Non solo è in grado di caratterizzare la struttura e le proprietà della superficie del campione, ma può anche rilevare la struttura e le proprietà interne del campione su scala nanometrica al di sotto della superficie;

Sistema di scansione

1, Moduli funzione standard：Microscopio a scansione di tunneling(STM),Microscopio a forza atomica(AFM) che includono la modalità di contatto, scorrimento, maschiatura, fase e aumento, funzione di nanofresatura, funzione di misurazione dello spessore (film)/altezza (passo), tecnologia di posizionamento nano (CCD + piattaforma mobile per campioni XY ad alta precisione + scanner adattivo ad ampia gamma);

2, modalità di misurazione Super curva：Può impostare tutto l'AD come segnale Y, tutto il DA come segnale X, come la curva IV, la curva IZ, la forza - la curva della distanza, l'ampiezza - la curva della distanza, la frequenza - la curva di fase, la fase - la curva della distanza e la frequenza - curva di ampiezza;

3, funzione di misurazione dello spessore (pellicola)/altezza (passo).：Imita lo strumento di misurazione del passo professionale, può ottenere la misurazione dello spessore del film/altezza del passo in modo rapido e semplice;

4, funzione di nanofresatura：Modelli di incisione（Incisione elettrica/Incisione forzata），Traccia di incisione（Incisione vettoriale/Incisione grafica）;

5, portata dello scanner（XYZ）：50 μm * 50 μm * 8 μm. Forniamo esclusivamente uno scanner da 50 micron in grado di ottenere una risoluzione su scala atomica utilizzando un singolo scanner (tecnologia core unica). (se è possibile scegliere di abbinare lo scanner di 100 μm * 100 μm * 8 μm se necessario). ）;

6, La risoluzione dello scanner 50/100μ：
STM: assi XY da 0,1 nm; Asse Z 0,01 nm ， Verificato da HOPG ；
Modalità contatto AFM: assi XY 0,2 nm; Asse Z 0,03 nm ， Verificato da reticolo Mica ；
Modalità di maschiatura AFM: assi XY da 0,2 nm; Asse Z 0,1 nm ， Verificato da DNA ；
SPAM：＜10nm.

7, dimensione della piattaforma del campione：Diametro≤Φ70mm, Spessore≤30mm.;

Piattaforma mobile per campioni XY ad alta precisione: la piattaforma mobile per campioni XY ad alta precisione è controllata automaticamente dal computer e la piattaforma può posizionare la regione testata del campione nella parte inferiore della sonda in modo semplice e preciso!
La gamma di movimento: 5 mm × 5 mm, la precisione di movimento: 50 nm, l'intero processo di posizionamento è monitorato con CCD, a protezione della sicurezza del sistema, mentre controlla il posizionamento preciso dei campioni.

Immettere direttamente il valore mobile di X, Y e il computer controlla automaticamente la posizione della piattaforma mobile.

8, Precisione di controllo/acquisizione：Usa dual 16 AD / DA differenziale iperbarico sincrono indipendente ingrandisci tecnica, 16 canali dual 16-bit A / D; D/A a 12 canali a 16 bit; D/A dual 16-bit a 4 canali ， Amplificazione digitale ad aggancio di fase integrata e tecnologia di sintesi della frequenza digitale diretta ；

10, Unità ad alta tensione：Quando si aggiunge una tensione di ±300 V, il rumore di ripple è di soli 1,5 mV; il doppio D / A a 16 bit a 4 canali fornisce la tensione di controllo in tre direzioni di XYZ, può essere espanso a 8 canali;

11, Angolo di scansione：Può regolare da -180° a +180° in continuo;

13, La corrente di galleria：da 1 pA a 50 nA;

15, interfaccia immagine a quattro finestre,Può osservare contemporaneamente quattro diversi canali di dati di imaging contemporaneamente, l'immagine e tutti i parametri dell'ambiente di lavoro corrente vengono ripristinati contemporaneamente;

16, memorizzazione intelligente del sistema e funzione autodidatta：Una volta che un parametro varia, i parametri rilevanti verranno regolati automaticamente sulla base dell'esperienza del sistema al miglior scopo senza interferenze manuali;

17, Correzione non lineare ceramica piezoelettrica in linea, Correzione dell'adattamento della superficie curva, correzione dell'inclinazione della punta del campione, risultato finale della misurazione: non linearità <1%, ortogonalità inferiore all'1%. Inoltre, si considera anche la velocità di scansione sull'impatto della non linearità;

18, Funzione di analisi del profilo arbitrario：Può impostare la curva in modo arbitrario nell'immagine, ottenere l'immagine del profilo di questa curva;

19, Software di elaborazione delle immagini:visualizzazione tridimensionale dell'immagine, filtraggio dell'immagine, modifica dell'immagine, miglioramento dei bordi, elaborazione della morfologia, variazione del formato dell'immagine, trasformazioni geometriche dell'immagine, set di tavolozze, ecc;

20, Software di analisi dei dati：L'analisi della rugosità, l'analisi della dimensione delle particelle, l'analisi del profilo, l'analisi dello spessore del film, le statistiche della data, l'analisi dell'attrito, l'analisi e il confronto del cuscinetto, l'analisi e il confronto dello spettro di potenza, l'analisi di autocorrelazione/correlazione incrociata, la funzione di addizione e sottrazione dell'immagine, statistiche/analisi di varie curve, ecc.;

21, Modello di sviluppo software：Facile da usare per il secondo sviluppo, il completamento di speciali funzioni di elaborazione dati;

22, Pacchetto di servizi software：le funzioni software irrilevanti per l'hardware possono usufruire del servizio di aggiornamento gratuito per tutta la vita;

23, supporta la tecnologia di download del firmware remoto,Può scaricare e aggiornare direttamente il codice nei dispositivi elettronici programmabili;
Software di controllo remoto: supporto per il controllo remoto della rete. I fornitori possono controllare a distanza le apparecchiature in luoghi diversi, fare manutenzione a distanza, formazione a distanza, servizio sperimentale a distanza e così via.

24, Software di controllo remoto：Supporto per il controllo remoto della rete. I fornitori possono controllare a distanza le apparecchiature in luoghi diversi, fare manutenzione a distanza, formazione a distanza, servizio sperimentale a distanza e così via.

Inoltre, sono disponibili molti altri moduli funzione tra cui scegliere, come microscopio a forza di attrito, microscopio a forza magnetica, microscopio a forza elettrostatica, microscopio a forza atomica conduttivo, microscopio a forza atomica liquida, microscopio a sonda Kelvin a scansione, microscopio a capacità di scansione, piattaforma di riscaldamento del campione, Dispositivo di feedback forzato. Di seguito sono riportate la breve introduzione del modulo e il prezzo, se necessario, sii libero di scegliere!

In grado di ottenere l'immagine della struttura superficiale del campione e la sua corrispondente struttura del dominio magnetico su scala nanometrica, la risoluzione è di 50 nm, e sarà verificata dalla struttura del dominio magnetico del disco rigido o DV.

Può controllare la temperatura del campione dalla temperatura ambiente a 150 ℃ e la precisione è di 0,5 ℃. Il design unico del sistema di raffreddamento del campione può rendere il controllo della temperatura più rapido e preciso. Il diametro della fase di campionamento è di 30 mm. La scelta del materiale in lega a basso coefficiente di temperatura e la progettazione dell'isolamento possono limitare le influenze del fenomeno della deriva sulla qualità dell'immagine.