
Specifikation | A62.4701 Scanning Probe Mikroskop | |
|---|---|---|
| Feature |
| |
Scanning system | 1, Standard funktionsmoduler:Scanning Tunneling Mikroskop(STM),Atomic Force Mikroskop(AFM) som omfatter kontakt, glidning, bankning, fase- og hævetilstand, nanomillefunktion, tykkelse(film)/højde(trin)målingsfunktion, nanopositioneringsteknologi(CCD+ Højpræcisions XY prøve bevægende platform + stort udvalg adaptiv-scanner); | |
2, Superkurvemålingstilstand:Kan opsætte hele AD som Y-signal, alt DA som X-signal, såsom IV-kurve, IZ-kurve, Force - afstandskurven, Amplitude - afstandskurven, Frekvens - fasekurve, Fase - afstandskurven og frekvens - amplitudekurve; | ||
3, tykkelse (film)/højde (trin) måling funktion:Efterlign professionelt trinmåleinstrument, kan opnå filmtykkelse/trinhøjdemåling hurtigt og nemt; | ||
4, Nanofræsningsfunktion:Ætsningsmønstre (Elektricitetsætsning/ Kraftætsning), Ætsningsspor (Vektorætsning/ Grafikætsning); | ||
5, Scanner rækkevidde(XYZ):50 μm * 50 μm * 8 μm. Vi leverer udelukkende en scanner med 50 mikron rækkevidde, som kan opnå opløsning i atomskala ved at bruge en enkelt scanner (unik kerneteknologi). (hvis Kan vælge at matche scanneren på 100 μm * 100 μm * 8 μm, hvis du har brug for ); | ||
6, Opløsningen af 50/100μ scanneren: | ||
7, prøveplatformstørrelse:Diameter≤Φ70mm, Tykkelse≤30mm.; | ||
| Nano-positioneringsteknologi | Høj præcision XY prøve bevægende platform: Høj præcision XY prøve bevægelige platform styres automatisk af computeren, og platformen kan placere det testede område af prøven til undersiden af sonden nemt og præcist! | |
| en.Brug af musen til at trække testzonen direkte til destinationen, og computeren styrer den bevægelige platforms bevægelse automatisk; | ||
| b. Kan indstille startpunktet vilkårligt, og en nøgle til at returnere (computeren styrer den bevægelige platform for at vende tilbage til udgangspunktet) | ||
| c.Kan underskrive mange testzoner og skrive kode til positioneringsstien, computeren styrer den bevægelige platform til automatisk at flytte til alle testzonerne; | ||
Indtast den mobile værdi af X, Y direkte, og computeren styrer den bevægelige platforms position automatisk. | ||
Elektronisk kontrolsystem | centercontrolleren:32-bit ARM-teknologi, 16 M RAM, 2 M Flash ROM; | |
8, kontrol / erhvervelse nøjagtighed:Brug dobbelt 16 AD / DA differentiel synkron uafhængig hyperbarisk forstørrelse teknisk, 16-kanals dobbelt 16-bit A / D; 12-kanals 16-bit D/A; 4-kanals dobbelt 16-bit D/A ,Integreret digital faselåst forstærkning og direkte digital frekvenssynteseteknologi; | ||
| 9, feedback-tilstand:8-kanals digital feedback + NC-simuleringsfeedback; | ||
10, Højspændingsenhed:Når der tilføjes ±300V spænding, er bølgestøjen kun 1,5mV; 4-kanals dobbelt 16-bit D/A giver styrespændingen i tre retninger af XYZ, Kan udvides til 8-kanals; | ||
11, Scanningsvinkel:Kan justeres fra -180° til +180° kontinuerligt; | ||
| 12, Grænsefladerne mellem computere og controllere :USB2.0; | ||
13, Tunnelstrømmen:1 pA til 50 nA; | ||
| 14, Temperatur- og fugtsensorsystem:med miljømonitor og displayfunktioner i realtid, Præcision: Temperatur 0,1°C, Luftfugtighed 0,5%RH. | ||
| Software system | 15, fire-vindus billedgrænseflade,Kan samtidig observere fire forskellige datakanalers billeddannelse samtidigt, billedet og alle de aktuelle arbejdsmiljøparametre gendannes samtidigt; | |
16, System intelligent huske og selvlært funktion:Når én parameter varierer, vil de relevante parametre på basis af systemerfaring automatisk blive justeret til det bedste omfang uden manuel indblanding; | ||
17, On-line piezoelektrisk keramisk ikke-lineær korrektion, Korrektion af buet overfladetilpasning, korrektion af prøvespidshældning, det endelige måleresultat: Ikke-linearitet <1 %,Ortogonalitet mindre end 1 %. Desuden overvejer vi også scanningshastigheden på virkningen af ikke-linearitet; | ||
18, vilkårlig profilanalysefunktion:Kan indstille kurve vilkårligt i billedet, få denne kurves profilbillede; | ||
19, billedbehandlingssoftware:tredimensionel billedvisning, Billedfiltrering, Billedmodifikation, Kantforbedring, Morfologibehandling, Billedformatvariation, Billedgeometriske transformationer, Palettesæt osv.; | ||
