
Тодорхойлолт | A62.4701 Сканнерийн датчик микроскоп | |
|---|---|---|
| Онцлог |
| |
Сканнердах систем | 1, Стандарт функцийн модулиуд:Сканнердах туннелийн микроскоп(STM),Атомын хүчний микроскоп(AFM) контакт, гулсах, товших, фаз ба өргөх горим, Нано тээрэмдэх функц, Зузаан(кино)/Өндөр(Алхам) хэмжих функц, Нано байрлал тогтоох технологи (CCD+ Өндөр нарийвчлалтай XY дээжийг хөдөлгөх платформ + Том хүрээний дасан зохицох сканнер); | |
2, Супер муруй хэмжих горим:IV муруй, IZ муруй, Хүч - зайны муруй, далайц - зайны муруй, Давтамж - фазын муруй, үе шат - зайны муруй, давтамж гэх мэт бүх AD-ийг Y дохио, бүх DA-г X дохио болгон тохируулж болно. - далайцын муруй; | ||
3, Зузаан (кино) / Өндөр (Алхам) хэмжих функц:Мэргэжлийн шаталсан хэмжих хэрэгслийг дуурайж, хальсны зузаан / алхамын өндрийг хурдан, хялбараар хэмжих боломжтой; | ||
4, Нано тээрэмдэх функц:Сийлбэрийн хэв маяг(Цахилгаан сийлбэр/ Хүчээр сийлбэр), Сийлбэрийн зам(Вектор сийлбэр/ График сийлбэр); | ||
5, Сканнерийн хүрээ(XYZ):50μm*50μm *8μm. Бид зөвхөн нэг сканнер (өвөрмөц цөм технологи) ашиглан атомын хэмжээний нягтралд хүрэх боломжтой 50 микрон-н хүрээний сканнераар хангадаг.(Хэрэв танд хэрэгтэй бол 100μm *100μm *8μm сканнертай таарч тохирохыг сонгох боломжтой бол. ); | ||
6, 50/100μ сканнерын нягтрал: | ||
7, дээжийн платформын хэмжээ:Диаметр≤Φ70мм, Зузаан≤30мм.; | ||
| Нано байрлал тогтоох технологи | Өндөр нарийвчлалтай XY дээжийг хөдөлгөх платформ: Өндөр нарийвчлалтай XY дээжийг хөдөлгөх платформыг компьютер автоматаар удирддаг бөгөөд платформ нь дээжийн шалгасан хэсгийг датчикийн доод хэсэгт хялбар, үнэн зөв байрлуулах боломжтой! | |
| а.Хулганы тусламжтайгаар туршилтын бүсийг очих газар руу шууд чирж, компьютер нь хөдөлж буй платформыг автоматаар удирддаг; | ||
| б. Эхлэх цэгийг дур мэдэн тохируулах боломжтой ба буцах түлхүүр (компьютер хөдөлж буй платформыг буцаан эхлэх цэг рүү удирддаг) | ||
| в.Олон туршилтын бүсэд гарын үсэг зурж, байршлын замд код бичих боломжтой, компьютер нь бүх туршилтын бүс рүү автоматаар шилжихийн тулд хөдөлж буй платформыг удирддаг; | ||
X, Y-ийн гар утасны утгыг шууд оруулах ба компьютер хөдөлж буй платформын байрлалыг автоматаар удирддаг. | ||
Цахим хяналтын систем | төв хянагч:32 битийн ARM технологи, 16 М RAM, 2 М Flash ROM; | |
8, Хяналт / олж авах нарийвчлал:Хос 16 AD / DA дифференциал синхрон бие даасан гипербар томруулах техникийн, 16 суваг хос 16 бит A / D ашиглах; 12 суваг 16 бит D / A; 4 сувгийн хос 16 бит D / A ; Нэгдсэн дижитал фазын түгжигдсэн өсгөлт ба шууд дижитал давтамжийн синтезийн технологи; | ||
| 9, санал хүсэлтийн горим:8 сувгийн дижитал санал хүсэлт + NC Simulationfeedback; | ||
10, Өндөр хүчдэлийн нэгж:± 300 В хүчдэл нэмэх үед долгионы чимээ ердөө 1.5 мВ болно; 4 сувгийн хос 16 битийн D / A нь XYZ-ийн гурван чиглэлд хяналтын хүчдэлийг хангадаг. 8 суваг хүртэл өргөтгөх боломжтой; | ||
11, Скан хийх өнцөг:-180°-аас +180° хүртэл тасралтгүй тохируулах боломжтой; | ||
| 12, Компьютер болон хянагч хоорондын интерфейс:USB2.0; | ||
