, 16-Kanal-Dual-16-Bit-A / D; 12-Kanal 16-Bit-D / A; 4-Kanal-Dual-16-Bit-D / A ，Integrierte digitale phasenstarre Verstärkung und direkte digitale Frequenzsynthesetechnologie；

10, Hochspannungseinheit：Wenn eine Spannung von ±300 V hinzugefügt wird, beträgt das Brummrauschen nur 1,5 mV; 4-Kanal-Dual-16-Bit-D / A liefert die Steuerspannung in drei Richtungen von XYZ, kann auf 8 Kanäle erweitert werden;

11, Scanwinkel：Kann stufenlos von -180° bis +180° eingestellt werden;

13, Der Tunnelstrom：1 pA bis 50 nA;

15, Vier-Fenster-Bildschnittstelle,Kann gleichzeitig vier verschiedene Datenkanäle gleichzeitig beobachten, das Bild und alle Parameter der aktuellen Arbeitsumgebung werden gleichzeitig wiederhergestellt;

16, systemintelligente Auswendiglernen und autodidaktische Funktion：Sobald sich ein Parameter ändert, werden die relevanten Parameter auf der Grundlage von Systemerfahrungen automatisch ohne manuelles Eingreifen auf den besten Umfang angepasst;

17, Nichtlineare Online-Korrektur aus piezoelektrischer Keramik, Anpassungskorrektur für gekrümmte Oberflächen, Probenspitzen-Neigungskorrektur, das endgültige Messergebnis: Nichtlinearität <1%, Orthogonalität weniger als 1%. Darüber hinaus berücksichtigen wir auch die Scangeschwindigkeit auf den Einfluss der Nichtlinearität;

18, Willkürliche Profilanalysefunktion：Kann Kurve beliebig im Bild setzen, Profilbild dieser Kurve abrufen;

19, Bildverarbeitungssoftware:dreidimensionale Bildanzeige, Bildfilterung, Bildmodifikation, Kantenverbesserung, Morphologieverarbeitung, Bildformatvariation, geometrische Bildtransformationen, Palettensatz usw.;

20, Datenanalysesoftware：Rauheitsanalyse, Partikelgrößenanalyse, Profilanalyse, Analyse der Filmdicke, Datumsstatistik, Reibungsanalyse, Analyse und Vergleich des Lagers, Analyse und Vergleich des Leistungsspektrums, Autokorrelations-/Kreuzkorrelationsanalyse, Additions- und Subtraktionsfunktion des Bildes, Diverse Kurvenstatistiken / Analysen etc;

21, Softwareentwicklungsvorlage：Benutzerfreundlich für die zweite Entwicklung, die Fertigstellung einer speziellen Datenverarbeitungsfunktionen;

22, Software-Servicepack：Softwarefunktionen, die für die Hardware irrelevant sind, können lebenslang einen kostenlosen Upgrade-Service genießen;

23, Unterstützung der Remote-Firmware-Download-Technologie,Kann den Code in den programmierbaren elektronischen Geräten direkt herunterladen und aktualisieren;
Fernsteuerungssoftware: Unterstützung für Fernsteuerung über das Netzwerk. Lieferanten können die Geräte an verschiedenen Orten fernsteuern, Fernwartung, Fernschulung, Fernversuchsservice usw. durchführen.

24, Fernbedienungssoftware：Unterstützung für Remote-Netzwerksteuerung. Lieferanten können die Geräte an verschiedenen Orten fernsteuern, Fernwartung, Fernschulung, Fernversuchsservice usw. durchführen.

Darüber hinaus stehen mehrere andere Funktionsmodule zur Auswahl, wie z. Force-Feedback-Gerät. Im Folgenden sind das Modul kurze Einführung und der Preis, ggf. frei wählbar!

In der Lage, das Oberflächenstrukturbild der Probe und die entsprechende magnetische Domänenstruktur im Nanomaßstab zu erhalten, beträgt die Auflösung 50 nm und wird durch die magnetische Domänenstruktur der Festplatte oder des DV verifiziert.

Kann die Temperatur der Probe von Raumtemperatur bis 150 ℃ steuern, und die Genauigkeit beträgt 0,5 ℃. Das einzigartige Design des Kühlsystems der Probe kann die Temperaturregelung schneller und genauer machen. Der Durchmesser des Probentischs beträgt 30 mm. Die Auswahl des Legierungsmaterials mit niedrigem Temperaturkoeffizienten und die Gestaltung der Isolierung können die Einflüsse des Driftphänomens auf die Bildqualität einschränken.