Bukan sahaja boleh mencirikan struktur dan sifat permukaan sampel, tetapi juga boleh mengesan struktur dan sifat dalaman sampel pada skala nano di bawah permukaan;

Sistem pengimbasan

1, modul fungsi standard：Mengimbas Mikroskop Terowong(STM),Mikroskop Daya Atom(AFM) yang termasuk mod sentuhan, gelongsor, ketik, fasa dan naikkan, fungsi Pengilangan Nano, Fungsi pengukuran Ketebalan(filem)/Ketinggian(Langkah), Teknologi penentududukan Nano（CCD+ Platform bergerak sampel XY berketepatan tinggi + Pengimbas adaptif julat besar）;

2, mod ukuran lengkung super：Boleh menyediakan semua AD sebagai isyarat Y, semua DA sebagai isyarat X, seperti lengkung IV, lengkung IZ, Daya - lengkung jarak, Amplitud - lengkung jarak, Frekuensi - lengkung fasa, Fasa - lengkung jarak dan Frekuensi - lengkung amplitud;

3, fungsi pengukuran Ketebalan (filem)/Ketinggian (Langkah).：Tiru alat pengukur langkah profesional, boleh mencapai ketebalan filem/pengukuran ketinggian langkah dengan cepat dan mudah;

4, fungsi pengilangan nano：Corak goresan（Gresan elektrik/Gresan paksa），Trek goresan（Gresan vektor/Gresan grafik）;

5, Julat pengimbas（XYZ）：50μm*50μm *8μm.Kami menyediakan secara eksklusif pengimbas julat 50 mikron yang boleh mencapai resolusi skala atom dengan menggunakan satu pengimbas tunggal (teknologi teras unik).（jika Boleh memilih yang sepadan dengan pengimbas 100μm *100μm *8μm jika anda perlukan ）;

6, Resolusi pengimbas 50/100μ：
STM：0.1nm paksi XY; Paksi Z 0.01nm，Disahkan oleh HOPG；
Mod Kenalan AFM：0.2nm paksi XY; Paksi Z 0.03nm，Disahkan oleh kekisi Mica；
Mod Mengetik AFM：0.2nm paksi XY; Paksi Z 0.1nm，Disahkan oleh DNA；
SPAM：＜10nm.

7, Saiz platform sampel：Diameter≤Φ70mmm, Thickness≤30mm.;

Platform bergerak sampel XY berketepatan tinggi：Platform bergerak sampel XY berketepatan tinggi dikawal oleh komputer secara automatik，dan platform boleh meletakkan kawasan sampel yang diuji ke bahagian bawah probe dengan mudah dan tepat!
Julat bergerak：5mm×5mm, ketepatan bergerak：50nm，Seluruh proses penentududukan dipantau dengan CCD, dalam perlindungan keselamatan sistem, sambil mengawal kedudukan tepat sampel.

Masukkan nilai mudah alih X, Y secara langsung dan komputer mengawal kedudukan platform bergerak secara automatik.

8, Kawalan / ketepatan pemerolehan：Gunakan dwi 16 AD / DA pembezaan segerak bebas hiperbarik besarkan teknikal，16-saluran dwi 16-bit A / D; 12-saluran 16-bit D / A; 4-saluran dwi 16-bit D / A ，Penguatan terkunci fasa digital bersepadu dan teknologi sintesis frekuensi digital terus；

10, Unit voltan tinggi：Apabila menambah Voltan ±300V, bunyi riak hanyalah 1.5mV; 4-saluran dwi 16-bit D / A menyediakan voltan kawalan dalam tiga arah XYZ , Boleh dikembangkan kepada 8 saluran;

11, Sudut imbasan：Boleh melaraskan dari -180° hingga +180° secara berterusan;

13, Arus terowong：1pA hingga 50nA;

15, antara muka imej empat tetingkap,Secara serentak boleh memerhati empat saluran data yang berbeza pengimejan secara serentak, imej dan semua parameter persekitaran kerja semasa dipulihkan secara serentak;

16, Sistem hafalan pintar dan fungsi belajar sendiri：Sebaik sahaja satu parameter berubah, parameter yang berkaitan akan berdasarkan pengalaman sistem dilaraskan secara automatik kepada skop terbaik tanpa gangguan manual;

17, pembetulan tak linear seramik piezoelektrik dalam talian, Pembetulan pemasangan permukaan melengkung, pembetulan tip-condong sampel, hasil pengukuran akhir: Tidak lineariti <1%，Orthogonaliti kurang daripada 1%. Selain itu, kami juga mempertimbangkan kelajuan pengimbasan pada kesan bukan lineariti;

18, Fungsi analisis profil sewenang-wenangnya：Boleh set lengkung sewenang-wenangnya dalam imej, dapatkan imej profil lengkung ini;

19, Perisian pemprosesan imej:paparan imej tiga dimensi，Penapisan imej，Pengubahsuaian imej，Peningkatan tepi, Pemprosesan Morfologi, Variasi format imej，Transformasi geometri imej, Set palet dsb;

20, perisian analisis data：Analisis kekasaran，Analisis saiz zarah，Analisis Profil，Analisis ketebalan filem, Perangkaan Tarikh, analisis geseran, Analisis dan perbandingan Bearing, Analisis dan perbandingan spektrum kuasa, Autokorelasi / analisis korelasi silang, Fungsi penambahan dan penolakan imej, Pelbagai statistik / analisis lengkung dll;

21, templat pembangunan perisian：Mesra pengguna untuk pembangunan kedua, penyiapan fungsi pemprosesan data khas;

22, Pek perkhidmatan perisian：fungsi perisian yang tidak berkaitan dengan perkakasan boleh menikmati perkhidmatan naik taraf percuma seumur hidup;

23, Menyokong teknologi muat turun perisian tegar jauh,Boleh terus memuat turun dan menaik taraf kod dalam peranti elektronik boleh atur cara;
Perisian kawalan jauh：Sokongan untuk kawalan rangkaian jauh. Pembekal boleh mengawal peralatan dari jauh di tempat yang berbeza, melakukan penyelenggaraan jauh, latihan jauh, perkhidmatan eksperimen jauh dan sebagainya.

24, Perisian kawalan jauh：Sokongan untuk kawalan rangkaian jauh. Pembekal boleh mengawal peralatan dari jauh di tempat yang berbeza, melakukan penyelenggaraan jauh, latihan jauh, perkhidmatan eksperimen jauh dan sebagainya.

Di samping itu, terdapat beberapa modul fungsi lain yang tersedia untuk dipilih, seperti Mikroskop daya geseran, Mikroskop daya magnet, Mikroskop daya elektrostatik, Mikroskop daya atom konduktif, Mikroskop daya atom cecair, Mengimbas mikroskop probe Kelvin, Mengimbas mikroskop kapasitans, Platform pemanasan sampel, Paksa peranti maklum balas. Berikut adalah pengenalan ringkas modul dan harga, Jika perlu, bebas untuk memilih!

Dapat memperoleh imej struktur permukaan sampel dan struktur domain magnetiknya yang sepadan pada skala nano, resolusinya ialah 50nm，dan akan disahkan oleh struktur domain magnetik Pemacu Keras atau DV.

Boleh mengawal suhu sampel dari suhu bilik hingga 150 ℃, dan ketepatannya ialah 0.5 ℃. Reka bentuk unik sistem penyejukan sampel boleh menjadikan kawalan suhu lebih cepat dan tepat. Diameter peringkat sampel ialah 30mm. Memilih bahan aloi pekali suhu rendah, dan reka bentuk penebat, boleh mengekang pengaruh fenomena hanyut ke atas kualiti pengimejan.