13, Хонгилын урсгал:1пА-аас 50нА хүртэл; | ||
| 14, Температур ба чийгшил мэдрэгч систем:Бодит цагийн орчны хяналт, дэлгэцийн онцлогтой,Нарийвчлал: Температур 0.1°C, Чийглэг 0.5%RH. | ||
| Програм хангамжийн систем | 15, Дөрвөн цонхны зургийн интерфейс,Дөрвөн өөр мэдээллийн сувгийн дүрслэлийг нэгэн зэрэг ажиглаж, зураг болон одоогийн ажлын орчны бүх параметрүүдийг нэгэн зэрэг сэргээдэг; | |
16, Системийн ухаалаг цээжлэх, өөрөө сургах функц:Нэг параметр өөрчлөгдвөл холбогдох параметрүүд нь системийн туршлагад тулгуурлан гарын авлагын хөндлөнгийн оролцоогүйгээр автоматаар хамгийн сайн хүрээнд тохируулагдана; | ||
17, Онлайн пьезоэлектрик керамик шугаман бус залруулга, Муруй гадаргуугийн тохируулга, дээжийн үзүүр хазайлтыг засах, хэмжилтийн эцсийн үр дүн: Шугаман бус байдал <1%,Ортогональ байдал 1%-аас бага. Түүнчлэн, шугаман бус байдлын нөлөөнд сканнердах хурдыг авч үздэг; | ||
18, Дурын профайлын шинжилгээний функц:Зурган дээр дур мэдэн муруй тохируулах боломжтой, энэ муруйны профайл зургийг авах; | ||
19, Зураг боловсруулах программ хангамж:гурван хэмжээст дүрс дэлгэц,Зургийн шүүлт,Зургийн өөрчлөлт,Замын сайжруулалт, Морфологийн боловсруулалт, Зургийн форматын өөрчлөлт,Зургийн геометрийн хувиргалт, Палетт багц гэх мэт; | ||
20, Өгөгдлийн шинжилгээний программ хангамж:Барзгаржилтын шинжилгээ,Бөөмийн хэмжээний шинжилгээ,Профайлын шинжилгээ,Хөлсний зузаанын шинжилгээ,Огнооны статистик, үрэлтийн шинжилгээ, Холхивчийн шинжилгээ ба харьцуулалт, Хүч чадлын спектрийн шинжилгээ ба харьцуулалт, Автокорреляцийн / хөндлөн корреляцийн шинжилгээ, Нэмэх, хасах функц зургийн, Төрөл бүрийн муруй статистик / шинжилгээ гэх мэт; | ||
21, Програм хангамж хөгжүүлэх загвар:Хэрэглэгчдэд ээлтэй хоёр дахь хөгжүүлэлт, тусгай өгөгдөл боловсруулах функцийг дуусгах; | ||
22, Програм хангамжийн үйлчилгээний багц:техник хангамжид хамааралгүй програм хангамжийн функцууд нь насан туршдаа үнэгүй шинэчлэх үйлчилгээг ашиглах боломжтой; | ||
23, Алсын програм хангамжийг татаж авах технологийг дэмжих,Програмчлагдсан электрон төхөөрөмжид кодыг шууд татаж авах, шинэчлэх боломжтой; | ||
24, Алсын удирдлагын программ хангамж:Сүлжээний алсын удирдлагад дэмжлэг үзүүлэх. Нийлүүлэгчид тоног төхөөрөмжийг өөр өөр газар алсаас хянах, алсын зайнаас засвар үйлчилгээ хийх, алсын зайн сургалт, алсын зайнаас туршилтын үйлчилгээ хийх гэх мэт боломжтой. | ||
Нэмэлт функциональ модулиуд | Барааны дугаар. | |
Нэмж дурдахад үрэлтийн хүчний микроскоп, соронзон хүчний микроскоп, цахилгаан статик хүчний микроскоп, дамжуулагч атомын хүчний микроскоп, шингэний атомын хүчний микроскоп, сканнерийн Кельвин датчик микроскоп, сканнерийн багтаамжийн микроскоп, дээж халаах платформ гэх мэт өөр хэд хэдэн функцын модулийг сонгох боломжтой. Хүчээр санал хүсэлт гаргах төхөөрөмж. Дараах нь модулийн товч танилцуулга ба үнэ юм. Шаардлагатай бол сонгох боломжтой! | ||
