Inte bara kan karakterisera provets ytstruktur och egenskaper, utan kan också detektera provets inre struktur och egenskaper i nanoskala under ytan;

Skanningssystem

1, Standardfunktionsmoduler：Skannande tunnelmikroskop(STM),Atomic Force Mikroskop(AFM) som inkluderar kontakt, glidning, tappning, fas- och höjningsläge, nanofräsfunktion, tjockleks(film)/höjd(steg) mätningsfunktion, nanopositioneringsteknik (CCD+ Högprecisions XY-provrörlig plattform + adaptiv skanner med stort utbud);

2, Superkurvmätningsläge：Kan ställa in hela AD som Y-signal, all DA som X-signal, såsom IV-kurva, IZ-kurva, Kraft - avståndskurvan, Amplitud - avståndskurvan, Frekvens - faskurva, Fas - avståndskurvan och Frekvens - amplitudkurva;

3, tjocklek (film)/höjd (steg) mätningsfunktion：Imitera professionellt stegmätinstrument, kan snabbt och enkelt uppnå filmtjocklek/steghöjdmätning;

4, Nanomilling funktion：Etsningsmönster (Elektricitetsetsning/ Kraftetsning), Etsningsspår (Vektoretsning/ Grafiketsning);

5, Scanner sortiment（XYZ）:50 μm * 50 μm * 8 μm. Vi tillhandahåller exklusivt en skanner med 50 mikron räckvidd som kan uppnå atomisk upplösning genom att använda en enda skanner (unik kärnteknologi). (om kan välja att matcha skannern på 100 μm * 100 μm * 8 μm om du behöver ）;

6, upplösningen för 50/100μ skannern：
STM：0.1nm XY-axlar; 0,01nm Z-axel，Verifierad av HOPG；
Kontaktläge AFM：0.2nm XY-axlar; 0,03nm Z-axel，Verifierad av Mica-gitter；
Tapping Mode AFM：0.2nm XY-axlar; 0,1nm Z-axel，Verifierad av DNA；
SPAM: ＜10nm.

7, Exempel på plattformsstorlek：Diameter≤Φ70mm, Tjocklek≤30mm.;

XY-provrörsplattform med hög precision: Den rörliga plattformen för XY-prov med hög precision styrs automatiskt av datorn, och plattformen kan enkelt och exakt placera den testade delen av provet under sonden!
Rörelseområdet: 5 mm × 5 mm, rörelseprecisionen: 50 nm, Hela positioneringsprocessen övervakas med CCD, för att skydda systemets säkerhet, samtidigt som provets exakta positionering kontrolleras.

Mata in det mobila värdet för X, Y direkt, så styr datorn den rörliga plattformens position automatiskt.

8, kontroll / förvärv noggrannhet：Använd dubbel 16 AD / DA differentiell synkron oberoende hyperbarisk förstoring teknisk, 16-kanals dubbel 16-bitars A/D; 12-kanals 16-bitars D/A; 4-kanals dubbel 16-bitars D/A ，Integrerad digital faslåst förstärkning och direkt digital frekvenssyntesteknik；

10, Högspänningsenhet：När man lägger till ±300V spänning är rippelbruset bara 1,5mV; 4-kanals dubbel 16-bitars D/A ger styrspänningen i tre riktningar av XYZ, Kan utökas till 8-kanals;

11, Skanna vinkel：Kan justeras från -180° till +180° kontinuerligt;

13, Tunnelströmmen：1 pA till 50 nA;

15, bildgränssnitt med fyra fönster,Kan samtidigt observera fyra olika datakanaler avbildning samtidigt, bilden och alla aktuella arbetsmiljöparametrar återställs samtidigt;

16, System intelligent memorering och självlärd funktion：När väl en parameter varierar kommer de relevanta parametrarna på basis av systemerfarenhet att justeras automatiskt till bästa omfattning utan manuell störning;

17, On-line piezoelektrisk keramisk olinjär korrigering, Korrigering av krökt yta, korrigering av provets lutning, det slutliga mätresultatet: Icke-linjäritet <1%，Ortogonalitet mindre än 1%. Dessutom överväger vi också skanningshastigheten på effekten av icke-linjäritet;

18, godtycklig profilanalysfunktion：Kan ställa in kurvan godtyckligt i bilden, få denna kurvas profilbild;

19, bildbehandlingsprogram:tredimensionell bildvisning, Bildfiltrering, Bildmodifiering, Kantförbättring, Morfologibehandling, Bildformatvariation, Bildgeometriska transformationer, Palettuppsättning etc;

20, Programvara för dataanalys：Grovhetsanalys，Partikelstorleksanalys，Profilanalys，Filmens tjockleksanalys,Datumstatistik, friktionsanalys, Analysen och jämförelsen av lagret, Analysen och jämförelsen av effektspektrumet, Autokorrelations-/korskorrelationsanalys, Adderings- och subtraktionsfunktionen av bilden, Olika kurvstatistik/analys etc;

21, mall för mjukvaruutveckling：Användarvänlig för den andra utvecklingen, slutförandet av en speciell databehandlingsfunktioner;

22, Programvaruservicepaket：mjukvarufunktioner som är irrelevanta för hårdvara kan njuta av gratis uppgraderingstjänst hela livet;

23, Stöd för nedladdningsteknik för fjärransluten firmware,Kan direkt ladda ner och uppgradera koden i de programmerbara elektroniska enheterna;
Programvara för fjärrkontroll: Stöd för fjärrstyrning av nätverk. Leverantörer kan fjärrstyra utrustningen på olika ställen, göra fjärrunderhåll, distansutbildning, fjärrexperimentservice och så vidare.

24, programvara för fjärrkontroll：Stöd för fjärrstyrning av nätverk. Leverantörer kan fjärrstyra utrustningen på olika ställen, göra fjärrunderhåll, distansutbildning, fjärrexperimentservice och så vidare.

Dessutom finns det flera andra funktionsmoduler tillgängliga att välja på, såsom friktionskraftsmikroskop, magnetiskt kraftmikroskop, elektrostatiskt kraftmikroskop, konduktivt atomkraftsmikroskop, flytande atomkraftsmikroskop, skanning Kelvin-sondmikroskop, skanningskapacitansmikroskop, provuppvärmningsplattform, Force feedback-enhet. Följande är modulens korta introduktion och priset, Om det behövs, var fri att välja!

Kan erhålla provets ytstrukturbild och dess motsvarande magnetiska domänstruktur i nanoskala, upplösningen är 50nm, och kommer att verifieras av den magnetiska domänstrukturen på hårddisken eller DV.

Kan styra provets temperatur från rumstemperatur till 150 ℃, och precisionen är 0,5 ℃. Den unika designen av provets kylsystem kan göra temperaturkontrollen snabbare och mer exakt. Diametern på provsteget är 30 mm. Att välja legeringsmaterialet med låg temperaturkoefficient och isoleringsdesignen kan begränsa driftfenomenets inverkan på bildkvaliteten.