20, Dataanalysesoftware:Ruhedsanalyse,Partikelstørrelsesanalyse,Profilanalyse,Filmens tykkelsesanalyse,Datostatistik, friktionsanalyse, Analysen og sammenligningen af lejet, Analysen og sammenligningen af effektspektret, Autokorrelations-/krydskorrelationsanalysen, additions- og subtraktionsfunktionen af billedet, Forskellige kurvestatistikker / analyser osv.; | ||
21, Softwareudviklingsskabelon:Brugervenlig for den anden udvikling, færdiggørelsen af en særlig databehandling funktioner; | ||
22, Softwareservicepakke:softwarefunktioner, der er irrelevante for hardware, kan nyde gratis opgraderingsservice for livet; | ||
23, Understøtter fjernteknologien til download af firmware,Kan direkte downloade og opgradere koden i de programmerbare elektroniske enheder; | ||
24, Fjernbetjeningssoftware:Understøttelse af fjernstyring af netværk. Leverandører kan fjernstyre udstyret forskellige steder, udføre fjernvedligeholdelse, fjerntræning, fjerneksperimentel service og så videre. | ||
Valgfri funktionsmoduler | Varenr. | |
Derudover er der flere andre funktionsmoduler tilgængelige for valg, såsom friktionskraftmikroskop, magnetisk kraftmikroskop, elektrostatisk kraftmikroskop, ledende atomkraftmikroskop, flydende atomkraftmikroskop, scanning Kelvin probe mikroskop, scanning kapacitans mikroskop, prøveopvarmningsplatform, Force feedback-enhed. Følgende er modulet kort introduktion og prisen, Hvis det er nødvendigt, kan du frit vælge! | ||
| Friktionskraften Mikroskop | Den originale scanningstilstand fortsætter med at ændre det positive tryk, den originale dikotomiserer scanningstilstand. Kan kvantitativt evaluere de tribologiske egenskaber af tyndfilmsmaterialer under meget let belastning (10-7~10-9 N) og måle mikrofriktionskoefficient; Kan nøjagtigt placere vinklen mellem udkragningsspidsen og scanningsretningen; Kan samtidig måle ændringen af sidekraften i FZ-målingerne. | A62.4701-1 |
| Det magnetiske kraftmikroskop | I stand til at opnå prøvens overfladestrukturbillede og dens tilsvarende magnetiske domænestruktur på nanoskala, opløsningen er 50nm, og vil verificeres af den magnetiske domænestruktur på harddisken eller DV. | A62.4701-2 |
| Det elektrostatiske kraftmikroskop | I stand til at opnå prøvens overfladestrukturbillede og dens tilsvarende elektriske feltfordeling på nanoskala | A62.4701-3 |
| Det ledende atomkraftmikroskop | I stand til at opnå prøvens overfladestrukturbillede og dets tilsvarende nuværende billede på nano-skalaen. Kan opnå IV-kurveinformation og så videre gennem biasspændingsmodulationen. | A62.4701-4 |
| Det flydende atomkraftmikroskop | Konfiguration af den flydende miljøsondeanordning og den flydende intelligensprobehylde for at opnå funktionen af det flydende atomkraftmikroskop. Behøver kun at indsætte probehylden for flydende intelligens, systemet kan automatisk identificere den aktuelle sondetype, og software og hardware skifter automatisk til den tilsvarende arbejdstilstand uden manuel interferens. | A62.4701-5 |
| Det scannende Kelvin-probemikroskop | Ved at pålægge to typer spænding af DC og AC mellem spidsen og prøven, ved hjælp af Lock-amplification-teknologien kan du få ændringen af prøvens overfladearbejdsfunktion og prøvens overfladestrukturbillede. | A62.4701-6 |
| Scanning kapacitans mikroskop | Brug af spændingsmodulationsteknik til at detektere små ændringer i prøvens overfladekapacitans. | A62.4701-7 |
| Prøveopvarmningsplatformen | Kan styre prøvens temperatur fra stuetemperatur til 150 ℃, og præcisionen er 0,5 ℃. Det unikke design af prøvens kølesystem kan gøre temperaturkontrollen hurtigere og mere præcis. Diameteren af prøvetrinnet er 30 mm. Valg af legeringsmateriale med lav temperaturkoefficient og isoleringsdesign kan begrænse driftfænomenets indflydelse på billedkvaliteten. | A62.4701-8 |
| Force feedback-enheden | Et værktøj, der intuitivt kan mærke interaktionskraften mellem spidsen og prøven i løbet af SPM-operationen. Kraftfeedback-enheden kan direkte kortlægge pN til nN-klassens effekt, og nano-til mikroklassens bevægelse til et fysisk rum, som kan mærkes, røres og manipuleres. Du kan mærke adhæsionen, genforeningen, tiltrækningen og udelukkelsen mellem nanopartikler, kan mærke uholdbarheden af nanofiberen og spiraladsorptionen af DNA'et, du kan også flytte, manipulere, akkumulere og bestille prøvens forskellige overfladesedimenter. | A62.4701-9 |
dansk
English
Pусский
Français
Español
Portugues
Deutsch
lingua italiana
العربية
Melayu
Filipino
Монгол хэл
Bahasa indonesia
日本語
한국어
Türk dili
Tiếng Việt
svenska
Nederlands
Norsk språk

Huang Xin