| Үрэлтийн хүчний микроскоп | Эерэг даралтыг үргэлжлүүлэн өөрчлөх анхны скан горим, анхны дихотомийн скан хийх горим. Маш бага ачаалалтай (10-7 ~ 10-9 Н) нимгэн хальсан материалын трибологийн шинж чанарыг тоон байдлаар үнэлж, микро үрэлтийн коэффициентийг хэмжиж чаддаг; Консолын үзүүр ба сканнерын чиглэлийн хоорондох өнцгийг зөв байрлуулж чаддаг; FZ хэмжилт дэх хажуугийн хүчний өөрчлөлтийг нэгэн зэрэг хэмжих боломжтой. | A62.4701-1 |
| Соронзон хүчний микроскоп | Дээжийн гадаргуугийн бүтцийн зураг болон түүнд харгалзах соронзон домэйны бүтцийг нано масштабаар авах боломжтой, нягтрал нь 50 нм бөгөөд хатуу диск эсвэл DV-ийн соронзон домайн бүтцээр баталгаажуулна. | A62.4701-2 |
| Электростатик хүчний микроскоп | Дээжийн гадаргуугийн бүтцийн зураг, түүнд харгалзах цахилгаан талбайн тархалтыг нано масштабаар авах боломжтой | A62.4701-3 |
| Дамжуулагч атомын хүчний микроскоп | Дээжийн гадаргуугийн бүтцийн зураг болон түүнд харгалзах одоогийн зургийг нано масштабаар авах боломжтой. Хэвийн хүчдэлийн модуляцаар IV муруй гэх мэт мэдээллийг авч болно. | A62.4701-4 |
| Шингэн атомын хүчний микроскоп | Шингэний атомын хүчний микроскопын функцэд хүрэхийн тулд шингэн орчны мэдрэгчийн төхөөрөмж болон шингэн тагнуулын датчикийн тавиурыг тохируулах. Шингэн тагнуулын датчикийн тавиурыг оруулахад л хангалттай бөгөөд систем нь одоогийн датчикийн төрлийг автоматаар тодорхойлох боломжтой бөгөөд программ хангамж, техник хангамж нь гарын авлагын хөндлөнгийн оролцоогүйгээр автоматаар ажлын горимд шилжих болно. | A62.4701-5 |
| Сканнерийн Келвин датчик микроскоп | Үзүүр ба дээжийн хооронд тогтмол ба хувьсах гүйдлийн хоёр төрлийн хүчдэлийг түгжих-олшруулах технологийг ашиглан дээжийн гадаргуугийн ажлын функц болон дээжийн гадаргуугийн бүтцийн дүр төрхийг өөрчлөх боломжтой. | A62.4701-6 |
| Сканнерийн багтаамжийн микроскоп | Дээжийн гадаргуугийн багтаамжийн бага зэргийн өөрчлөлтийг илрүүлэхийн тулд хүчдэлийн модуляцын техникийг ашиглах. | A62.4701-7 |
| Халаалтын тавцангийн дээж | Дээжний температурыг өрөөний температураас 150 ℃ хүртэл хянах боломжтой бөгөөд нарийвчлал нь 0.5 ℃ байна. Дээжийн хөргөлтийн системийн өвөрмөц дизайн нь температурын хяналтыг илүү хурдан бөгөөд нарийвчлалтай болгож чадна. Дээж авах шатны диаметр нь 30 мм байна. Бага температурын коэффициент бүхий хайлш материалыг сонгох, дулаалгын дизайн хийх нь дүрсний чанарт шилжих үзэгдлийн нөлөөллийг хязгаарлаж чадна. | A62.4701-8 |
| Хүчээр хариу өгөх төхөөрөмж | SPM үйл ажиллагааны явцад үзүүр ба дээж хоорондын харилцан үйлчлэлийн хүчийг зөн совингоор мэдрэх хэрэгсэл. Хүчний санал хүсэлтийн төхөөрөмж нь pN-ийг nN ангиллын хүч рүү, нано- микро ангиллын хөдөлгөөнийг мэдрэх, хүрч, удирдах боломжтой физик орон зайд шууд буулгаж чаддаг. Та нано бөөмс хоорондын наалдац, нэгдэл, таталцал, тусгаарлалтыг мэдэрч, нано эслэгийн тэсвэрлэх чадвар, ДНХ-ийн спираль шингээлтийг мэдэрч, дээжийг хөдөлгөж, удирдаж, хуримтлуулж, захиалж болно. янз бүрийн гадаргуугийн хурдас. | A62.4701-9 |
Монгол хэл
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
dansk
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk

Huang Xin